我国测试技术现状及差距

据《中国电子报》2007年4月17日报导,测试技术的进步主要体现在测试设备的发展上。几十年来,测试设备从测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路,设备水平从测试仪发展到大规模测试系统。现今测试系统已向高速、多管脚、多片并行同测和SoC测试的方向发展     

T2000面向不同测试需求的灵活对应

随着半导体集成电路产业的迅猛发展,Ic的集成度越来越高,这就使得Ic的功能越来越复杂。因此对于半导体集成电路测试设备在灵活配置性、可升级性以及低成本性方面的要求也越来越高。Advantest的T2000作为新一代的半导体测试系统,针对不同的测试需求均有灵活的对应方式。     

大规模集成电路测试图案产生方法的研究

一、引 言 大规模集成电路测试设备的核心是测试图案发生器.为发展我国大规模集成电路的测试设备,我们对于测试图案的产生方法进行了研究,提出了几点看法并用于研制大规模集成电路设备的实践.与北京无线电仪器厂合作研制了:     

大规模集成电路测试图案产生方法的研究,

<正> 一、引 言 大规模集成电路测试设备的核心是测试图案发生器.为发展我国大规模集成电路的测试设备,我们对于测试图案的产生方法进行了研究,提出了几点看法并用于研制大规模集成电路设备的实践.与北京无线电仪器厂合作研制了:     

SOC测试系统将成为主流IC测试设备

SOC(系统级芯片)测试对IC ATE(集成电路自动测试设备)制造商提出了挑战,同时也提供了新的发展机遇.目前,各种系统级芯片不断面世,包括数字蜂窝电话芯片、PC图形芯片、电缆调制解调器芯片、千兆以太网交换器芯片、网络控制器芯片以及各种多媒体器件.这预示了SOC测试将是未来几年ATE市场中的一个新增长点.SOC对测试设备要求非常高,它要求设备能测试芯片上的数字逻辑电路、模拟电路和存储器.低成本、多功能SOC测试设备对集成电路制造商有更大的吸引力,因为这种设备的测试能力能替代多台单功能IC ATE.     

CAD和CAT系统的数据交换

一、前言随着微电子技术的飞速发展，集成电路的规模越来越大，设计周期越来越短，对测试的要求也越来越高，用传统的测试编程方法已难适应集成电路高速发展的需求。因此，在电子设计自动化（EDA）技术日趋完善的今天，通过在电路设计的同时进行故障模拟和可测性分析，借助CAD的软硬件，采用响动测试图形生成技术（ATPG）等加速超大规模集成电路测试码的产生，达到缩短集成电路测试程序及测试码的产生时间。因此目前国际上流行的CAT测试设备都能用网络和CAD连接在—起，互相之间进行程序和数据的传输，但我所目前使用的8032测试系统…     

集成电路测试仪器选购点滴

集成电路是微电子产业的主流产品,是电子产品的核心部分。集成电路测试仪器是研究、设计、试制、生产、应用集成电路必不可少的关键仪器,集成电路被用于什么领域和部门,集成电路测试仪器也就随之进入什么领域和部门。从用途来说,集成电路测试仪器只用于测试集成电路。从应用领域来说,它用于一切和集成电路打交道的单位:不管它是工厂、企业,还是科研机构和学校;不管它是军用或民用机构,还是生产和维修机构;不管是计算机行业、通信行业,电视机行业、家用电器行业、医疗设备行业,导弹卫星行业,还是其他什么行业。随着集成电路技术进步、品种增多、用量增大,其应用日益广泛。关心和应用集成电路测试仪器的单位和部门也越来越多。怎样选购集成电路测试仪器,就成了大家普遍关心的问题。这里,简要介绍选购集成电路测试仪器的各种问题供大家参考。     

如何保证集成电路的测试质量

阐述了集成电路的测试过程中，如何保证其测试质量的几个方面的问题。内容包括测试设备的硬件选择、测试软件的编写、集成电路测试结果的分析及集成电路的管理等。     

集成电路测试平台需求趋势分析

随着半导体科技的不断发展和进步,集成电路的集成度越来越高,对测试平台的需求也在不断变化。本文以十二五计划为时间节点,回顾之前国内测试设备选型历程,并分析了测试平台的发展趋势,对测试平台的选型给出了建议。     

集成电路失效分析方法与技术探究

集成电路的应用十分广泛,随着集成电路向着更小工艺尺寸,更高集成度方向发展,集成电路失效分析扮演着越来越重要的角色。一块芯片上集成的器件可达几千万,要想找到失效器件实属大海捞针,因此进行集成电路失效分析必须具备先进、准确的技术和设备,并由具有专业知识的半导体分析人员开展分析工作。     

VXI技术与IC/PCB测试

二十世纪六十年代,伴随集成电路的问世,诞生了集成电路测试设备行当。集成电路是个前无古人的开创性的产业,集成电路测试设备自然也无例可循,它与集成电路产品并行地走着,互相依托却各自发展的路。并从作坊式的行当发展成为现代化的产业。说它现代化,至少是它是第一种采用电子计算机控制的自动测试设备;它是普遍采用或全部采用计算机控制的自动测试设备。     

