表面电镀铜均匀性实验研究与改善

文章主要介绍通过实验分析,从数据中找出异常点,并制定相应方案,再通过实验验证,最终有效的改善了电镀均匀性的问题,为改善电镀均匀性提供了一些实用的参考方法。     

采用阳极屏蔽提高电镀厚度均匀性

在不改变电镀工艺参数及电镀设备的条件下,利用阳极屏蔽,提高印制板镀铜厚度均匀性。     

板面电镀线镀铜均匀性改善

印制电路板的制作过程中,电镀均匀性是检验镀层质量的一个重要指标,对生产而言,板面镀铜均匀性直接影响后续精细线路的制作与形成。现结合实战案例,对板面电镀均匀性改善进行分析和说明一些方法。     

光刻胶涂胶厚度均匀性影响因素探究

介绍了光刻胶涂胶过程中对涂胶厚度均匀性的影响因素及发生均匀性问题的成因。对光刻工艺和光刻胶进行概述,通过对光刻工艺和光刻胶的涂胶学习可发现随着光刻工艺的不断进步,对光刻胶涂胶胶厚均匀性要求也在不断地提升,在实际的生产过程中却经常会出现涂胶均匀性较差而无法满足工艺要求。重点针对光刻胶涂胶厚度均匀性影响因素进行探究,详细介绍了会对其产生影响的因素。通过有效地管控好这些影响因素能够确保涂胶厚度均匀性,提升曝光质量,从而推动光刻技术的发展。     

有关电镀均匀性问题

主要对电镀均匀性的影响因素进行了分析,并提出了一些改善建议及控制措施等,为改善电镀均匀性问题提供一定的参考。     

浅谈电镀厚金均匀性研究改善

电镀厚金工艺广泛应用于耐磨的接触类PCB产品中,如电池板的接触PAD,显卡＼网卡＼声卡等信号传输类卡板的接触手指这种工艺看似简单,实际控制起来还是比较难因为镀厚金不同于镀铜、镀锡、镀镍等工艺;若要达到品质要求,镀金层厚度必须达到客户要求,但是在均匀性未解决好的前提下,最低点金厚达到客户要求了,     

一种新型铜槽模型对电镀均匀性提升的研究

文章主要根据传统的电镀铜理论,建立了一个新型的镀铜槽模型,对阴极电流传输方式、阴极冷冻方式、夹具优化、阳极挡板调整、阴阳极之间的距离等方面进行优化,电流从整流机传输至飞巴顶部再均分至夹具的传输方式,电流分布尖端效应影响明显处进行挡板、打孔处理,优化了电力线的分布,达到了提高垂直电镀线电镀厚度均匀性目的;实验结果表明:整个飞巴的极差小于8.5mm,COV达到4.8%,效果显著。     

印制线路板电镀均匀性概述

电镀生产实践中,电镀均匀性是检验镀层质量的一个重要指标。本文总结归纳了对表面及孔内镀铜均匀性进行改善的一般性思路与方法,并结合应用实例进行了说明,以期对实际生产提供一定的借鉴与指导意义。     

LED背光源亮度均匀性改善方法

针对液晶显示器中直下式LED（1ight—emitting diode）背光源边缘亮度较低的问题,本文提出了一种LED非均匀排列提高背光源亮度均匀性的方法。在等间距排列的基础上,通过测量单颗LED的亮度分布函数,计算出水平和垂直方向上的LED不等间距排列距离,并对该距离进行优化调整。非均匀排列的LED背光源亮度均匀性仿真计算结果表明,背光源的全屏亮度均匀性可达到90％以上。     

SiGe HBT的Mextram 504模型温度参数提取与模型改进

针对IMEC 0.13μm准自对准SiGe BiCMOS工艺制成的基区Ge组分二阶分布结构SiGe异质结双极晶体管,在25～125℃温度范围内,对其进行了包括Early电压,Gummel图形等在内的完整双极晶体管特性曲线测量,提取了该器件在25～125℃范围内的温度可变Mextram 504模型参数.在此基础上,为Mextram 504模型对0.13μm基区Ge组分二阶分布SiGe异质结双极晶体管探索了完整的模型提取方案.提出了对Mextram 504模型温度参数提取方法的改进,优化了提取流程.对SiGe异质结双极晶体管雪崩电流受温度影响的特性进行了讨论,为Mextram模型提出了雪崩外延层的有效厚度的温度变化经验公式和新的雪崩电流温度变化参数,提高了Mextram模型对不同温度下SiGe双极型晶体管进行模拟仿真的精确度.     

