小样本条件下双应力步降加速退化试验优化设计

针对小样本条件下高可靠性长寿命产品的性能往往受到多个应力的影响,且在加速退化试验中该类产品在有限试验时间内难以获得大量性能退化信息的问题,提出一种小样本条件下双应力步降加速退化试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对加速试验进行仿真模拟,在样本量大小一定的条件下,以监测频率、应力水平数、监测次数作为设计变量,以总的试验费用作为约束条件,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐进方差估计作为目标函数,建立小样本条件下双应力步降加速退化试验优化设计模型。通过仿真实例,验证该方法的有效性、可行性。     

电应力加速退化试验技术及可靠性评估研究

为探究电冲击对电子装备寿命的影响,选取电源通断瞬间产生的高压为电冲击加速应力,并以雷达某系统功能电路板为研究对象,开展电应力加速退化试验。通过对试验数据的统计分析,得到基于性能退化轨迹的伪失效寿命,并在Weibull分布条件下进行参数估计,提出基于电应力的电源开关通断电加速模型,并实现对某型雷达功能电路板的可靠性评估。     

基于仿真的竞争失效产品综合应力加速寿命试验优化设计

针对竞争失效产品综合应力加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出一种基于仿真的竞争失效产品综合应力加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐进方差估计最小为目标,在各应力组合下试验截尾数大小给定的条件下,以试验应力水平大小作为设计变量,利用MLE理论进行统计分析,建立基于仿真的竞争失效产品综合应力加速寿命试验优化设计模型。通过实例分析表明该方法有效、可行,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。     

基于电子产品板级加速退化数据的可靠性分析

以某24 V-2 A稳压电源板在80 C,100 C,120 C下进行恒加加速退化试验为例,观测到电源板输出电压随温度变化的退化过程,由B-S模型采用回归方法进行了可靠性统计推断,并与其它评估结果比较.结论表明,基于加速性能退化数据进行板级电子产品可靠性评估方法可行、结果可信,且更节约试验成本和时间,无继往数据和无失效数据情况下仍能适用.     

航天电连接器加速性能退化试验可行性研究

为解决高可靠长寿命的航天电连接器即使进行加速寿命试验也难以获得失效数据的问题,对电连接器失效模式以及长期贮存下接触性能变化结果进行分析,表明电连接器性能退化存在可能性,并根据长期贮存下试验数据的验证,得出电连接器性能具有退化特性.通过温度加速应力下电连接器接触性能数据的分析,得出其性能退化具有加速性,还具有一定的加速退化规律,这为采用加速性能退化试验对航天电连接器进行可靠性评估提供了依据.     

竞争失效产品步降加速试验优化设计研究

针对解析方法难以得到竞争失效产品步降加速试验最优方案和仿真法仿真规模大的难题,该文提出一种基于BP神经网络拟合的竞争失效产品步降加速试验优化方法。采用Monte-Carlo对加速试验进行模拟仿真,以最佳应力水平和试样分配比例为设计变量,以正常应力水平下各失效机理的对数特征寿命渐近方差作为目标函数,建立竞争失效产品步降加速试验优化设计模型。通过仿真实例,验证该方法有效可行。     

基于风险分析的可靠性指标加速验证方法研究

传统的可靠性验证试验由于一般在使用条件下进行,且只利用失效数据进行判定,往往需要大量的时间和费用。这对于高可靠长寿命船舶设备可靠性指标的验证是不可接受的。本文提出一种基于风险分析的可靠性指标加速验证方法,该方法利用退化数据进行分析,在试验风险可接受的条件下提前截止试验,得出验证结果。同时,利用高环境应力可以加速退化过程,进一步减少试验时间。本文具体给出了分析和计算提前截止试验和利用高应力进行试验产生的额外风险的方法,保证了验证结果的真实可靠。最后利用案例证实了该方法在减少验证试验时间上的有效性。     

