Simi—100数字集成电路多值逻辑测试仪

Simi-100数字集成电路多值逻辑测试仪，是聚星电子技术研究所通过总结国外同类产品的优点，本着实用、方便、测试精简的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪（并且在不断地完善之中）。该仪器特别适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。     

GH3123A集成电路自动测试仪性能简介

GH3123A型集成电路自动测试仪(以下简称测试仪),适用于24脚以内中、小规模数字集成电路逻辑功能与直流参数的测试。测试对象为TTL、CMOS、HCMOS、HTL系列器件,包括各类门电路、组合电路、时序电路(触发器,计数器,移位寄存器)及MOS开关等。测试仪采用微处理器控制,2000多种器件的测试程序,固化在机内EPROM中,只要输入被测件(DUT)的型号就可自动完成测试并自动判断DUT是否合格。测试结果采用CRT显示并伴有声音提示,可连接标准打印机打印输出。测试仪采用变电源测试逻辑功能,测试严格。精确的微电流测试,完全满足CMOS电路的测试要求。测试仪具有管脚接触判断功能,能自动判断接触不良的管脚号并中止测试。测试仪软件功能齐全,具备多种测量模式可供用户选择,测试操作简单,可靠耐用,性价比极高,是工厂、部队、院校和科研单位用于测试数字集成电路先进的检测工具。该测试仪具有如下特点:     

仪器

◆利用独创的多值比较法对器件进行快速的参数和功能综合测试。 ◆用户可按不同的要求选择测试模式,对器件进行直流参数测试。以区分IC品质,快速分选。 ◆可靠实用。经该产品测试过的器件,可以放心地上机使用,真正解决产品质疑问题。 ◆高档数字IC功能参数测试仪。操作简便.测试成本低谦廉,实用可靠。仪器     

基于LabVIEW的集成电路测试分析仪

为满足高校实验室对数字集成芯片的测试需求,利用LabVIEW软件和单片机技术,设计实现了集成电路测试分析仪。与常见的集成电路测试仪相比,系统的特色在于依托LabVIEW强大的数据分析和图形显示功能,不仅能完成常规74系列芯片的功能测试,还提供了任意输入数据编辑和波形显示功能,有利于初学者准确掌握和深入理解芯片的逻辑功能。设计中利用SN754410设计了管脚上电电路,使用USB／串口转换电路实现上位机与控制器间通信。实验表明,系统功能测试正确,运行稳定,波形图显示直观便捷,为芯片测试和数字逻辑验证提供了有力工具。     

基于ATE的SRAM测试

随着集成电路技术的飞速发展,SRAM的应用越来越广泛,其测试技术也得到了广泛的重视和研究。简要介绍了SRAM的重要组成部分,提出了一种ATE对SRAM测试的方法。SRAM的测试有功能测试、直流参数测试、交流参数测试,功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的。以IS61LV51216-10TLI为例,其功能测试是通过Ultra Edit软件编辑生成测试码,对被测器件各个不同存储单位进行读写操作,以检查其功能。主要论述了SRAM功能及交流参数的测试关键技术及其注意事项。     

直接数字频率合成器（DDS）测试方法研究

分析了DDS器件的接口特点,以GM495X为例,研究了DDS器件的功能测试与参数测试方法。通过扩展GPIB接口的方法,实现了在Verigy93000自动化测试平台上进行DDS参数测试。并实际验证了测试方法的有效性,对测试中需要注意的问题进行了归纳。对其它集成电路产品的设计、检测有参考价值,同时对verigy 93000 SOC自动测试平台的扩展方法也有借鉴意义。     

边界扫描在带DSP芯片数字电路板测试中的应用

为了解决带DSP（数字信号处理器）芯片数字电路板中部分非边界扫描器件的功能测试难题,采用了边界扫描测试技术与传统的外部输入矢量测试相结合的方法,对一块带有DSP芯片数字电路板中的非边界扫描器件进行了功能测试。测试结果表明,该测试方法能够对这部分器件进行有效的故障检测和故障隔离,并可将故障隔离到芯片。充分说明这种应用边界扫描技术与传统测试方法相结合的功能测试方法能够有效地解决带DSP芯片数字电路板中部分非边界扫描器件的功能测试问题。     

