X射线荧光光谱法测定硫铁矿选矿尾砂中主量元素含量

确定了用X射线荧光光谱法测定硫铁矿选矿尾砂中主量元素含量的最佳测定条件,该方法简单、条件易控制,Si O2、Al2O3、Ca O、Mg O元素的相对标准偏差分别达到0.40%、0.78%、3.6%、5.9%。经大量实验证明,采用本方法测定,准确度较高,操作方便,结果令人满意。     

熔融制样-X射线荧光光谱法测定矿石中的锡

通过人工配制和化学分析方法定值作为标准样品,扩大了锡元素标准曲线的测量范围.采用理论a系数和经验系数法校正基体干扰,锡的测定范围0.01％ ～5.00％,相对标准偏差(RSD)为0.850％ ～1.471％.本方法的测定结果与碘酸钾容量法测定结果基本一致,能满足矿石中低品位锡元素的检测.     

熔融制样X射线荧光光谱法测定氧化钼中主次成分

采用无水四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂熔融制样,建立了用X射线荧光光谱(XRF)法测定氧化钼中MoO3、CuO、SiO2、CaO、Fe2O35种组分的方法。以Mo为主要分析元素分别对仪器参数、分析谱线、标准曲线进行了研究,并详细讨论了熔融法制样过程中熔剂的选择、熔融温度和熔融时间的确定、脱模剂的选择。该法用于分析氧化钼样品,同湿法结果相吻合,能满足生产中氧化钼样品中5种组分分析的需要。     

熔融制样-X射线荧光光谱法测定铈锆固溶体中的元素成分

探讨了用熔融制样-X射线荧光光谱法对铈锆固溶体中CeO 2、ZrO 2、La 2 O 3、HfO 2、Pr 6O 11进行全定量分析的方法。采用经验α系数和散射线内标法校正基体效应,以上海市计量测试技术研究院提供的GBE标准物质为基体制备标准样品,以四硼酸锂为熔剂、硝酸铵为氧化剂、碘化铵为脱模剂进行熔融制样,采用热电Advant’X型X射线荧光光谱仪分析,结果与标准值或化学法相符。     

溴化锂含量影响X射线荧光光谱法测定滑石主、次元素的研究

采用波长色散型X射线荧光光谱法中熔融玻片法测定滑石中的主、次元素含量,在制备熔融玻片样品时,选择10 mg无污染、脱模效率高的溴化锂做脱模剂,在取得好的脱模效果的同时使测试的元素氧化物含量结果更准确。     

波长色散-X射线荧光光谱法测定地质样品中卤族元素

本文采用粉末直接压片制样,波长色散X射线荧光光谱法对地质样品中的卤族元素(F、Cl、Br)进行同时测定。通过标准物质建立工作曲线,采用经验系数法、背景内标法和Rh Kα康普顿散射内标法校正F、Cl和Br的基体效应和谱线干扰。确认了Mo Lγ1对Cl Kα,As Kβ对Br Kα存在谱线干扰,本方法测定标准物质中Cl和Br的相对误差(RE)均小于7%,F相对误差均小于12%,F、Cl和Br的精密度(RSD)均小于6%,并与氟离子计、元素分析仪和离子色谱仪的测试结果进行比较,准确度、精密度和检出限符合DZ/T0258-2014《多目标区域地球化学调查规范(1︰250000)》要求。具有操作简便、准确度高、成本低的特点,同时通过实际工作验证,本方法适用于测定大批量的地质样品。     

粉末压片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中有毒有害元素

以粉末压片制样,确定制样条件,仪器最佳参数,并绘制标准工作曲线,建立X射线荧光光仪测定铁矿中镉、铅、砷、硫、氟和氯等有毒有害元素含量的方法。并将检测结果与其他分析方法结果相比较。结果表明,粉末压片-X射线荧光光谱法测定铁矿中6种有毒有害元素方法快速、准确、可靠。有效解决传统化学分析法周期长、操作繁琐、试剂消耗量大和对环境污染等问题。     

X射线荧光光谱法测定铝土矿中的主次量组分

选用高温预氧化熔片制样,应用理论系数法和散射线内标法校正元素间谱线干扰和基体效应,用X射线荧光光谱法测定铝土矿中硅、铝、铁、钾、钠、钙、镁、磷、钛、锰、硫、锆、锶、钒、铬、镓等16种主次量组分,各相对标准偏差（RSD,n=11）均小于10％,测定值与外检结果吻合.     

熔融制样测定硅酸盐样品中的主、次成分

本文利用日本理学PrimusⅡ型X射线荧光光谱分析仪,对硅酸盐主要成分SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、MnO、TiO2、P2O5进行了同时测定,得到了满意的结果,并通过方法实验对熔融制样的影响因素逐一探究、讨论,以求得到最佳的熔融制样条件。     

