NoC边界扫描测试系统硬件设计

为了解决内部结构日益复杂的片上网络系统故障测试的问题,在研究3×3 2D-Mesh体系结构的NoC系统、边界扫描测试技术和资源节点故障类型的基础上,以FPGA为核心器件设计边界扫描测试系统。完成了数据采集、频率计、放大器、SRAM、IEEE1500 Wrapper等资源节点电路以及资源节点边界扫描链路的接口电路设计,并利用测试软件、信号发生器、万用表和数字示波器,通过边界扫描链路完成对整个硬件设计的测试。测试结果表明该设计性能稳定,为研究NoC系统的边界扫描测试技术提供了硬件平台。     

边界扫描在带DSP芯片数字电路板测试中的应用

为了解决带DSP（数字信号处理器）芯片数字电路板中部分非边界扫描器件的功能测试难题,采用了边界扫描测试技术与传统的外部输入矢量测试相结合的方法,对一块带有DSP芯片数字电路板中的非边界扫描器件进行了功能测试。测试结果表明,该测试方法能够对这部分器件进行有效的故障检测和故障隔离,并可将故障隔离到芯片。充分说明这种应用边界扫描技术与传统测试方法相结合的功能测试方法能够有效地解决带DSP芯片数字电路板中部分非边界扫描器件的功能测试问题。     

在设计中使用边界扫描

大多数电子工程师都了解边界扫描(边界扫描有时也称为JTAG、Scan和B-Scan),但可能许多人在设计中并没有使用这种用途广泛的测试技术.边界扫描也称为IEEE1149,它可提供许多好处,远远不止是测试印刷电路板(PCB)上的导线连接状态.设计人员现在利用边界扫描技术来初始化内建自测试(BIST)操作、编程闪存器件、检查模拟器件以及测试高速串行路径.     

科利登SZ M3650系统得到汽车半导体厂商的青睐

科利登系统公司(Credence)宣布AMI半导体公司(AMIS)已经购买了多部SZM3650高速混合信号测试系统。AMIS是特殊应用集成电路(ASIC)设计和制造的佼佼者,此次将利用这些SZM3650系统进行多种汽车类器件、工业类和外围器件的测试。AMIS一直致力于开发应用于汽车、医疗和工业市场的ASIC器件。在汽车类器件市场上,AMIS开发了用于精确控制的ASIC器件,例如控制气动踏板和刹车的传感器以及安全气囊工作的控制器。汽车工业有严格的质量标准要求制造商们利用的综合测试系统在维持最适宜的测试成本的同时提供高精度测试的能力。SZM3650系…     

边界扫描测试技术的原理及其应用

边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法，他提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案，极大地方便了系统电路的测试。自从1990年2月JTAG与TEEE标准化委员会合作提出了“标准测试访问通道与边界扫描结构”的IEEE1149．1—1990标准以后，边界扫描技术得到了迅速发展和应用。利用这种技术，不仅能测试集成电路芯片输入／输出管脚的状态，而且能够测试芯片内部工作情况以及直至引线级的断路和短路故障。对芯片管脚的测试可以提供100％的故障覆盖率，且能实现高精度的故障定位。同时，大大减少了产品的测试时间，缩短了产品的设计和开发周期。边界扫描技术克服了传统针床测试技术的缺点，而且测试费用也相对较低。这在可靠性要求高、排除故障要求时间短的场合非常适用。特别是在武器装备的系统内置测试和维护测试中具有很好的应用前景。本文介绍了边界扫描技术的含义、原理、结构，讨论了边界扫描技术的具体应用。     

用边界扫描技术解决复杂电路板的测试问题

边界扫描技术通过电路板的边缘引线,就能测试和诊断电路板的制造性故障与器件的内部逻辑。这种技术特别适用于测试采用SMT电装技术和某些大规模ASIC芯片的复杂电路板。     

IEEE 1149.1b边界扫描器件描述语言

1 引言随着可测性技术的发展,越来越多的电子产品都开始采用边界扫描设计,在设计这些支持边界扫描的新产品时,会面临一个问题:如何描述这些边界扫描器件?本文介绍了边界扫描描述语言(BSDL),它是VHSIC硬件描述语言(IEEE Std 1076—1987 VHDL)的一个子语言。遵从两条原则:一是对用户友好;二是对计算机来讲简单、无二义性。     

边界扫描与电路板测试技术

本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用，介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点。     

边界扫描板级链路测试性设计方法研究

边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法.但是在扫描链路的设计中如何将不同厂家、不同型号、不同工作电压的BS器件实现JTAG互连,如何将边界扫描测试、在线编程和在线仿真结合起来一直是一个亟待解决的问题.为解决上述问题,本文提出了两种基于边界扫描技术的板级动态链路设计方法.这种可测性设计技术不仅能完成边界扫描测试,还能完成在线编程或在线仿真等功能,具有很好的测试设计灵活性.     