图形电镀缺口（针孔）缺陷的改善研究

简单介绍了图形电镀的工艺流程,以及我公司电镀线的电镀缺口的状态。通过大量试验研究了各种因素对电镀缺口的影响,最后我们确认在降低空气搅拌和减小药液循环量的情况下,对电镀缺口的改善作用显著。但仍无法快速消除电镀缺口,仍需要进一步研究。     

有机薄膜晶体管中亚阈值电流分散的模型分析

本文提出了一个等效电路模型以分析在有机薄膜晶体管中引起亚阈值电流漂移(也叫零电流点漂移)现象的原因. 该等效电路模型基于Start-HSPICE中的Level 61无定形硅薄膜晶体管器件模型. 仿真结果表明零电流点漂移的原因可以归结于两点: 接触电阻和栅电阻. 更进一步发现, 减小接触电阻和增大栅电阻可以有效抑制零电流点漂移现象. 如果接触电阻可以减到0, 则所有的零电流点交于原点, 此时没有漂移. 增大栅电阻对于抑制零电流点漂移和栅漏电也是有好处的. 当栅电阻分别为17 MΩ和276 MΩ时, 零电流点坐标值的方差分别为0.0057和接近于0.     

Analytical model for the dispersion of sub-threshold current in organic thin-film transistors

This paper proposes an equivalent circuit model to analyze the reason for the dispersion of sub-threshold current(also known as zero-current point dispersion) in organic thin-film transistors.Based on the level 61 amorphous silicon thin-film transistor model in star-HSPICE,the results from our equivalent circuit model simulation reveal that zero-current point dispersion can be attributed to two factors:large contact resistance and small gate resistance.Furthermore,it is found that decreasing the contact resistance and increasing the gate resistance can efficiently reduce the dispersion.If the contact resistance can be controlled to 0Ω,all the zero-current points can gather together at the base point.A large gate resistance is good for constraining the dispersion of the zero-current points and gate leakage.The variances of the zero-current points are 0.0057 and nearly 0 when the gate resistances are 17 MΩand 276 MΩ,respectively.     

基于μC/OS-II的便携式飞行参数数据卸载器

飞行参数数据卸载器作为民用和军用飞机普遍配置的设备,在地勤维护、飞行事故预防和调查分析以及飞行质量评估等方面起着重要作用。随着飞行参数数据量的加大以及对飞行参数使用要求的提高,逐渐暴露出一些影响飞行参数正常使用的问题,其中误码率高、数据卸载速度慢、飞行参数卸载设备型号多等是影响其工作的关键。因此,文中介绍了一种新型的便携式飞行参数数据卸载器,利用嵌入式技术实现其小型化、模块化、可视化,提高了飞行参数使用效率,有效地降低误码率以及实现数据高速转录。     

集成电路铜互连线脉冲电镀研究

针对先进纳米铜互连技术的要求,研究了脉冲电流密度对铜互连线电阻率、晶粒尺寸和表面粗糙度等性能的影响.实验结果表明,2～4 A/dm2电流密度下的铜镀层拥有较小电阻率、较小的表面粗糙度和较大的晶粒尺寸.     

减小等离子显示器电磁噪声的方法研究

根据等离子显示器的工作原理，讨论了表面放电型等离子体显示器在准备、寻址和维持放电发光三个阶段产生电磁噪声，以及驱动电路产生电磁哭声的原因，并针对电磁噪声的来源给出了相应的解决方法，大幅度地减小了等离子体显示器的电磁噪声，电磁辐射以及对其它电器的干扰。     

基于ARM7智能拆焊、回流焊台控制系统的设计

本文采用ARM7作为主控芯片,使用了μC/OS-II实时操作系统,设计了一种智能拆焊、回流焊台控制系统,可以通过键盘操作控制,通过液晶显示屏显示其所处的状态及实时温度曲线,能对多种集成芯片进行拆和焊,适用于集成电路板的维修和加工。     

市级广电呼叫中心建设探讨

介绍呼叫中心的组成、功能和组网模式,分析了市级广电呼叫中心的建设方案,提出了语音资源的组织方式和呼叫中心运营中需要注意的若干问题,为市级广电呼叫中心的建设提供了多种参考模式.     

基于贝叶斯网络的研究生入学奖学金评定

研究生入学奖学金评价体系的建立是我国高校研究生培养机制改革中的重要问题。为了公平、公正地对研究生入学奖学金进行评定,需要把握影响奖学金等级评定的相关因素,并分析这些因素之间的内在关系。文中以历史数据为依据采用K2算法构建评定奖学金等级的贝叶斯网络模型,并基于概率推理算法对奖学金的等级进行预测。研究结果表明,该方法是可行的,其准确率高达88%,为研究生入学奖学金的评定提供了科学依据。