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确定了用X射线荧光光谱法测定硫铁矿选矿尾砂中主量元素含量的最佳测定条件,该方法简单、条件易控制,Si O2、Al2O3、Ca O、Mg O元素的相对标准偏差分别达到0.40%、0.78%、3.6%、5.9%。经大量实验证明,采用本方法测定,准确度较高,操作方便,结果令人满意。 相似文献
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通过人工配制和化学分析方法定值作为标准样品,扩大了锡元素标准曲线的测量范围.采用理论a系数和经验系数法校正基体干扰,锡的测定范围0.01% ~5.00%,相对标准偏差(RSD)为0.850% ~1.471%.本方法的测定结果与碘酸钾容量法测定结果基本一致,能满足矿石中低品位锡元素的检测. 相似文献
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采用波长色散型X射线荧光光谱法中熔融玻片法测定滑石中的主、次元素含量,在制备熔融玻片样品时,选择10 mg无污染、脱模效率高的溴化锂做脱模剂,在取得好的脱模效果的同时使测试的元素氧化物含量结果更准确。 相似文献
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本文采用粉末直接压片制样,波长色散X射线荧光光谱法对地质样品中的卤族元素(F、Cl、Br)进行同时测定。通过标准物质建立工作曲线,采用经验系数法、背景内标法和Rh Kα康普顿散射内标法校正F、Cl和Br的基体效应和谱线干扰。确认了Mo Lγ1对Cl Kα,As Kβ对Br Kα存在谱线干扰,本方法测定标准物质中Cl和Br的相对误差(RE)均小于7%,F相对误差均小于12%,F、Cl和Br的精密度(RSD)均小于6%,并与氟离子计、元素分析仪和离子色谱仪的测试结果进行比较,准确度、精密度和检出限符合DZ/T0258-2014《多目标区域地球化学调查规范(1︰250000)》要求。具有操作简便、准确度高、成本低的特点,同时通过实际工作验证,本方法适用于测定大批量的地质样品。 相似文献
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选用高温预氧化熔片制样,应用理论系数法和散射线内标法校正元素间谱线干扰和基体效应,用X射线荧光光谱法测定铝土矿中硅、铝、铁、钾、钠、钙、镁、磷、钛、锰、硫、锆、锶、钒、铬、镓等16种主次量组分,各相对标准偏差(RSD,n=11)均小于10%,测定值与外检结果吻合. 相似文献
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采用偏硼酸锂熔融制样的方法,建立了白炭黑中二氧化硅、三氧化二铝、氧化钠、氧化钾、三氧化二铁、氧化钙、氧化镁、二氧化钛、氧化锰的X射线荧光光谱分析方法。熔融实验结果表明,以碘化铵作为脱模剂,熔剂和样品质量比为5∶1,在1 100 ℃下熔融10 min可得到较好的熔样效果。选用与白炭黑基体类似的硅质砂岩标准物质,同时将其与光谱纯二氧化硅按不同比例混合配制成组分含量有一定梯度的校准样品,有效地解决了白炭黑XRF测定的校准样品缺失的问题,并采用变化的理论α影响系数法对基体效应进行了考察。精密度实验结果表明,各组分的相对标准偏差(RSD,n=11)在0.33%~7.71%。用本方法对实际样品中上述成分进行测定,与湿法化学分析法结果一致。 相似文献
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《应用化工》2022,(Z2)
利用X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了钻探岩心样品中Si、Al、Fe、Mg、Ca、Na、K、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ba、Nd、Yb、Hf、Ta、Pb和Th等33种主次量元素,研究了元素基体校正、谱线重叠校正和方法检出限、精密度、准确度。结果表明,该方法除Mo的检出限0. 8μg/g超出地球化学普查要求检出限0. 5μg/g外,其它元素都在要求范围内;绝大多数主、次量元素的精密度(RSD,n=12)均小于5%,主量和次量(除Mo外)元素的准确度分别小于0. 07和0. 11,方法精密度和准确度都满足地球化学普查的要求。该法具有操作简单、多元素分析、非破坏性测定等特点,适用于大批量钻探岩心样品的分析生产。 相似文献
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使用粉未压片法制取样品,X射线荧光光谱法测定大理石中氯含量。确定了方法最佳测定条件,该方法操作简便,分析速度快,条件易控制,氯元素的相对标准偏差(RSD)为5.7%。经大量实验证明,采用本方法测定,分析时间短,准确度较高,结果令人满意。 相似文献
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铜矿石种类繁多,矿石赋存状态也各有不同,其成分相当复杂。大部分的铜矿石X射线荧光光谱(XRF)分析方法中,对于标准样品物质的选取个数和矿石种类少、分析范围大,与实际样品类型差异较大,且制备的标准样品圆片质量不高。新一代X射线荧光光谱仪的出现以其方便、快捷以及多元素多通道的能够快速有效的检测铜矿石中存在各种物质,其在铜矿石的测定中发挥了巨大的作用,但X射线在实际使用往往被发现其检测结果不能令人完全满意。然而这并不是其设备的原理所引发的,通常是由于操作者没能做到特别严谨、深入的了解其检测原理所致,本文从其原理着手,重点探讨了X射线荧光光谱法如何快速测定铜矿石中的造岩元素的应用问题。 相似文献
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叶蜡石、高岭土是玻璃纤维行业生产最主要原料。随着玻璃纤维行业的发展,其用量每年大幅度上升,因此对于叶蜡石质量要求越来越高。传统的湿化学方法已经很难满足要求。本文阐述了采用熔融制样x射线荧光光谱法测定叶蜡石、高岭土的SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、K2O、Na2O、CaO、MgO、S这9种成分的含量,所得结果与化学分析结果相符,同时采用荧光光谱法更为迅速快捷,是实际生产中的化学成分分析的一种有效方法。 相似文献
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