用高分辨率Ge(Li)谱仪测量铀、钍矿石的γ射线谱

为了检验高分辨率半导体γ谱仪分析放射性矿物的适用性,用Ge(Li)谱仪详细研究了铀、钍矿石谱。与此相联系,也列出了铀、钍矿石发射的所有已知γ射线的能量和强度的详细表。这种谱仪用来测定澳北地区含有很低量铀和较高量钍的矿石样品中的铀、钍含量。所得结果与化学分析相比是满意的。这种谱仪具有良好的分辨率,这对研究复杂谱是一个重大的优点;但它效率低,费用高,不易操作,所以未必能代替闪烁谱仪进行常规放射性分析。     

β-γ闪烁测铀中镭D影响的研究

前言利用天然放射性,采用β-γ闪烁法(对不含钍样品)或β-γ-γ闪烁能谱法(对含钍样品)敞口测定岩石中的铀含量时,经常出现分析结果偏高的现象。本文认为样品中镭D和氡的平衡系数     

用Ge(LI)和NaI(TI)探测器联合测量的γ能谱法分析岩石样品中的钍和铀

本文研究了用Ge(Li)和NaI(T1)探测器联合测量,同时测定岩石样品中铀、钍含量的快速方法,只用Ge(Li)探测器,能够测定钍和铀含量的比例,而与样品的几何条件和立体角无关。     

β-γ反符合法测铀研究

我们开发了一种测铀的新方法。镭组和钍系许多元素在β蜕变后伴有γ蜕变,而铀组各元素却很少如此。据此,利用β-γ反符合技术压低镭组和钍系在测铀道的β贡献,相对突出铀组的β贡献,降低了镭钍对测铀的干扰,提高了测铀精度。本方法不但可以测量一般岩石样品中的铀含量,也能测量铀镭平衡破坏偏镭和钍铀含量比高的样品中的铀。实测表明,对于钍铀含量比高达11的样品,测铀的准确度仍符合规范要求。     

用脉冲法分析复杂矿石样品中的铀、镭、钍含量

现在我们通用的β-γ综合方法,只能分析不含钍的铀矿石样品中的铀、镭含量,或含钍的平衡矿石中的铀、钍含量。当矿石样品中既含铀、钍又不平衡时(这种矿石我们称作“复杂矿石”),则用简单的β-γ综合方法就不能精确地分析其中的放射性元素的含量。随着原子能事业的发展,含铀、钍矿石的应用早已提到日程上来了。所以近几年来,世界各主要产铀矿国家,对复杂矿石样品中放射性的分析进行了不少研究工作。在本文中将根据一些发表的文献和我     

矿物中铀、钍、金、钪的堆中子活化分析

中子活化分析具有灵敏度高、选择性好、用样量少、不破坏分析样品,且可进行多元素同时测定等优点,因此适于岩矿样品的分析。 我们利用原子能所实验性重水型反应堆进行辐照,用美国CANBERRA公司生产的SCORPIO-3000系列多道计算机系统,用仪器中子活化分析法测定了岩矿中的铀、钍、金、钪的含量,得到较为满意的结果。 一、实验1.仪器和设备体积为96厘米3的同轴Ge(Li)半导体探测器和4096道脉冲幅度分析器组成的γ谱仪,     

根据乾孔中的综合β-γ测量数据确定不平衡铀矿石中的铀含量

为了测定不平衡矿石中铀的真实含量,必须将两种方法结合一起使用,例如γ和β测量方法。测定铀的这种方法的依据是,铀系中镭前、后的β和γ放射体之间有着不同的比例关系。大家知道,在铀系中,镭以前和以后的元素之间的β辐射几乎相等,而γ辐射的98％则是镭的衰变产物所放出的。矿石中钍的存在,会使铀系的β和γ放射体的比例失真,所以用综合β-γ测量方法分     

文摘选登

1.在对放射性矿石取样时能谱仪能量标度的稳定(等),1974,64,№2,123—126页。在测定铀、钍混合矿石中的铀(按镭)、钍含量时,用同位素Cs~(137)作γ基准源是最可行的。用此种源可得到良好的仪器稳定性。在铀、钍γ辐射仪器谱重叠的情况下,由Cs~(137)基     

用放射性分析方法测定铀钍含量

对铀钍矿样品(在铀镭平衡破坏的条件下)测定铀和钍的含量时,采用一般的放射性分析方法“β-γ法”,就会产生很大的误差。这时必须根据三种不同性质的射线强度来进行分析,例如根据α,β,γ射线或者三种不同能量的γ射线强度来进行分析。虽然已经提出了各种分析方法,但是目前对这些方法的深入了解还是不足的。有必要进一步掌握这些方法的特点和     

不需积累氡而同时测定铀矿样中的铀、镭和射气系数

现在常用的测镭方法均需将样品密封1～3倍氡的半衰期(约3～10天),这不可避免地带来分析周期长、由于密封而可能产生漏气以及样品周围介质对氡的吸收和渗透等缺点。样品不经密封而直接测定其镭浓度的方法,已成为一些放射性分析工作者探索的目标之一。有的作者已提出用Ge(Li)探测器测量镭的186keV特征光峰,从而有可能直接测定镭浓度;也有的作者曾用放化方法直接测镭本身的α放射性。但由于Ge(Li)探测器的灵敏体积小,需低温设备,成本昂贵以及化学处理手续繁杂等缺点,使得它们目前在生产中难于推广。有人认为使用NaI(T1)探测器是乏味费时和损失精度的。本实验则试用普通的NaI(T1)闪烁体和简单的单道能谱仪进行此项工作,并对某些影响因素作了初步探讨。     

