Simi—100数字集成电路多值逻辑测试仪

Simi-100数字集成电路多值逻辑测试仪，是聚星电子技术研究所通过总结国外同类产品的优点，本着实用、方便、测试精简的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪（并且在不断地完善之中）。该仪器特别适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。     

实用性集成电路测试仪设计技术

本文介绍我所新近研制的一种微机控制的数字集成电路测试仪及其软硬件设计技术,重点叙述在计算机的应用。该仪器所采用的微机、监视器和打印机都是市购的廉价通用品。该仪器作为微机的外设,能在监视器的中文系统引导下测试24芯以下(包括24芯)的TTL和CMOS数字集成电路以及28芯存储器,并且能在不改动硬件设计条件下而扩展到40芯组件测试。商业性样机已经生产出来,并已提供用户试用。     

单片机实现的数字集成电路功能测试系统

在对大量ＴＴＬ、ＣＭＯＳ集成电路统计、分析和编码的基础上，利用功能验证测试算法建立ＩＣ测试数据库。用单片机完成测试的软、硬件设计。     

基于ARM7数字集成电路测试仪的设计

本设计采用ARM7系列LPC2103作为主控芯片,能够对74系列和CMOS40系列等芯片快速检测,并可以将被检测芯片的信息和检测结果在LCD液晶显示屏幕上显示出来,该测试仪支持存储信息升级以适应新的集成电路检测的要求。     

多功能数字测试仪的设计与实现

为把数字万用表、绝缘电阻表、漏电开关测试仪等三种功能的测量仪器,合并为一种新型手持式测量仪表。采用专用集成电路ES51921和高性能微控制器MSP430F2111及外部扩展电路、液晶显示器（LCD）等组成,将多功能测试仪设计成具有多功能、智能化的特点和显示直观、读数精准、功能完善、耗电省、体积小、易于携带等优点。该多功能测试仪经测试符合相关技术标准。     

数字测试仪下的参数测试单元的设计

随着电子技术的迅速发展,数字集成电路得到了广泛的应用,数字芯片已经渗透到各个生产、生活的领域.与之相对应的,各个领域对数字芯片的性能、稳定性、可靠性也有了更高的要求.数字测试仪作为测试芯片性能最主要的技术正是在这样的环境下迅速发展起来.     

集成电路多值逻辑测试仪

Simi100数字集成电路多值逻辑测试仪是在总结国内外同类产品优点的基础上,本着实用、方便、准确的宗旨向国内外市场推出的新品,是完全智能化的产品。它采用独特的测试技术,融数字集成电路的功能测试和参数测试为一体,无需其它辅助设备即可对数字集成电路进行测试,且易于掌握,为使用者提供了一种极为有效的测试手段。另外可人工干预设置测试参数,并可对未列入手册的数字集成电路编程进行二次开发,从而充分解决了用户对数字集成电路只进行抽测或简单的功能测试已不能保证器件质量、满足使用需求这一实际问题。 Simi100的性价比远远高于其它国内外厂家生产的市场上常见的数字集成电路功能测试仪及一般编程器测试仪。除可测试数字集成电路的功能和各项直流参数外,还能对“OC”、“三态”、“模拟开关”等数字集成电路进行有效测试。目前Simi100测试品种达到几千种,并可根据用户要求进行扩充,经过Simi100测试的器件组装而成的整机,其抗干扰能力大大提高,并且温度适应范围宽,可克服一般常见的软故障(如开机后数小时死机等)。     

智能电参数测试仪的设计

介绍了交流采样的基本原理，提出以Intel80C916KC为核心处理单元来实现对电力电网的多路参数的智能测量，并给出了整合系统的软硬件设计方案。设计中采用外设事物服务器PTS来响应A/D转换，大大减少了A/D转换时间，从而提高CPU的效率。     

组合式集成电路专用测试仪简介

北京自动测试技术研究所最近研制成功一种组合式集成电路专用测试仪。所谓组合式,是指由几个基本模块加上少数专用模块和适配器所构成的,为某一类集成电路测试用的专用测试仪器。更换个别专用模块和适配器,就可以构成另一类集成电路测试仪。由于它的专用性,模块的数量相对     

基于集成电路测试仪控制模块设计研究

本文在通信架构基础上,找出通信模式的主要瓶颈,并设计并出更为高效的设计优化方案以此来提升整个通信架构速率,全面推进集成电路产业的健康、高效发展。     

介绍一种高性能低价格的通用数字IC测试仪

IC测试仪分为两类,一类是专用IC测试仪,另一类是通用IC测试仪。专用IC测试仪只用于某一特定产品,其优点是结构简单因而制做成本低;缺点是设计投入高,仪器精度较低而且没有灵活性。如果该产品停止生产,就会造成浪费。通用IC测试仪一般性能优异,一台仪器可测试多种产品,但是价格较高,通常每台售价达数万至数十万美元,高性能的IC测试系统售价更达数百万美元。为解决这一难题,华智(香港)有限公司集十年IC测试方面的经验,于1993年10月研制成功了一种高性能低价格的通用数字IC测试     

在台式测试仪上准确,廉价,有效地测试数字IC交流参数的方法

在台式系统上用此方法测试数字集成电路的交流参数,时间间隔测量的效果取决于对硬件的正确校准。     

厚膜测试仪的智能化改进

本文介绍了如何把带有数字表头的厚膜测试仪改进成智能化仪表，从而能够实现自动测量和自动判别等功能。其中着重介绍了把原仪表的十档机械联动开关改进成轻触式电子模拟开关以及从原仪表的数字表头中引出数字量进入单片机进行处理。     

数字集成电路测试探讨

结合具体例子,介绍数字集成电路的测试方法。     

井下参数测试仪的研制

介绍了一种基于AT89C55单片机和实时内核RTX-51的井下参数测试仪,实现了对油井井下地质参数的测试,它同时具有参数设置、LED(发光二极管)实时数据显示、绘图仪接口、串行通信等功能。实现了测控过程的自动化、测量结果的数字化,提高了井下地质参数测量的精确度,降低了操作人员的劳动强度。