光栅衍射缝间干涉因子次极大强度对称性的菲涅耳半波带法证明

本文用菲涅耳半波带法推导出了一个非常有用的次极大位置公式,将该位置公式和振幅矢量法求出的次极大位置结合起来,方便地求出了缝间干涉因子的次极大的强度,证明了缝向干涉因子的次极大强度具有对称性。避免了对振幅矢量法求次极大位置这个方程的直接求解,因为用该方法求出的次极大强度与理论值完全符合,说明菲涅耳半波带法不但可以用来分析单缝衍射,同时还完全能够用来分析光栅衍射。     

安古里淖沉积纹层的扫描电镜研究

纹层是指沉积物或沉积岩中可分辨的最小或最薄原始沉积层 ,是沉积层里的最小单位。纹层的形成大多与一年中季节变化有关 ,由沉积物物源的变化而形成。湖泊沉积尤其是内陆湖泊沉积在研究环境演变中扮演重要角色 ,通过研究纹层可以反演古环境和古气候的变化。本文应用扫描电镜对河北坝上安固里淖的沉积纹层进行了研究。1　实验方法在安古里淖湖心位置的冰面上打钻获取无扰动的沉积钻心。沿着钻心的纵剖面从顶端至底段 ,以 3～ 6ｃｍ为间距 ,水平切出 3ｍｍ厚的薄层 ,用树脂固定在玻片上。对整个钻心连续采样 ,待切片自然风干后 ,在细砂纸 (1 0…     

桔纹化涂装探讨

对桔纹化涂装进行了探讨,提出了桔纹化涂装机理及涂层形成时的影响因素,并找出了实现桔纹化涂装的途径。特别是对普通漆桔纹化涂装的探索,很有独到之处。     

改善波浪纹的液晶屏切割技术

通过对切割工艺进行实验设计,基于多刀头自动切割机的特点及同一刀头走形重复精度高且误差小的理论前提,使用同刀轮辅助裂片工艺进行研究。结果显示,在同刀轮辅助的裂片作用下,通过控制切割工艺,切割良率得到有效提升;通过调整辅助切割线的位置及切割压力,波浪纹的发生率得到有效控制。研究得出结论：1.在后切刀轮经过交叉点后,高速移动时直线性得不到保证,波浪纹可能发生;2.保证先切刀轮正常切割,降低后切刀轮的刀压及追加辅助切割线,可以降低交叉点对后切刀轮的不利影响;3.采用同一刀轮作为辅助刀轮,辅助裂片精度由0.5 mm大幅度提升到10μm以内,波浪纹不良率从0.1%降低到0.01%。     

耳纹图像特征的三维识别技术研究

为了提高对耳纹图像的三维识别能力,提出一种基于脊波变换的耳纹图像分块特征提取和三维识别技术。采用二维傅里叶变换方法进行耳纹图像的亚像素级特征分解,结合区域网格径向划分方法进行图像分割,对耳纹图像的子块像素点进行自适应融合滤波,实现图像降噪,使用脊波变换进行耳纹图像三维特征重构,使用多尺度Retinex信息增强方法输出图像的辨识特征点,实现耳纹图像三维识别。仿真结果表明,采用该算法进行耳纹图像特征识别的精度较高,图像输出质量较好。     

基于CCD激光衍射暗纹间距的精确测量算法研究

激光衍射测量技术对于测量微小尺寸的工件有很大优势,但是由于较高级次暗纹的光强较微弱,被中央明条纹光强所掩盖,以及散斑和CCD热噪声的影响,暗条纹中心距很难精确测量.将CCD视频信号先进行自适应滤波,消除噪声影响,再利用差分法和取平均值的方法找到暗点的粗略位置,进而用最小二乘法进行局部拟合,确定精确暗点位置.实验表明用改进方法处理暗条纹精度较高.     

夫朗和费衍射现象的矢量分析方法--相子扇形图示

介绍了一种解释夫朗和费衍射现象的矢量图示方法——相子扇形图示，通过分析矢量扇形分布的对称性和密集性，简单直观地说明了夫朗和费衍射图样主极大、次极大及极小的存在条件，同时根据矢量图示简化了强度分布公式的推导过程，并在图中找到公式中每个参量的确定几何意义。     

光栅衍射条纹的最小次极大强度研究

本文研究了光栅衍射条纹强度分布的次极大强度，并计算出最小次极大强度，得出最小次极大与光栅缝数无关的重要结论，计算结果与计算机仿真结果完全一致。     

电阻器激光刻螺线槽槽纹质量分析

本文从评价圆柱状金属膜电阻器激光刻螺线槽槽纹质量, 分析槽纹误差产生的原因, 影响因素及减小路径     

轴对称流场的彩色纹影密度场定量测量

实现定量测量是纹影技术发展的最新要求。制作一种彩色滤光片，代替传统Z字形纹影系统刀口，提出了一种能够定量测量轴对称流场密度场的纹影测量方法，提供了一种基于传统纹影装置的定性显示向定量测量探索的新途径。介绍了所提出的纹影定量测量方法的基本原理、标定方法和典型装置，以轴对称自由射流为研究对象，构建了典型的实验系统，并基于理论分析与数值模拟结果，对所获得的实验结果进行了对比。结果表明:所提出的彩色纹影定量测量方法适合于轴对称流场的密度场定量测量。     