X射线荧光光谱法测定 白炭黑中主、次、微量成分

采用偏硼酸锂熔融制样的方法,建立了白炭黑中二氧化硅、三氧化二铝、氧化钠、氧化钾、三氧化二铁、氧化钙、氧化镁、二氧化钛、氧化锰的X射线荧光光谱分析方法。熔融实验结果表明,以碘化铵作为脱模剂,熔剂和样品质量比为5∶1,在1 100 ℃下熔融10 min可得到较好的熔样效果。选用与白炭黑基体类似的硅质砂岩标准物质,同时将其与光谱纯二氧化硅按不同比例混合配制成组分含量有一定梯度的校准样品,有效地解决了白炭黑XRF测定的校准样品缺失的问题,并采用变化的理论α影响系数法对基体效应进行了考察。精密度实验结果表明,各组分的相对标准偏差（RSD,n=11）在0.33%~7.71%。用本方法对实际样品中上述成分进行测定,与湿法化学分析法结果一致。     

X射线荧光光谱法测定钛酸钡中主次元素含量

用粉末压片X射线荧光光谱法测定BaTiO3中Ba、Ti、Mg、Si、Fe、Sr含量。根据钛酸钡样品中主次成分含量范围,采用在高纯钛酸钡样品(纯度≥99.99%)中加入梯度量各杂质元素标准溶液的方法制作校准样品系列,解决了无钛酸钡标准样品的问题。采用经验影响系数法纠正基体效应,并对较准样品的配制方法、压片机压力、粒度效应等进行了探讨。方法用于钛酸钡中主次元素含量测定时,测定结果与化学分析法相符,相对标准偏差均小于6.73%。     

X射线荧光光谱法测定钻探岩心样品中的主次量元素

利用X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了钻探岩心样品中Si、Al、Fe、Mg、Ca、Na、K、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ba、Nd、Yb、Hf、Ta、Pb和Th等33种主次量元素,研究了元素基体校正、谱线重叠校正和方法检出限、精密度、准确度。结果表明,该方法除Mo的检出限0. 8μg/g超出地球化学普查要求检出限0. 5μg/g外,其它元素都在要求范围内;绝大多数主、次量元素的精密度(RSD,n=12)均小于5%,主量和次量(除Mo外)元素的准确度分别小于0. 07和0. 11,方法精密度和准确度都满足地球化学普查的要求。该法具有操作简单、多元素分析、非破坏性测定等特点,适用于大批量钻探岩心样品的分析生产。     

X射线荧光光谱法测定铁矿石中主次量组分

建立用X-射线荧光光谱法同时测定铁矿石中主次量组分(TFe、SiO2、Al2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、TiO2、MnO、P)的快速分析方法,在优化条件下,采用国家标准样品建立的标准工作曲线和基体校准一体回归方程进行谱线重叠干扰和基体效应校正,对国家标准物质及样品进行重复测定,分析结果与标准值吻合,相对误差RE不超过5％,相对标准偏差RSD不超过5％.该方法具有较好的准确度和精密度,能满足快速分析的需要.     

X射线荧光光谱法测定大理石中氯含量

使用粉未压片法制取样品,X射线荧光光谱法测定大理石中氯含量。确定了方法最佳测定条件,该方法操作简便,分析速度快,条件易控制,氯元素的相对标准偏差（RSD）为5.7%。经大量实验证明,采用本方法测定,分析时间短,准确度较高,结果令人满意。     

X射线荧光光谱法快速测定铜矿石中的造岩元素的应用

铜矿石种类繁多,矿石赋存状态也各有不同,其成分相当复杂。大部分的铜矿石X射线荧光光谱(XRF)分析方法中,对于标准样品物质的选取个数和矿石种类少、分析范围大,与实际样品类型差异较大,且制备的标准样品圆片质量不高。新一代X射线荧光光谱仪的出现以其方便、快捷以及多元素多通道的能够快速有效的检测铜矿石中存在各种物质,其在铜矿石的测定中发挥了巨大的作用,但X射线在实际使用往往被发现其检测结果不能令人完全满意。然而这并不是其设备的原理所引发的,通常是由于操作者没能做到特别严谨、深入的了解其检测原理所致,本文从其原理着手,重点探讨了X射线荧光光谱法如何快速测定铜矿石中的造岩元素的应用问题。     

X射线荧光光谱法测定叶蜡石、高岭土的化学成分

叶蜡石、高岭土是玻璃纤维行业生产最主要原料。随着玻璃纤维行业的发展,其用量每年大幅度上升,因此对于叶蜡石质量要求越来越高。传统的湿化学方法已经很难满足要求。本文阐述了采用熔融制样x射线荧光光谱法测定叶蜡石、高岭土的SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、K2O、Na2O、CaO、MgO、S这9种成分的含量,所得结果与化学分析结果相符,同时采用荧光光谱法更为迅速快捷,是实际生产中的化学成分分析的一种有效方法。     

X-射线荧光光谱法测定催化剂中硫含量

采用X－射线荧光光谱中的基本参数法测定催化剂中硫元素含量，测量结果与化学分析法一致，此方法相对标准偏差小于7％，平均回收率为96％，检出限为0．01％，本方法简单，测定快速，测量结构准确。     

X射线荧光光谱法测定兰炭中铝含量

采用直接粉末压片法制备样品片,选用日本进口焦炭标准样品制作工作曲线,X射线荧光光谱仪直接测定兰炭中铝含量。该法分析结果与给定值相符;对同一样品测定10次,测定值的相对标准偏差小于10%,讨论了在压样压力30 t,保持时间30 s下样品片成型较好。选择三乙醇胺作为粘结剂,讨论了最优添加量为8%。方法快速、简便,满足了煤炭检验及生产需要。