边界扫描技术在含DSP电路板测试与诊断的研究与应用

针对含DSP电路板的测试与诊断问题,本文提出一种利用边界扫描技术和传统的外部输入矢量测试相结合的方法,对含DSP电路板中的边界扫描器件的器件及非边界扫描器件进行了测试.测试结果表明:该测试方法对边界扫描器件及非边界扫描器件可进行有效的故障检测和故障隔离,并可将故障隔离至最小的测试单元.同时详细阐述了测试诊断方案、硬件设...     

CAD与CAT“连接”的试验

1 引言近年来,国际上微电子技术飞速发展,应用愈来愈广泛的专用电路(ASIC)在较短的时间内便可设计与制造出来。但是,往往由于不能快速完成测试而延长了生产周期,影响了参与市场竞争的能力。因此,在电子设计自动化(EDA)技术日趋完善的同时,发达国家正致力于测试问题的解决。除了研究采用边界扫描(Scan)技术,内建自测试(Built In Test)技术增加电路的可测性,采用自动测试图形生成技术(ATPG)加速超大规模集成电路功能测试码的     

基于边界扫描的板级动态扫描链路设计策略

边界扫描技术是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法。但是在扫描链路的设计中如何将不同厂家、不同型号、不同工作电压的Bs器件实现JTAG互连，如何将边界扫描测试、在线编程和在线仿真结合起来一直是一个亟待解决的问题。为了解决上述问题，文中提出了两种基于边界扫描技术的板级动态链路设计方法。该方法不仅能完成边界扫描测试，还能完成在线编程或在线仿真等功能，具有很好的测试设计灵活性。     

数字系统的边界扫描设计技术及应用

用边界扫描设计技术可大大改善数字系统的可测试性。本文就边界扫描芯片及应用进行了探讨。     

一种基于软件无线电技术的扩频通信系统

文章介绍了一种基于软件无线电技术的数字扩颊通信系统,包括扩频ASIC芯片的设计,发射机、接收机的设计等。着重描述了采用ESDA技术设计扩频ASIC信片的过程,给出了ASIC芯片的数学模型、仿真结果及系统性能分析。仿真及测试结果表明,该扩频通信系统具有较强的抗干扰能力。     

ASIC数据采集与处理的实现

介绍了数据采集的原理和ASIC的基本功能实现以及JTAG的边界扫描测试技术。该ASIC已经在各种控制外设中得到了广泛的应用。     

基于FPGA的边界扫描测试系统设计

随着集成电路技术的快速发展,传统的PCB电路板测试所采用探针的方法已经不现实,边界扫描技术解决了这一传统的PCB板测试的难题。本文设计的边界扫描测试系统可以实现对JTAG的访问以及完成对被测电路板器件IDCODE等方面的测试。实验结果表明,该系统测试方便,简单。     

基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现

９０年代发展起来的边界扫描测试技术的推广应用引起测试设备和测试系统的重大变革，边界扫描测试技术正日益成为超大规模集成电路的主流测试技术，介绍一个基于边界扫描技术的ＶＬＳＩ芯片测试系统的设计思想、体系结构及硬件、软件的实现。     

设计技术确保片上系统的可测性

传统测试方法难以测试片上系统(SOC),在片上系统中区分设计和测试是不可能的。对复杂数字和混合信号的器件,需及早采用设计工具将可测性融合在设计过程中。可以选择的有可测试设计(DFT)技术和内装自测试(BIST)技术。可测试设计确保片上系统中所有电路元件可被激励和被观察;BIST芯片可产生自身的测试激励,并测量相应的响应。因深知片上系统测试的重要     

激光直写系统在ASIC器件制作中的应用

激光直写系统是制作光刻掩模和ASIC器件的新型专用设备。微细加工光学技术国家重点实验室引进了男内第一台激光直写系统，利用这台系统，通过高精度激光束在光致抗蚀剂上扫描曝光，能够把设计图形直接转移到掩模版或芯片上，本文介绍激光直写系统在ASIC器件制作中的应用和具体工艺。     

PSoC混合信号阵列的新型开发工具PSoC Express

PSoC 可编程系统芯片(PSoC)广泛用于工业、汽车、通信、计算、消费类等领域.仅Cypress公司一家就售出近2000万片. PSoC器件是可配置混合信号阵列,它将1个8位微控制器与嵌入式设计中常见的许多外围部件集成在一起.PSoC器件提供ASIC的优点,但却没有典型的ASIC NRE或周转时间.单个PSoC器件能够集成多达100个外围部件的微控制器,从而节省了用户的设计时间,缩减了板级空间和功耗,并使系统成本下降.易用性开发工具使得设计人员能够选择可配置程序库元素来提供模拟功能(如放大器、A/D转换器、D/A转换器、滤波器、比较器)和数字功能(如定时器、计数器、PWM、SPI、UART).