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从纳米压入测量的基本原理出发介绍了压头面积函数及其校对方法,并对熔融石英进行了两次纳米压入测量,校对了两次压头面积函数,两次测量及校对的时间间隔为1a(年)。结果表明,两次校对后的压头面积函数差别较大。若第二次测量的熔融石英数据仍采用第一次校对的面积函数进行计算,将使杨氏模量和硬度测量结果产生很大误差,阐明了压头面积函数校对在纳米压入测试中的重要作用。 相似文献
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仪器化压入测量中的计量研究是保证测试结果准确性和可靠性的基础.介绍了仪器化压入测量的计量研究概况,讨论了现有国际和国家标准中的关键校准参数和校准方法.在回顾仪器化压入测量发展历程的基础上进一步讨论了该技术的最新发展趋势,依托升温/降温测量、便携式测量和大通量测量等亟需要开展的相应计量研究工作来支持这些新测量方法的研究和... 相似文献
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用高真空磁控溅射在Si片上沉积纳米晶Cu膜和非纳米晶Cu膜,通过纳米压入实验得到薄膜硬度。发现晶粒尺寸对薄膜材料的压痕尺寸效应有比较大的影响,同时随加载载荷的升高,纳米晶薄膜硬度的变化与非纳米晶薄膜有很大的不同。分析认为这是因为晶粒尺寸达到纳米尺度后,晶界体积大大增加,使得晶界变形,晶界运动和晶界对位错运动的阻碍等作用影响材料塑性变形和加工硬化能力造成的。 相似文献
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测定了离子束辅助沉积TiN,CrN薄膜的纳米压入硬度(Hnano值)、维氏显微硬度(Hv值)和努氏显微硬度(HK值)。结果发现,HK值比Hv值更接近于Hnano值,相对较为准确。膜的厚度(t)越薄,三种方法测得硬度值差别越大;膜的厚度越厚,差别越小。随着膜的厚度增加,Hk值和Hv值逐渐接近Hnano值。t≈5.0μm时,Hv≈HK≈Hnano对于硬膜软基体模型,如果膜厚〉5.0μm,可以采用显微硬度计较为准确地测量薄膜硬度;膜厚〈5.0μm时,应避免使用显微硬度法而采用纳米压入法。 相似文献
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Abstract: An original treatment method is proposed to accurately determine by nanoindentation, the macrohardness and the indentation size effect (ISE). This method is applied to stainless steel specimens having different rough surfaces. It uses load versus indentation depth curves and is based on two main original features. The first one concerns the correction of the zero point (i.e. depth equals to 0) to minimise the scattering between experimental curves. The latter are all described by usual hardness equations and are shifted by minimising the distance from a leading curve chosen in a random way among the experimental curves. The second feature is the simultaneous treatment of all the nanoindentation curves to compute the macrohardness and evaluate the ISE. The standard deviation for the estimated macrohardness is small, which indicates the robustness of the approach. It is shown that using a single nanoindentation curve can alter macrohardness estimation because of a bad consideration of the ISE. To prevent this misinterpretation, the curves should be treated simultaneously instead of averaging results of separately treated curves. A correlation is identified between the standard deviations of both surface roughness and correction of zero point, which highlights the effect of surface roughness on the scattering of the indentation curves. 相似文献
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金宏平 《材料科学与工程学报》2016,(5):735-738
采用Oliver-Pharr方法计算压痕硬度容易受到卸载斜率计算偏差的影响。为了提高压痕硬度计算的准确度,减小卸载斜率对压痕硬度的影响,假定最大压入深度下的接触半径与完全卸载后的压痕半径相等,根据Hertz接触理论,基于压痕功与压痕深度的线性关系,建立了压痕硬度与压痕功的显式模型。压痕试验的结果表明,基于能量的压痕硬度计算方法能够有效提高压痕硬度计算的准确度,可以满足工程实际需要。 相似文献
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介绍国际上一种新的硬度试验方法-用于硬度及材料其他参数测量的仪器化压痕试验方法。简述了万能硬度仪器的结构、原理和各种参数的测量、计算方法,并介绍该硬度试验方法在各个领域中的应用及其发展趋势。 相似文献
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两种微纳米硬度测试方法的比较 总被引:3,自引:0,他引:3
在对材料微纳米硬度测试中,可利用纳米压痕方法得到载荷-位移曲线,并用相关算法得到接触面积和硬度值;也可通过原子力显微镜测出压痕残余面积,由残余面积和最大载荷得到材料的硬度值.利用这两种方法对塑性材料单晶铝和脆性材料单晶硅做微纳米硬度测试试验,经过比较分析,这两种方法各有优势和不足,得到的材料微纳米硬度都有压痕尺寸效应,但第二种方法得到的微纳米硬度尺寸效应比第一种明显. 相似文献
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质量功能展开中关联关系确定的RBF方法 总被引:2,自引:0,他引:2
针对质量功能展开中存在顾客需求和工程特性之间的关联关系不确定和模糊等特质,提出了质量功能展开中关联关系的径向基函数(Radial Basis Function,RBF)神经网络方法。采用三层RBF神经网络,由质量屋中顾客需求组成RBF神经网络的输入层神经元,中间层选用高斯核函数,工程特性组成RBF神经网络输出层神经元,由顾客需求和工程特性关联关系评价样本集组成网络的训练样本集,通过网络训练的方式来获得最优的顾客需求与工程特性的关联关系。最后,结合天然光采光产品开发,进行了实例分析,说明该方法具有计算速度快,拟合精度高的特点。 相似文献
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Mark R. VanLandingham 《Journal of research of the National Institute of Standards and Technology》2003,108(4):249-265
Instrumented indentation, also known as depth-sensing indentation or nanoindentation, is increasingly being used to probe the mechanical response of materials from metals and ceramics to polymeric and biological materials. The additional levels of control, sensitivity, and data acquisition offered by instrumented indentation systems have resulted in numerous advances in materials science, particularly regarding fundamental mechanisms of mechanical behavior at micrometer and even sub-micrometer length scales. Continued improvements of instrumented indentation testing towards absolute quantification of a wide range of material properties and behavior will require advances in instrument calibration, measurement protocols, and analysis tools and techniques. In this paper, an overview of instrumented indentation is given with regard to current instrument technology and analysis methods. Research efforts at the National Institute of Standards and Technology (NIST) aimed at improving the related measurement science are discussed. 相似文献