不同的退化模式共存时产品退化失效分析

在高可靠性、长寿命产品的可靠性分析中,当产品的失效为退化型失效时,利用产品的性能退化数据进行可靠性分析是一种更合理的方法。在考虑产品既存在平稳退化,又存在随机退化时,研究了产品退化失效的一般模型并给出了模型参数的估计方法。最后,利用所给的模型对强激光装置所用的某型金属化膜脉冲电容器进行了可靠性分析,并验证了该方法的可行性。     

基于参数回归分析的金属化膜脉冲电容器竞争失效分析

金属化膜脉冲电容器既有突发型失效又有退化型失效.通过分析金属化膜脉冲电容器的退化失效机理,在假设突发失效与退化失效相关的条件下,给出了基于参数回归分析的电容器竞争失效的一般模型,最后利用该模型对某金属化膜脉冲电容器的试验数据进行可靠性分析.根据评估结论,该电容器打靶10 000发的可靠度为0.798 6.该模型为竞争失...     

基于加速退化数据的BS分布的统计推断

BS分布是可靠性分析中的一个重要的失效分布模型,它可以用于很多产品的退化失效分析中。对基于加速退化试验数据的BS分布的统计推断方法进行了研究,给出了BS模型的加速退化方程及其适用性。     

半导体器件参数退化失效分析

1 前言电参数漂移、超差或退化是半导体器件常见的失效模式。这类失效会导致产品合格率不高;使得成品器件档次下降;更严重的是还会影响整机的寿命和可靠性.引起这类失效的原因很多,如材料缺陷,生产工艺欠佳,使用条件、环境所致等等.但要对参漂或退化的器件进行分析时,由于这类失效的原因复杂,失效部位难寻,不像分析致命失效那样较直观,往往不易找到其失效原因。因此,如何准确确定这类失效器件的失效原因,是半导体器件生产厂家和用户长期以来乃至今依然十分关注的问题.本文通过两种型号晶体管的失效分析实例,介绍了对半导体器件参数退化失效原因的诊断分析方法。     

基于性能退化数据的金属化膜电容器可靠性评估

在对激光惯性约束聚变试验装置所用金属化膜脉冲电容器进行可靠性分析时,利用假设其寿命分布为Weibull分布的传统可靠性分析方法所得结果不能满足工程要求.作者通过分析电容的退化机理,给出了一个该型电容器的寿命分布模型,模型的求解是利用电容器的退化数据进行的,它具有比Weibull分布模型更为精确的特点,在工程实践中使用该模型对该型电容器进行可靠性分析可以大量的节约试验成本且结果精度更高.     

金属化膜脉冲电容器可靠性研究

高储能密度金属化膜脉冲电容器是一种高可靠性、长寿命的器件,在短时间内很难得到它的失效数据,因此无法采用基于失效数据分析的传统可靠性分析方法来研究其可靠性。金属化膜脉冲电容器的失效是退化型失效,根据其失效机理,给出了电容器容值退化失效模型,依据该模型和电容器的容值退化数据,对该型电容器进行了可靠性研究,该型电容器的平均寿命为21165次充放电,其第10000次充放电时的可靠度为0．9454。在工程实践中使用该模型对该型电容器进行可靠性分析可以节约大量的试验成本。     

非连续运行设备贮存-工作联合退化模型及其应用

 对某些非连续运行的设备,贮存状态和工作状态会交替出现,工程上可通过观测其关键性能参数变化监控设备健康状态,并以此为依据对其寿命和可靠性进行预测分析.针对该类设备,本文综合分析其贮存和工作条件下性能退化规律,建立设备贮存-工作联合退化模型,利用性能退化数据的拐点特性对该联合退化模型的参数进行估计,在此基础上,实现设备的可靠性分析和寿命预测.最后以金属化膜电容器为例建立了联合退化模型,分析该电容器的可靠性并预测寿命.     

融合多源信息的维纳过程性能退化产品的可靠性评估

针对维纳过程性能退化产品,提出了一种有效融合先验退化信息、寿命数据以及现场退化数据的可靠性评估方法.首先利用Expectation- Maximization( EM)算法基于先验退化信息和寿命数据信息确定参数的先验分布;其次利用贝叶斯方法对参数进行更新,并在此基础上进行可靠性评估.该方法能根据现场退化数据不断地对可靠性进行更新,实现对产品可靠性的实时评估.最后通过金属化膜电容器可靠性评估实例验证了该方法的适用性和有效性.     

竞争硬故障与软故障失效模式产品的可靠性分析

根据系统可靠性理论,考虑到硬故障和软故障两种竞争失效模式对产品失效的影响,对传统的可靠性分析方法进行了扩展。研究了满足硬故障和软故障竞争失效规则的产品可靠性函数和失效率函数。并通过不同的失效模式之间的关系。得到产品在不同的硬、软故障模式下的失效分布函数。另外还给出一个简单的算例来说明该分析方法的应用。该分析方法可能更符合机电产品的失效规律。     

微波真空电子器件磁控管的失效率模型

以磁控管现场使用数据和失效模式为基础,根据真空电子器件失效率或平均寿命等可靠性指标的考核方法,对新版（ＧＪＢ２９９Ｂ）电子设备可靠性预计手册中的失效率模型与旧版（ＧＪＢ２９９Ａ）进行了验证对比。结果表明,新版比旧版更接近实际,而且其预计精度也有明显提高,新版所建立的失效率数学模型可以满足工程的实际要求。     

电子产品的故障分析技术

文中简单介绍电子产品的故障分析技术,着重介绍如何开展故障分析,以确保故障信息的正确性和完整性,达到改进产品质量的目的。     

一种新的电子元器件突然失效率估算方法

在电子元器件可靠性特性的基础上,引入负荷系数的概念;同时考虑多种负荷的作用,建立了电子元器件突然失效率的估算模型;通过该模型所得的元器件突然失效率数据对电子设备及系统可靠性的计算更具有实际意义。     

电子产品质量管理工作探讨

对做好电子产品质量管理工作进行了探讨,论述了电子产品质量管理阶段的划分,质量管理各阶段的工作内容、特征和重点;强调质量管理人员的素质和能力以及发挥质量人员作用的重要性．