基于FPGA的数字IC交流参数测试系统研究

大规模集成电路的应用促进了国民经济的发展,同时带动了各类集成电路自动测试系统的发展,特别是高速器件的测试要求交流参数测试稳定性好,分辨率高。基于这一要求,介绍了数字集成电路交流参数测试系统的基本构成,并且介绍了数字集成电路交流参数测试的基本内容和测量方法,讨论了内插技术在时间测量上的应用和FPGA中专用时间进位链构建延迟线的基本方法,研究了该技术在数字集成电路交流参数测试仪上的应用,最后应用软件QuartusⅡ9.0验证了延迟线实现方法,并且给出了仿真波形和测试结果。     

SunSet手持式xDSL测试仪

SunsetXDSL将多功能测试标准化的概念应用于手持式测试仪。SunSetXDSL具有以下的测试功能：频谱分析仪、宽带传输测试仪、TDR、ATU－R、ATU－C、HDSL调制解调器、SDSL调制解调器、IDSL调制解调器、VFTIMS、DMM、加感线圈探测器、T1测试仪、ISDNBRI和即将推出的其它性能。一台带有HDSL应用的传统的T1测试仪或者综合以上及其它功能组成的多功能手持式测试仪。用户可充分利用其诊断功能来快速确定业务故障的原因及地点。而这些工作只需一人即可完成。SunsetxDSL可用于双绞线应用测试。它还带有宽带传输测试加感线圈探…     

SRAM存储器动态参数测试向量分析

半导体存储器一般由存储体、地址译码驱动器、读/写放大器和控制电路组成,是一种能存储大量信息的器件,它是由许多存储单元组成的。半导体存储器的测试有功能测试、直流参数测试、交流参数测试,而功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的。SRAM(静态随机存储器)的功能测试是通过算法图形发生器产生不同的测试图形,对被测器件各个不同存储单位进行读写操作,以检查其功能。主要讲述了SRAM交流参数测试原理及其测试关键技术,介绍了SRAM交流参数测试的故障模型。通过研究SRAM交流参数测试图形向量,给出了SRAM交流参数测试图形向量的优化方法。     

用单片机制作数字电路测试仪

<正> 集成电路的测试是一件经常性的工作,在一批电路里,电路是好是坏从表面上是看不出来的。如用简单办法,给电路加电源用万用表测,则是一件非常麻烦的事,因为一块电路有好多脚,要按照真值表一拍拍地测,是一件困难的事。对一般用户而言,数字电路只需进行功能测试,也就是只要判别其逻辑功能是否符合真值表即可。下面介绍一种数字集成电路功能测试仪的制作方法。     

ZJC-7数字集成电路测试仪

一、概述我所新近研制的ZJC-7数字集成电路测试仪是精密的数字式测量仪器,用于测试最大外引脚为24的数字集成电路的功能和各种直流参数。测量精度为被测值的±1％±1个该量程的二进制码。仪器由测试仪本体、监视器、计算机及外存器组成。 ZJC-7数字集成电路测试仪是采用Z-80CPU微机控制下的智能化测试仪器,能自动完成型号搜索,新旧型号转换,测试其功能与直流参数,并立即将测试结果直接在屏幕上显示出来。还可以连接打印机打印测量结果。具有自动故障定位指示,检测、维修方便准确。     

变容二极管电容测试及分类仪

<正> 前言 我厂是生产变容二极管的专业厂。为了精确地测试变容二极管的电参数,六十年代中期我们从日本东京DENPA KDGYO公司引进TMD—122C型变容二极管测试仪,由电子管组成,表头显示,可测试反向电流I_R、电容C和电容电压变化指数n值。“六五”期间我们从美国HP公司引进4277A型变容二极管电容测试仪,由集成电路和分立器件组成,数字显示,可测试电容C。“七五”期间我们准备从日本国洋电子公司引进SM—1018C型或SM—1018E型变容二极管电容测试及分类仪(以下简称分类仪),或从日     