基于ADT的电阻型湿度传感器可靠性评估

传统的寿命试验对电子元件可靠性进行评估需较长时间。如何快速、准确获取电子元件的性能指标是工程实践和试验研究迫切需要解决的问题。本文以电阻型湿度传感器为研究对象,基于加速退化试验(ADT)的可靠性评估方法,建立加速模型和退化轨迹,结合最大似然估计和最小二乘法求解加速应力下伪失效寿命分布参数,从而得出正常应力水平下可靠度函数。结果表明,采用ADT能够准确获取湿度传感器的可靠性信息,缩短试验周期,此评估方法同样适用于其它电子元件的可靠性研究,存在广泛的应用价值。     

基于ARMA模型的加速退化试验可靠性评估

有限时间内很难获得大量电子产品的失效数据,传统可靠性评估方法存在一定局限。在分析传统加速退化试验可靠性评估的基础之上,提出利用时间序列对产品加速退化过程描述的方法,使用自回归滑动平均混合(ARMA)模型对退化数据进行建模,通过参数估计得到其退化规律的表达式,从而外推出其失效寿命,进而利用极大似然估计理论进行可靠性评估。最后以某电源电路板加速退化试验数据为例,分时间序列建模和可靠性评估两大步骤,分别对95℃、105℃、115℃下加速退化试验数据进行分析处理,得出可靠性评估结果,验证该方法的有效性和实用性。     

小波包变换和隐马尔可夫模型在轴承性能退化评估中的应用

轴承是旋转机械中的关键部件,有效地对其进行性能退化评估对指导设备维护、防止设备意外失效有非常重要的意义。本文提出了一种基于小波包变换和隐马尔可夫模型（HMM）的轴承性能退化评估方法。该方法使用小波包变换对轴承振动信号进行分析,并提取节点能量及其总能量作为特征,仅使用正常状态下的数据训练HMM,建立性能退化评估模型,然后使用该模型对轴承的退化程度进行定量评估。最后,通过对轴承加速疲劳寿命试验的研究,验证了所提出的方法的可行性和有效性。     

煅烧温度和燃烧剂及助剂用量对TiO2光催化性能的影响

为了找出自蔓燃制备TiO2光催化剂的最佳奈件,本文以TiO（NO3）2为前驱体,以前躯体用量、燃烧剂柠檬酸和硝酸铵的比例、煅烧温度为主要考查因素,通过正交试验制备TiO2并进行亚甲基蓝的光催化降解实验。结果表明,自蔓燃工艺制备的TiO2粉体具有松散、多孔的特性;正交试验选出最优制备条件为：煅烧温度在550℃,n（TiCl1）：n（柠檬酸）：n（硝酸铵）=1：1：3,最优条件下的TiO2比不采用此工艺制备的TiO2的降解率提高了13．28％;最大光降解速率比不采用此工艺制备的TiO2的速率提高了58％。     

板级封装焊点的振动冲击加速失效方法研究

设计了一种针对板级微电子封装微焊点的振动冲击加速失效试验。对线路板施加定频正弦振动载荷,测量线路板应变值以标定PCB板级载荷水平,采用高速数据采集系统记录了振动载荷作用下的微焊点失效动态过程。结果表明：通过调节振动条件,采用板级振动试验可以获得近似板级跌落冲击试验的峰值形变,其峰值载荷作用频次高于跌落冲击试验;失效数据监测结果显示焊点在振动冲击试验中表现为疲劳失效特征。本加速失效试验在保持焊点失效特征的同时提高了试验效率,可作为跌落冲击条件下微焊点板级可靠性评估的备选试验方案。     

高效液相色谱法测定三聚氰胺——甲醛食品容器中三聚氰胺单体迁移量

本研究采用高效液相色谱法（HPLC）测定三聚氰胺-甲醉食品容器中三聚氰胺单体迁移量。样品采用常规直接浸泡法、微波条件浸泡法两种不同前处理方式后直接通过高效液相色潜仪分析三聚氰胺单体迁移量。结果表明常规直接浸泡法（酸性条件）、微波条件浸泡法（酸、水、醇条件）均有二聚氰胺单体迁移山。两种浸泡方法比较：三聚氰胺单体的迁移量微波法高于普通浸泡法。     