光栅衍射条纹次极大强度研究

算出三缝到八缝光栅的各次极大衍射条纹次极大强度。发现单缝衍射因子对各次极大均有调制作用，但其单缝衍射强度的调制系统却不相同。     

光栅衍射条纹主极大强度研究

针对光栅衍射条纹强度分布的主极大强度进行研究，理论计算结果：主极大强度不是受一个单缝衍射强度调制，而是受缝数为N的光栅的N个单缝衍射强度调制。理论计算与计算机模拟结果完全一致。     

投影型莫尔法的成像理论研究

研究了基于莫尔条纹的三维轮廓测量技术的光学成像原理。以余弦光栅作为投影光栅和参考光栅,对投影型莫尔法从物理光学的角度进行了理论分析。采用菲涅耳衍射公式和傅里叶变换得出了输出面上的光场的理想计算公式。在计算机上采用描点法模拟出变形光栅的光强分布,该光强分布为余弦函数,与实验图片的结果一致,还得出了最终变形光栅像的光强分布。与从几何光学的角度分析结果相比,物理意义更明确。利用上述结果推导出了莫尔条纹的光强分布函数,同时也推出了高度和相位的关系。该结果为基于莫尔条纹的三维轮廓测量技术提供了理论基础。     

无掩膜激光辅助刻蚀GaAs图形中的衍射条纹分布

以菲涅耳直边衍射理论为基础,通过大量实验;对影响激光辅助化学刻蚀图形效果最为明显的直边、宽缝和交叉三种衍射行为进行研究;获得了光强分布与衍射腐蚀条纹分布的主要特性.实验表明,直边衍射的衍射腐蚀深度最大值位于直接照明区,微微偏离阴影边区域缝宽对宽缝衍射的腐蚀条纹特性有较大影响;交叉衍射时,受GaAS晶体取向影响,其刻蚀条纹分布不完全对称.     

双光栅成像中的汇合级光能量

从光传播基本理论和光栅衍射性质出发,研究了双光栅成像效应中的光能量传递,得到了确定汇合级光强的表达式.结合双光栅成像方程,分析了两光栅的衍射性质与成像位置对汇合级光能量的影响.分析表明汇合级光强与两光栅具体的衍射效率和双光栅成像时的位置密切相关.测量了三组不同类型双光栅成像系统的汇合级光能量,实验结果和理论分析基本一致.     

An analytic method for designing passband flattened DWDM demultiplexers using spatial phase modulation

An analytic method of spatial phase modulation based on Fourier analysis is introduced for the design of a planar waveguide demultiplexer with a flat-top spectral response. An analytic formula for an etched diffraction grating demultiplexer is derived using the scalar diffraction theory. The spatial phase modulation is realized by slightly adjusting each grating facet's position according to the analytic formula to obtain a spectral response with a flat top and sharp transitions as well as a good dispersion characteristic. The analytic formula is characterized by two parameters: a transverse shift distance and a profile exponent for the phase modulation. A linear relation between the passband width and the transverse shift distance is given, and an optimal figure of merit of the spectral response is obtained by choosing an appropriate profile exponent. A numerical example of a typical SiO/sub 2/ etched diffraction grating demultiplexer is used to demonstrate the advantages of this method.     

Raman-Nath衍射光强的研究

介绍了一种新的关于拉曼-内斯(Raman-Nath)衍射光强的推导方法。采用先推导超声光栅中一个栅缝的衍射光强,然后再考虑周期排列的N个缝的缝间干涉因子的思路,从而得到光强。该方法体现了周期性,得出了主极大的半角宽度,次级大的数目位置等性质,最后对这些性质的应用进行了探讨。     

一种快速光栅条纹中心亚像素坐标提取方法

光栅条纹中心的精确提取会直接影响到线结构光视觉的测量与重建精度。为了解决传统的Steger算法计算量大,且在光条不均匀时提取不精确等问题。基于改进的Steger算法,提出了针对光栅条纹中心的快速亚像素坐标提取方法。通过高斯滤波、形态学等方法得到去复杂背景的激光条纹图像,用自适应阈值法缩小ROI区域,用霍夫变化求取光栅边缘线,求出边缘线中点,然后直线拟合,最后用改进算法提取中心坐标。实验结果表明:与模板法、传统Steger算法等光栅条纹中心提取算法相比,算法的鲁棒性更强,最大提取误差在0.3个像素,平均误差为0.1个像素,平均运行时间相比传统算法减少0.4 s。