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微焦点X射线成像系统扫描参数测量及投影图像校正研究 总被引:2,自引:0,他引:2
微焦点X射线成像系统由于被重新安装以及初始化,导致系统参数读数与实际值之间存在偏量。给出了测量这些偏量值的基本原理和方法,并通过实验求出偏量值。由于图像增强器与图像获取装置本身固有特点以及非线性获取成像,投影图像存在几何畸变。讨论了图像几何畸变校正的基本原理,并给出具体步骤以及校正后的图像. 相似文献
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采用二维电离室矩阵法和指形电离室扫描法测量X射线辐射场均匀野。二维电离室矩阵法快速、简便,可实现X射线主射束、光阑、快门、过滤片、定位装置同轴的调整。指形电离室逐点扫描法测量辐射野均匀区,具有一致性好,结果准确可靠之特点。距钼靶焦斑1 m处,指型电离室测得水平方向均匀性好于95%的辐射野尺寸约为124 mm。竖直方向均匀性好于95%的辐射野尺寸约为103 mm。满足钼靶X射线基准建立和量值传递要求。 相似文献