Robustness of asymptotic accelerated life test plans to small‐sample settings

Much of the statistical literature on optimal test planning for accelerated life testing utilize asymptotic methods to derive optimal test plans. While sufficient effort is made to assess the robustness of these test plans to the choice of design parameters and distribution assumptions, there is very little literature on the performance of asymptotic test plans relative to small samples (on the order of 10‐15 samples). An alternative concern is that the asymptotic test plans may not necessarily be the true “optimal” test plan for a given sample size. The purpose of this research is to present exact or “near‐exact” methods for developing test plans and compare the performance of these test plans with corresponding asymptotic test plans in small‐sample settings. The optimal location of design points and sample allocation is determined using each method for lognormal and Weibull lifetime distributions with both complete and Type 1 right‐censored data under two selected acceleration factor models. The investigations reveal that asymptotic test plans tend to corroborate quite well with exact test plans and thus are suitably robust to small‐sample settings in terms of optimal variance.     

Optimal Design for Step‐Stress Accelerated Test with Random Discrete Stress Elevating Times Based on Gamma Degradation Process

Recently, a step‐stress accelerated degradation test plan, in which the stress level is elevated when the degradation value of a product crosses a prespecified value, was proposed. The times of stress level elevating are random and vary from product to product. In this paper, we extend this model to a more economic plan. The proposed extended model has two economical advantages compared with the previous one. The first is that the times of stress level elevating in the new model are identical for all products, which enable us to use only one chamber (oven) for testing all test units. The second is that, the new method does not require continuous inspection and to elevate the stress level, it is not necessary for the experimenter to inspect the value of the degradation continually. The new method decreases the cost of measurement, and also there is no need to use electronic sensors to detect the first passage time of the degradation to the threshold value in the new method. We assume that the degradation path follows a gamma process. The stress level is elevated as soon as the measurement of the degradation of one of the test units, at one of the specified times, exceeds the threshold value. Under the constraint that the total experimental cost does not exceed a prespecified budget, the optimal settings including the optimal threshold value, sample size, measurement frequency, and termination time are obtained by minimizing the asymptotic variance of an estimated quantile of the lifetime distribution of the product. A case study is presented to illustrate the proposed method. Copyright © 2015 John Wiley & Sons, Ltd.     

A literature review on planning and analysis of accelerated testing for reliability assessment

Accelerated testing has been widely used for several decades. Started with accelerated life tests with constant‐stress loadings, more interest has been focused prominently on accelerated degradation tests and time‐varying stress loadings. Because accelerated testing is crucial to the assessment of product reliability and the design of warranty policy, it is important to develop an efficacious test plan that encompasses and addresses important issues, such as design of stress profiles, sample allocation, test duration, measurement frequency, and budget constraint. In recent years, extensive research has been conducted on the optimal design of accelerated testing plans, and the consideration of multiple stresses with interactions has become a big challenge in such experimental designs. The purpose of this study is to provide a comprehensive review of important methods for statistical inference and optimal design of accelerated testing plans by compiling the existing body of knowledge in the area of accelerated testing. In this work, different types of test planning strategies are categorized, and their drawbacks and the research trends are provided to assist researchers and practitioners in conducting new research in this area.     

F—Sb共掺SnO2复合材料的制备及电解甲基橙性能

以KF、SbCl3和SnCl2为原料配制乙醇溶胶,通过在Ti基底上涂胶、干燥、预热处理和煅烧等工艺制备出了F—Sb-SnO2/Ti复合电极。以F—Sb—SnO2／Wi复合电极为阳极,镍片为阴极,施加恒电压观测甲基橙电解液的脱色变化,在正交设计试验基础上,考察溶胶涂层数、煅烧温度、掺杂F离子的浓度等因素对甲基橙降解率的影响,结果表明,固定电解参数电压3V,甲基橙浓度50mg／L,添加荆h（Ⅲ）浓度110mg/L,溶液pH=l,优化的溶胶涂层数9,煅烧温度为773K,溶胶中维持Sn/Sb摩尔比9／1时,优化的KF掺杂摩尔比为0．5时,电解75min,甲基橙的降解率达93％。