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本文采用磁粉、X射线、CT和超声等无损检测和金相分析等方法对40CrNi2Si2MoVA钢制零件的磁痕显示进行了系统分析.研究认为,40CrNi2Si2MoVA钢制零件的磁痕显示为显微成分沿变形方向偏析导致的马氏体转变点Ms差异所致.显微成分偏析是钢锭结晶过程中不可避免的,但可通过优化熔炼工艺参数降低显微偏析的程度.本文还分析了四种磁痕显示的类型及其判别方法. 相似文献
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飞机机尾罩与机体连接用ZG0Cr14Ni5Mo2Cu不锈钢锥裙锁铸钢件,在磁粉检测时,其表面有多条疑似裂纹状线性磁痕显示,后采用荧光渗透检测方法进行辅助检测,原磁痕显示处未见异常荧光显示。采用表面形态?组织特点?成分分布?磁性变化相结合的研究思路,开展表面形态电镜观察、显示区剖面金相检查、组织微区成分能谱分析、材料硬度测试、XRD相分析以及模拟热处理等试验。结果表明:锥裙锁磁痕显示区未见表面缺陷,铸钢的枝晶间存在较粗大条状分布的残余奥氏体组织,这种组织差异破坏了材料磁性的连续性,导致其表面出现磁痕显示;锥裙锁宏微观组织不均匀,存在奥氏体富集区,其产生与C、S、P类元素偏析有关,研究为该材料零件在磁粉检测时的磁痕判定提供了依据和借鉴。 相似文献
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采用荧光渗透检测、金相检查及能谱分析,对440C材料在磁粉检测中发现的特殊纵向磁痕及形成原因进行分析。结果表明,该磁痕是一种非相关显示,是由于材料中共晶碳化物严重带状偏析,碳化物与基体的磁导率存在差异引起磁感应线发生畸变,从而吸附磁粉形成的。 相似文献
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利用磁粉探伤对42CrMo钢曲轴锻件的连杆颈部位进行检测,发现明显的类似发纹的磁痕显示。通过OM、SEM形貌观察和EDS成分分析发现,连杆颈表层部位基体的显微组织不均匀,出现明显的成分偏析带,宽度约20~50 μm,C、Mn、S、Al、Cr元素含量相对基体较高,并含有少量的MnS夹杂。42CrMo钢棒状原料的中心偏析在模锻时沿着金属流动方向发生转动,偏析流线“遗传”至终态连杆颈表层而造成显微组织和化学成分的不均匀,进而导致磁导率的差异而出现磁痕显示。锻后的调质处理和表面感应淬火在一定程度上可以改善但不能消除这种宏观成分偏析。 相似文献
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影响表面缺陷磁粉探伤检测质量的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
磁粉检测被认为是表面裂纹检测最灵敏的方法之一,尤其是在表面不平或表面不规则性与所需检测的裂纹相比大得多的情况下,磁粉探伤通常被考虑为表面裂纹检测最好的方法.介绍表面缺陷磁粉探伤原理,对磁粉探伤的磁痕特性,磁痕形成受到磁粉性能、磁化规范、磁悬液的浓度和黏度、零件表面状况、裂纹形状等因素的影响进行分析,为提高磁粉探伤检测质量,操作中需要综合考虑这些因素,以便于使工件的表面缺陷经磁化形成的磁痕能清晰地显示出来而且能被准确地予以判断,提高表面缺陷检测准确性. 相似文献
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材料中Mn和Sn含量较多、表面感应淬火时加热温度较高导致淬火层组织中存在大量块状残余奥氏体。大块状奥氏体与回火马氏体磁导率差异较大造成磁粉探伤时大量磁痕显现。通过工艺改进,避免了大块状残余奥氏体的产生,从而避免了此类磁痕的产生。 相似文献
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某厂在对其生产的 S38MnSiV钢曲轴进行磁粉探伤时,发现曲轴的连杆轴颈上存在线状磁痕,磁痕是曲轴磁粉探伤中不允许存在的缺陷。利用直读光谱仪(OES)、光学显微镜(OM)和扫描电子显微镜(SEM)等观察分析手段,研究了 S38MnSiV钢曲轴磁粉探伤不合格的原因。结果表明:存在合金元素偏析的心部钢材在锻造过程中迁移至连杆轴颈表面,致使连杆轴颈表面在淬火时产生残余奥氏体,残余奥氏体与马氏体磁导率差异使磁粉探伤时出现磁痕。针对此类磁痕,提出了相应的技术改进措施。 相似文献
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目前世界上磁粉探伤机的发展趋势是自动化、系列化,大量采用PC机控制,磁痕显示采用荧光磁粉,特别注重探伤速度和检测灵敏度.随着我国工业的发展,在机械工业中(尤其是汽车和内燃机行业)很多重要零件(亦称保安件)需要百分之百的在线探伤.由于这些零件大小各异,几何形状复杂,迫切需要半自动的荧光磁粉检测设备.基于上述理由,1991年经天津科委同意,开始研制通用荧光磁粉检测线,并于1993年8月通过鉴定.1 检测线简介全线由双回路交流磁化主机、检验转台和输送带式退磁机等组成(附图). 相似文献
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针对机车牵引电机转轴磁粉探伤中的磁痕显示现象,通过对转轴受力情况的比较分析来判别磁痕的危险性,结合补充检测、实际印证的结果,得出有该磁痕显示现象的电机转轴不必采用更先进的探伤技术重新检测,仍可继续使用的结论. 相似文献
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HXD3C型机车新制车轴磁粉检测,磁痕显示呈轴向锯齿条状分布,两端尖细,长度3mm~8mm,同裂纹磁痕特征相似。对磁痕显示的缺陷性质判定决定车轴的最终验收,通过化学成分分析及金相分析,结果表明:缺陷由非金属夹杂物引起。依据TB/T 1619-2010标准中定义,确定该类缺陷为发纹。依据标准对发纹缺陷进行判定,避免了车轴磁粉检测误判所造成的经济损失。 相似文献