FH1936型环境γ谱仪系统通过部级鉴定

由中国核工业总公司科技部与中国核仪器设备总公司联合主持召开的技术鉴定会上,顺利地通过了由中国原子能科学研究院和北京核仪器厂联合研制的FH1936型环境γ谱仪系统的鉴定。 经测试和审查,会议认为FH1936型环境γ谱仪具有以下特点和性能: (1) 结构简单,操作简便,一机多用的优点。作野外测量可快速给出环境辐射场总γ空气吸收剂量率,同时给出铀、钍、镭、钾各核素的含量;作室内测量时,可进行环境样品由铀、钍、镭、钾和~(137)Cs等核素分析。该谱仪工作性能稳定,不仅适用于环境辐射监     

丰中子核素238Th的分离和鉴别

用６０ＭｅＶ／ｕ＾１８Ｏ离子轰击天然铀靶,通过多核子转移反应产生重丰中子新核素＾２３８Ｔｈ。采用放射化学分离方法从铀和反应产物中分离钍,用ＨＰＧｅ探测器做γ单谱时间序列谱测量,在测得的Ｔｈ样品的γ谱中观察到了＾２３８Ｔｈ衰变子体＾２３８Ｐａ的１０６０．５ｋｅＶγ射线的生长和衰变。从而鉴别了新丰中子核素＾２３８Ｔｈ,并确定其半衰期为（９．４±２．０）ｍｉｎ。     

在回旋加速器上用α束进行在束测量时的γ本底研究

随着加速器技术的发展以及高分辨、高效率半导体探测器的不断提高,在束γ谱学越来越受到人们的重视,因为它是研究原子核高自旋态的有力工具,可以为研究核结构提供更丰富的信息。在一定人射能量的核反应过程中,往往可以同时打开几个反应道,用Ge(Li)探测器进行在束测量时,就会记录到许多γ射线,使在束γ谱变得相当复杂,在这样测得的γ谱中,还附加了许多本底γ峰,它们主要来自Ge(Li)探测器中的非弹性中子散射和中子核反应所产     

几种NaI(Tl)X射线探测器的探测极限比较

目前,半导体探测器、正比计数器、闪烁探测器都较广泛地用于探测X时线和低能γ射线。Nal(Tl)闪烁探测器的探测效率高,但能量分辨率差(对221 eV的X射线分辨率约为30％)。当被测样品中所含核素不多而能量又相差较大时,选用薄Nal(Tl)闪烁探测器还是合适的。     

用修正的艾科尔兹方程对铀进行放射性方法测定

引言本文主要论述利用铀的β和γ放射性来测定铀的方法,并研究铀及其子体产物的放射化学平衡。钍、钾和铷同样发射β和γ射线,所以也讨论了钍的测定,以及这些元素的存在对测定铀的总的影响。艾科尔兹、戴利和波里特叙述了     

密闭式电热增压液氮自动注入器

HPGe,Si(Li)及Ge(Li)等半导体探测器有良好的能量分辨率,已广泛用于γ、X射线谱的分析。这类探测器不仅要在低温下工作,有的还需要在液氮温度下保存。因此,定期地向低温恒温器内充液氮是采用这类探测器后     

γ闪烁谱仪测定~(235)U含量

一、引言用γ闪烁谱仪测定经过浓集或贫化的天然铀中的~(235)U含量,虽然准确度不如质谱方法,但有其长处,如仪器简单,实验方法容易掌握等。随着半导体探测器的发展,还可以进一步提高准确度。可以选择~(235)U的184千电子伏γ射线来比较浓集(或贫化)铀样品与天然铀样品(当作参比样品)的γ射线强度,将其比值(我们称丰度比)乘以天然铀(或已知含量的参比     

软β核素内部样品塑料闪烁探测器

本文评价了塑料闪烁片用作软β核素探测器时的计数效率、β谱、本底谱和康普顿电子谱的特征。文中强调:采用胶合光导剂构成的系统是一种新型探测器(软β核素内部样品塑料闪烁探测器)。本文提出内部样品固体探测器、胶合光导剂和胶合闪烁光导剂的新概念。     

用厚源α计数测定TL和ESR年代中的钍、铀年剂量

本文叙述了用厚源α计数技术测定TL和ESR年代中钍系和铀系年剂量的原理和方法。该方法主要优点是测定α年剂量时,可将计数率直接代入生龄公式,不需要计算钍、铀含量和剂量率转换因子。但在估算β和γ年剂量时,必须假定样品中的钍、铀放射性是相同的,或者用“对”技术来确定钍、铀含量。     

机助物理分析方法

单道γ能谱仪GP-1,它是由探测器,铅室、高压稳定电源、脉冲幅度分析器、稳谱装置和自动定标器等组成。该仪器体积比较庞大,电路较复杂,但每件可以单独使用,组合也比较灵活,经过多年使用已为大家所熟悉,目前仍为铀矿地质主要的物理分析仪器。 仪器的不同组合可以适应不同的物理分析方法,如应用β-γ法分析样品铀时或γ闪烁法测铀时可以选用提供探测器的高压电源及自动定标器就可。β-γ-γ能谱法综合分析样品