机载电子设备可靠性增长与管理

可靠性低是我国机载设备存在的最突出的质量问题 ,提高可靠性的必由之路是开展可靠性增长。介绍在可靠性增长工程实践中 ,研究和应用了综合化可靠性增长技术及其系统工程管理模型 ,探索了一条经济有效并能按期达到目标值的可靠性增长途径     

PDCA在机载电子设备环境鉴定试验中的应用

环境鉴定试验是产品定型试验的重要组成部分,是产品批准定型的重要依据之一,能够检验产品环境适应性是否满足要求.文章介绍了PDCA过程方法定义,论述了PDCA过程方法在机载电子设备环境鉴定试验中的应用,强调了在试验过程中做好策划、实施、检查和改进工作的重要性.     

军用电子设备研制中元器件的质量与可靠性管理

阐述了军用电子设备研制单位应对所使用的元器件采取效的质量与可靠性管理过程和管理措施。     

机载电子设备首次生产可靠性增长研究

在现役机载电子设备可靠性增长工作的推动下，可靠性工程技术和工程实践得到了深入的发展，但可靠性工程的最终目的是为了提高产品的实际使用可靠性水平。研究了机载电子设备首次生产可靠性增长问题，正是立足于提高交付使用产品的可靠性水平，确保产品满足实际使用的高可靠性要求。     

失效分析结果在元器件可靠性设计中的应用

本文从阐述失效分析的主要任务和电子元器件可靠性设计的基本概念入手，探讨了失效分析与元器件可靠性设计之间的关系，介绍了如何根据不同的失效模式采取相应的可靠性设计技术的基本方法，并用实例说明了失效分析结果在促进电子元器件可靠性设计技术的深入研究和工程应用，以及提高产品可靠性方面所起的重要作用。     

电子设备的可靠性试验

为了提升评价产品的可靠性水平和开展产品可靠性工作,介绍了电子设备的可靠性试验,包括可靠性的种类、目的和指标,正确评定设备的可靠性等。实践证明：可靠性试验是可靠性工作的重要组成部分,是保证和提高产品可靠性的必要手段。     

电子元器件的可靠性分析

分析了电子元器件的可靠性,包括可靠性的定义,可靠性指标,电子元器件在不同环境条件下的不同特征,元件失效的规律,发生故障的概率等.     

直升机机载电子设备可靠性综合评估

通过引入由分系统的可靠性参数综合评估系统可靠性参数的理论模型，对直升机机载电子设备的可靠性进行了综合评估，并通过计算举例进行验证，说明运用这种理论模型对直升机机载电子设备可靠性进行评估的可行性。     

消除失效模式的可靠性增长方式

在各项可靠性试验中,电子元器件的失效模式不一定是单一的,有时经常有好几种失效模式同时存在.这时候就需要抓住主要矛盾,采取“各个击破”的方式来逐步地提高产品的可靠性。某集成电路原来存在有五种主要失效模式,如图1所示,其中“芯片键合引起的失效占总失效数的45％。针对这种失效模式,在工艺上采取纠正措施,用铝—铝超声焊代替金—铝热压焊,并增加磷处理工序后,芯片键合点的失效模式已全部消失,可靠性水平得到了提高.而在产品可靠性的新台阶上,第二种失效模式“表面沟道     

失效机理鉴别在加速试验中的作用

就正常使用条件下出现的某些主要失效机理而论，加速寿命试验技术提供了一种研究电子元器件可靠性的简便方法，然而，加速试验经常是在不知道失效机理，以及不保证被试验所加速的失效机理与正常使用条件下所观察到的失效机理相同的情况下，本文总结了电子元器件和封壳的普通失效机理，并研究了在加速试验过程中可能出现的失效机理转变。     

电子元器件的可靠性增长

用于修复型产品的可靠性管理技术,也适用于不修复的寿命型产品,但对这类产品进行增长管理时,必须注意如下特点.a.这类产品的可靠性指标是失效率或MTTF等;b.这类产品通常都是批量生产的,它们的增长模型一般应采用离散型增长模型;c.对于这类产品一般应采取延缓纠正方式;     

电子元器件失效分析技术的工程应用

简述了电子元器件失效分析的常用技术手段和失效元器件的失效现象、失效模式、失效机理。对失效现场应收集的信息内容进行了介绍，并提出要注意的事项；对元器件的失效进行了分类——失效分为固有失效和使用失效，并对工程上的失效分布作了进一步的分析。最后，通过两个典型的工程实践事例，说明进行失效分析在工程上的应用和工程意义重大：失效分析能够改进和提高元器件制造单位的水平，也能够促进和提高元器件使用单位的设计水平。     

电子元器件的有关可靠性试验

可靠性试验是为了评价和分析产品的可靠性特征而进行的试验。试验包括有环境、筛选、交收验收、测定、鉴定验证、认证以及寿命与加速寿命试验等等。 可靠性增长试验是为暴露产品的薄弱环节,并证明改进措施能防止薄弱环节再现而进行的系列试验。从广义上来讲,凡属以改进产品的可靠性为目的而进行的试验都可以作为可靠性增长试验的一种手段,但要注意的是可靠性增长试验是一个有计划地激发故障、分析故障和改进设计并证明改进有效的一个过程。 可靠性增长试验同一般可靠性试验的区     

电子元器件的可靠性增长方式

电子元器件通常都是批量生产的,所以它们的增长过程一般是分阶段或按试验序列而逐步进行的.对它们进行增长分析时,通常应该采用离散型的增长模型。工程实践上,电子元器件的可靠性增长,可以采取试验比较法、消除失效模法以及阶段序列增长法等各种方式.试验比较法需要通过前后两次试验来分析产品的增长效果。第一次试验的目的,是要掌握产品的可靠性现状,摸清产品的存在问题;第二次试验的目的,则是要验证纠正措施的有效性,并检验其增长效果。     

电子元器件失效分析实例

１电子模块失效分析二例１．１对数视放模块ＤＳＦ－１０１．１１失效模式：小信号输出波形斜顶，波形参数见图１．１。１．１２失效环境：整机温度冲击（＋１２５℃～－５５℃）１．１３模块失效原因：反馈回路输出滤波电容内部电极开路。１．１４模块失效诊断１．１４１高温烘烤：四只失效样品经７５℃２０小时的高温烘烤后波形未见改善。１．１４２强信号冲击按技术条件测试方法，以脉宽２ｍｓ、重复频率５Ｋｚ、峰值电压１Ｖ的脉冲，经０ｄＢ衰减的强信号输入多次冲击后。３＃样品由８０ｄＢ衰减的小信号输入时，偶有输出波形平顶较好的…     

元器件失效分析在整机行业中的作用

本文介绍电子元器件失效分析的方法及其作用，以具体的案例阐述了元器件失效分析在整机可靠性提高中，在界定元器件缺陷及元器件使用不当中的作用。     

电子元器件的失效分析

对产品进行失效分析的主要内容,是要收集各种失效样品、鉴别失效模式、确定失效机理并提出纠正措施,以促使产品的可靠性增长。产品的失效模式是指产品失效的具体形式、形态和现象等等,产品的失效机理是指产品发生失效的物理化学根源。对电子元器件进行失效分析的基本程序如图40.1所示。目前我国各类元器件失效模式的基本状况如表40.1所示。