带微处理器的数字电路测试系统

一、前言半导体技术的发展,使数字电路的品种越来越多,集成度越来越高,功能越来越复杂.要对这些电路的直流参数和动态功能进行测量其困难也越来越大,一般排题板式的或程序控制式的测试仪就其灵活性和适应性而言,已不能满足器件发展的需要.而数字电路应用的普遍化又强烈地需要一种测量范围广泛、功能强、使用方便的测试仪器.特别是高集成度的中、大规模器件的出现,对测试仪器的功能提出了更高的要求.目前,由计算机控制的全自动测试系统突破了程序控制式自动测试仪所无法解决的重大技术难题,使中大规模集成电路的全面测试成为可能,使仪器的测试能力大为扩展,测试效率大大提高.但是这些设备规模庞大,价格昂贵,一般的单位不易采用.针对这种情况,我们设计了ZJC-1型集成电路测试仪,此项设计着眼于价格低而又具有系统设计灵活性的微处理器,提出一种基于8080A微处理器的数字电路测试系统方案.由于充分利用了微处理器的控制功能和I/O能力,加上必要的一些测试通道,使该仪器既具有由计算机控制     

用微型机系统对RAM进行功能测试

由于微型机的出现和迅猛发展,为测量技术的发展开辟了一个崭新的局面。本文介绍我所研制的256位(64×4)、1024位(128×8)MOS静态RAM的功能测试方法。它是把被测的RAM组织在一个微型机系统中,用软件来测试的。它交付使用快、成本低、功能可随意扩展,容易满足各种测试要求。它是一种经济、有效、实用的测试方法。而且一台微型机既可测试不同容量的静态或动态RAM功能,也可完成其它微型机所需的器件的功能测试,还可以填写EPROM,以及测试其它各种集成电路等等。主要需编制适当的程序。     

TZ-603P型自动探针测试台

高速高精度机型.具有MAP显示功能,主要适用于半导体分立元件,光电元件的自动中测,可遮光测试,具有MAP显示功能.它与测试仪连接后,能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试.     

平显/武器瞄准系统数字板的故障诊断研究

针对现役的机载平显/武器瞄准系统(HUD)数字电路板的电路原理和特点,将其分为3种故障检测与定位对象,即CPU板总线器件、CPU板非总线器件和不带CPU的普通数字板。这3类对象,可分别采用处理器仿真测试、数字集成电路的实时仿真测试和基于电路板的功能测试方法进行故障检测与定位。基于这3种对象与方法的组合,从硬件、软件上构建的平显/武器瞄准系统数字板故障诊断系统,能够适用于各种HUD数字电路板的故障检测与定位,且其故障检测与定位深度可达单个内场可更换单元。     

CMOS IC漏极静态电流测试技术的现状与发展

全面介绍了CMOS集成电路漏极静态电流(IDDQ)测试技术的现状、应用及其发展趋势。与其它主要用于检测逻辑功能的测试技术不同，IDDQ主要用于检测电路的物理缺陷和工艺故障。作为逻辑功能测试的重要补充，IDDQ技术可提高集成电路的可测性和故障覆盖率，保证集成电路的可靠性。     

世讯商情网

品名规格型号单位 J参考价 J联系充法各种仪器、仪表函数信号发生器(SlOla改型)100MHz频率计100MHz多用频率计ASlO】DAS3343As33731030元960元1900元上海无线电仪器厂地址:上海乍浦路71号电话:(021)63240110传真:(021)63248485中周变压器中周变压器lO“:口、Au、FU7“:p、AU、FUPCPCHK0.35元HK0.45元厦门高明电子有限公司地址:厦门杏林区杏东路39-1号房电话:6078888邮编:361022数字集成电路测试系统(可测48pin)数字集成电路测试系统(可测32pin)线性集成电路图示仪线性集成电路测试系统智能化晶体营综合参数测试仪智能化半导体…     

系统设计选型指南

美国模拟器件公司(Analog Devices Inc.)是世界上最大的线性集成电路、混合信号集成电路和数字集成电路制造商和供应商之一,其产品主要用于仪器仪表、工业自动化、通信及军事-航天领域的数据转换、放大和处理。为了帮助用户如何从系统设计角度选择合适型号的器件,我们试图通过许多典型系统设计的信号链路图,给出从ADI公司器件中选型的一种方法。本期首选“血液分析仪”和“智能工业变送器”作为本栏目的开头,以后将陆续登出其它系统的信号链路图,欢迎广大读者和用户提出宝贵意见和建议,共同把本栏目办好。