基于TDR的ADSL线缆测试仪设计

介绍一种基于时域脉冲反射(TDR)算法以及Xilinx的Spartan3AN系列FPGA芯片的ADSL线缆测试系统.系统通过USB接口与上位机相连,进行系统控制和TDR算法实现.文章首先阐述设计理论,然后介绍系统总体设计框图、数据处理流程以及系统实际测试结果.实验表明该测试仪能够快速准确测试出断点位置,精度可在±1%以内.     

PCB特性阻抗的控制

常规的PCB用在高速，高频信号时会发生阻抗匹配问题。本主要对一组专用特性阻抗控制中的印制线路进行设计、生产，测试和计算，通过结构设计，计算，生产加工和测试以及对影响结果的因素进行讨论，表明了合理的设计结构和完善的生产加工工艺相结合，加上良好的测试设备进行监控，完全可以生产出符合高传输性能要求的印制线路板。     

泰克推出20年来最重要的TDR测试技术成果

俄勒冈州比弗顿2006年10月2日——全球领先的测试、测量和监测仪器供应商泰克公司宣布推出新型DSA8200数字串行分析仪取样示波器、全新的远程取样电子模块和增强型IConnect软件，使其成为串行数据网络分忻应用的理想解决方案。全新TDR（时域反射技术）和电子模块是TDR测试技术20年来最重婴的成果，及时地解决了高速串行数据标准带来的更高要求和挑战。     

基于TDR技术的HDMI高速差分总线特性阻抗的测量

高清多媒体接口(HDMI)技术正在迅猛的增长,传输速率也越来越快,遇到的高速连接的挑战也越来越大。通过时域反射(TDR)技术对HDMI的高速差分总线进行特性阻抗测量,可以直接的测量和显示印刷电路板(PCB)走线以及连接器和线缆的阻抗连续性能,对于诊断和分析HDMI系统高速连接的可靠性和稳定性起到非常重要的作用。     

基于TDR的ADSL线缆断点测试仪设计

介绍一种基于时域脉冲回波（TDR）原理的ADSL线缆断点测试系统。该系统设计以STC单片机为控制核心,以FPGA为测试主体发射接收脉冲．采集脉冲往返线缆时间,实现ADSL线缆断点位置的测量。在分析现有测试产品的基础上,首先阐述设计理论。然后介绍系统总体设计框图、硬件实现、软件测试流程以及系统实际测试结果。实验结果表明该测试仪能够快速准确测试出断点位置,并且只需适当剪切,便可作为内嵌模块应用于其他仪表。     

基于TDR的ADSL线缆断点测试仪设计

介绍一种基于时域脉冲回波(TDR)原理的ADSL线缆断点测试系统.该系统设计以STC单片机为控制核心.以FPGA为测试主体发射接收脉冲,采集脉冲往返线缆时间,实现ADSL线缆断点位置的测量.在分析现有测试产品的基础上,首先阐述设计理论,然后介绍系统总体设计框图、硬件实现、软件测试流程以及系统实际测试结果.实验结果表明该测试仪能够快速准确测试出断点位置,并且只需适当剪切,便可作为内嵌模块应用于其他仪表.     

TDR：获得信号完整性的测量技术

时域反射可以帮助你完成电缆、连接器、高速PCB走线和高速封装的设计与查错工作。用TDR仪器可以确保穿越系统的高速数字信号实现完整性。模拟工程师与数字工程师都需要了解并使用这些技术。     

基于TDR测量和仿真的芯片封装建模方法

文中提出一种TDR时域测量和MMTL建模仿真相结合的建模方法,能精确地对芯片内部以及外部接口传输线建模.克服了芯片内部无法探测的问题,具有直观便于优化的特点,实验结果表明,这种建模方法可以通过不断修正和拟合的方法达到测量和仿真较高的吻合度.     