汽车如何推动新的可测性设计技术

正1背景介绍随着人们对安全关键应用设备,尤其是汽车IC(集成电路),提出了新的需求,DFT(可测性设计)技术又再次受到重视。越来越多的处理器被运用于汽车的刹车系统、发动机控制、平视显示器、导航系统和图像传感器等等。这些芯片必须满足非常高的质量和可靠性标准,所以芯片制造商也必须进行高水平的生产测试和系统内部测试。不仅如此,他们还必须在尽可能提升测试水平的同时,确保测试时间     

一种高效测试交流参数的方法研究

随着科学技术的快速发展,集成电路都朝着高速、高精度方向发展,对保障电路质量的电路测试的速度和精度也提出了新的要求,尤其在交流参数测试方面要求也越来越高。为了实现比传统的测试方式更加快速准确的交流参数测试,利用V93000集成电路测试系统,通过对Smart Scale卡上pin脚通道的时间测试单元(TMU)进行编程控制,即可达到目标。     

先进供料器技术大幅提升表面贴装设备的产量和性能

安必昂公司(Assembl巓n)推出一款创新型双带供料器,为其表面贴装设备制定了全新的优化、高效和智能化的带式送料标准。新型供料器的设计以双带单槽(DualTapeSingleSlot,DTSS)技术为基础,用户可以增加机器上的8mm表面贴装器件(SMD)带装组件的数量。新供料器带式送料位置增至160个,将中等批量SMT贴装的工业标准FCMMultiflex贴片机及多功能贴片机的带装元件种类提高60%至70%。安必昂的新装机器均配备双带供料器,用户也可以方便地在现有的设备上加装这种供料器,无需改变供料器接口。双带供料器利用卷带步进装置的保留空间,将卷带重叠供…     

乒乓模式在IC量产测试中的应用

随着目前国际集成电路封装测试产业不断向中国转移,更多国际知名公司均希望在中国找到低成本、高品质的解决方案。集成电路测试作为品质把关的重要一环,其成本在整个集成电路产业链中占有较高比重。据统计,目前有很多集成电路的测试成本已高达整个集成电路生产成本的45%以上,因此,测试成本的有效降低能够明显减少集成电路制造成本。昂贵的集成电路测试设备是导致IC量产测试成本偏高的主要因素,需要负责IC量产测试的工程技术人员不断地探索和钻研如何最有效地使用这些测试设备。本文详细地阐述了如何使用乒乓测试模式充分利用设备资源,从而有效降低IC的测试成本。     

模拟集成电路直流参数测试

集成电路产业是当今社会三大信息产业之一,集成电路技术的飞速发展必然带动集成电路测试设备的不断更新,从而降低集成电路生产成本,提高生产效益。本文给出了一种基于AD5522的模拟集成电路直流参数测试系统设计方案。该方案利用AD5522和AD974构成多通道参数测试环路,设计并实现模拟集成电路直流参数测试系统。实验结果表明,与传统测试设备比较,该测试系统具有结构紧凑、测试速度快、精度高、可操作性强等特点。     

雷达射频集成电路的发展及应用

文中主要探讨雷达射频/微波集成电路的发展及其应用.介绍了现代雷达的发展趋势、雷达射频系统的演变历程以及目前国内外相关的射频集成电路的最新成果,讨论了射频片上系统(SoC)的未来趋势.针对现代主流的有源相控阵雷达,介绍了几种可行的系统级射频芯片的集成方向,最后强调了系统级射频集成电路测试在设计中的重要性,并给出一种基于模块化结构的自动测试设备(ATE)测试平台方案.     

孕育新时代技术的——爱德万测试(ADVANTEST CORP.)

ADVANTEST CORPORATION(株式会社爱德万测试)自创业40年以来,一直以“为支持最尖端技术而提供我们的技术与产品”为宗旨。迄今已推出多系列的测量仪器及测试设备。尤其在集成电路测试系统方面,作为世界上最主要设备制造厂商之一,我们拥有包括日本、欧美、韩国、台湾及东南亚地区的世界各著名半导体厂家在内的大批用户。在全球具有近万台的集成电路测试系统的装机成绩,使得我们一直居于世界范围集成电路测试设备市场占有率的榜首。     

TM—7模拟集成电路测试系统线接收器适配器设计

1 前言目前国内集成电路的常用测试设备为TM—6数字集成电路测试系统和TM—7模拟集成电路测试系统。主要解决了TTL数字集成电路、CMOS集成电路及一部分线性电路如集成运算放大器、集成稳压器、电压比较器、A/D转换器、D/A转换器的测试,但其余大部分线性电路的测试问题还未能得到解决。我们在用TM—6测试时基电路555的基础上得到启示,形成了在TM—7上设计测试线接收器所用适配器的设计思想,在此作一详细介绍。     

数字IC测试系统的发展趋势

随着数字集成电路性能的不断提高,数字集成电路测试系统也相应得到了迅速发展。主要表现在以下几方面: 测试通道数增加数字电路集成度的不断提高和专用集成电路的出现,器件的引脚数不断增加,使得数字测试系统的测试通道数相应不断增加。由测试中、小规模集成电路的24通道测试系统,测试大规模集成电路的48通道、64通道测试系统发展到测试超大规模集成电路的128通道、256通道甚至更多通道数的测试系统。如日本Advantest公司的VL-