一种基于TDR测量的高速连接器的MMTL模型

该文提出了一种全新的高速连接器时域模型MMTL(Multi-segment Multiple Transmission Line model)。该模型克服了MLC模型不稳定和仿真效率低的缺点,具有直观、精度可控、便于优化等优点。实验结果表明,该文所建模型精度高,与实际测量的最大误差小。     

特性阻抗的模拟设计与测试

本文主要通过对不同尺寸阻抗试样及不同大小阻抗试样的阻抗测试TDR迹线的分析，对特性阻抗模拟设计试样的尺寸及阻抗大小与Polar CITS测试系统的测试区域的选取之间的关系进行阐述，以便为特性阻抗模拟试样的设计与测试提供参考。     

高精度TDR可调探头的研制及应用

概述印制板阻抗设计的重要意义,在此基础上阐述研制测试印制板阻抗的高精度TDR可调探头的目的和制作原理;并将此款可调探头与固定探头做测试对比、通过做MSA测试验证及与国外同类型的可调探头做测试对比,表明可调探头可满足印制板内真实阻抗线路的测量要求。     

应用倒谱域滤波的TDR波形分析

倒谱域滤波能够有效的滤除多次反射回波。该文将倒谱域滤波方法引入TDR(Time Domain Reflectometry)波形分析,通过将TDR波形在倒谱域内做滤波,滤除多次反射回波对时域波形的影响,进而快速准确测定脉冲在探头上传播时间,反演土壤表观介电常数。利用倒谱域滤波法测试结果与双切线法结果相比,具有更高的测试精度。     

不符合20H规则的阻抗线参考层设计对阻抗测量的影响

20 H规则作为PCB典型布线规则,随着传输信号工作频率逐步提高,其越来越被PCB设计人员采用以用来减少EMI问题。当然,PCB制造人员无法模拟20 H规则的EMI但须控制特性阻抗,故本文试图首次阐述20 H规则对特性阻抗控制的影响,并通过相关试验与量产过程进行证明。     

基于DDS和 FPGA的频率特性测试仪

针对传统频率特性测试仪价格昂贵、体积大、使用不方便等问题提出了基于DDS和FPGA的正弦信号频率特性测试仪。该测试仪由信号源模块、频率相位检测模块、数据处理与控制模块、显示模块4部分组成。该设计采用FPGA控制DDS芯片产生两路相互正交的信号,被测信号与之相乘,经滤波器后检测输出频率、幅度和相位,最后通过显示模块显示。实验结果证明,该频率特性测试仪设计正确可行,且硬件结构简单、体积小、重量轻,能广泛应用于正弦信号的测量,具有较高的应用价值。     

基于WinSock和多线程技术的高性能并行FDTD

并行计算为时域有限差分（FDTD）方法仿真电大尺寸和复杂结构提供了强大的计算能力和内存资源。文章针对多核PC集群系统,提出了一种高性能并行FDTD算法,它采用Windows Socket（WinSock）实现高效的进程间通信,同时采用多线程技术充分利用多核处理器资源。在集群系统上的实际测试表明：以10个处理器（30个核）为例,该算法获得的加速比为16.0,并行效率为53.3%,优于单独使用消息传递接口（MPI）以及MPI结合OpenMP的传统FDTD并行算法,后两者在相同测试条件下仅分别获得13.7,12.2的加速比和45.8%,40.7%的并行效率。     

基于DDS的频率特性测试仪

介绍了基于DDS设计的频率特性测试仪,整个系统以单片机为控制核心,实现了对被测网络频率特性的测量,用液晶显示器LCD显示幅频特性和相频特性曲线,同时还可打印频响曲线。     

基于DSP的低频频率特性测试仪

传统的频率特性测试仪不仅价格昂贵,且得不到相频特性,更不能保存频率特性图和打印频率特性图,也不能与计算机接口,给使用者带来了诸多不便.而本文采用DDS技术作为扫频信号源;同时采用了集成模拟芯片AD8302对幅度和相位进行检测,用DSP芯片TMS320VC5409和CPLD芯片EPM7128进行测量控制和数据处理,人机接...