直接栅MOSFET静电场传感器温度漂移模型和模拟

推导出了直接栅MOSFET静电场传感器的温度漂移系数,并研究了温度漂移的主要原因。此研究工作对消除直接栅MOSFET静电场传感器的温度漂移有一定的帮助。首先,建立了直接栅MOSFET静电场传感器沟道中电荷随温度变化的模型。其次,根据直接栅MOSFET沟道载流子浓度和载流子迁移率都为温度的函数,将直接栅MOSFET静电场传感器的温度漂移定义为由沟道载流子迁移率随温度变化引起的温度漂移系数αμ和由沟道载流子浓度随温度变化引起的温度漂移系数αQ,并对它们与温度的关系作了推导和研究。最后,对沟道载流子迁移率随温度变化引起的温度漂移系数αμ和由沟道载流子浓度随温度变化引起的温度漂移系数αQ进行了模拟和比较。模拟结果表明,温度漂移系数αμ远小于温度漂移系数αQ。因此沟道载流子浓度随温度变化是直接栅MOSFET静电场传感器的温度漂移的主要原因。     

通信终端设备的温度变化试验

环境可靠性是通信终端产品非常重要的一项性能指标,在产品前期研发设计阶段均需要进行一系列的环境可靠性试验,而温度变化试验是其中必不可少的一项关键试验。对温度变化试验的目标、标准和程序进行了详细的分析研究,报告了温度变化试验在通信终端设备中的应用现状,给出了把控温度变化试验全过程的技术建议,可提高实验室环境可靠性试验能力,并为业界提供了参考。     

热电测辐射热器中的噪声

热电测辐射热器是红外辐射热探测器的一个新发展。在热探测器中,入射辐射改变了测辐射热器元件的温度,然后又由从属温度依赖特性探测该温度变化。热电探测器中所用的从属特性就是大的自发电极化变化,在温度改变时有些材料中就会发生这种变化。这种材料是热电性的,并包括所有铁电     

真空微波器件排气过程中烘烤温度对阴极温度的影响

研究了烘烤温度对阴极温度的影响,实验表明在烘烤温度一定时,阴极温度的变化量会随着阴极初始温度的增大而减小,阴极采用恒压加热时其温度的变化小于恒流加热时的温度变化,并从理论上对实验结果进行了定性解释。最后研究了与微波管相近的电子枪结构中阴极温度受烘烤温度的影响,实验结果为避免阴极尤其是氧化物阴极在分解激活过程中造成阴极蒸发提供了很好的实验依据。     

单轴晶体电光调制器的温度特性

利用线性电光效应的耦合波理论,对单轴晶体铌酸锂电光调制器的温度特性进行了研究。通过计算机进行数值计算,详细分析出射光光强随入射光方向、温度的变化关系。发现在某些入射光方向上,出射光光强不随温度的变化而变化,并且在该方向附近,角度在一定范围内是可调的,温度的稳定性可以保持。进一步还发现,当极角θ固定在0°,方位角在0~π/2,温度在243~343 K范围内变化时,调制器的温度稳定性相当好;另外,当固定在π/8,θ在0~0.0032π范围内变化时,调制器的温度稳定性也很好,出射光强对入射光强之比几乎不随温度而变化。这一结果表明,可以通过调节入射光的方向来保证调制器的温度稳定性,而这些方向是可利用线性电光效应的耦合波理论计算得出的。     

卤化铊晶体折射率温度系数的理论研究

研究了卤化铊晶体的折射率温度效应,结果表明晶格常数变化引起的带宽变化对这类晶体折射率温度系数的影响不可忽视,且是负贡献。理论算得的折射率温度系数与实验结果一致。     

传感器实用电路两例

一、热敏电阻器电路精密温度测量和控制,以及补偿电路因温度变化导致特性的变化,均可用传感器,但传感器的特性必须不随时间变化。另外,还要求传感器响应速度快并能敏感温度变化。满足这些条件,若传感器温度的输出(电压或电阻值)是线性关系,输出十分大,则可省掉放大传感器输出及进行函数运算等信号处理,只要连接上普通的记录器或数字电压计,便可构成直读式温度     

捷联惯性导航系统中陀螺仪温度补偿技术的应用

大量的实验研究已证明温度的变化是影响陀螺仪误差主要因素之一。为了抑制陀螺仪温度变化带来的误差影响,本文首先根据实验数据辨识出器件的温度模型,然后推导出相应的补偿模型进行温度补偿,并采用Kalman滤波技术降低温度测量的噪声,从而提高陀螺仪稳定性。     

远距离高精度光纤双向时间比对方法研究

针对光纤传输链路因受光信号衰减、温度变化和振动等因素引起的光学相位起伏,影响时间比对精度的问题,研究了基于双向伪码测距原理的光纤双向时间比对方法,并搭建模型系统进行了实验验证。结果表明,通过单光纤双向双波长的传输方案,在65 km光纤链路上,抵消了往返链路传输时延的不对称性,使时间比对精度可达108 ps。温度变化引起光纤折射率变化是导致时延波动的主要因素,对温度变化与光纤时延的关系进行了分析和仿真,通过温度试验验证了光纤时延随温度变化的温度漂移系数与理论值相符。     

Z轴硅微机械陀螺仪温度特性研究

硅陀螺仪是近年来发展起来的一种新型角速度传感器,温度变化是其主要误差源之一.分析了温度变化对硅微陀螺仪的谐振频率和品质因数的影响,并选择常温下机械品质因数不同的两个陀螺在-40℃～80℃温度范围内进行测试,得出机械品质因数和谐振频率随温度变化规律.实验结果验证了陀螺仪谐振频率随温度升高而线形下降;温度变化时,封装陀螺仪抽真空度对陀螺机械品质因数产生明显影响.     

温度波动对PV型InSb探测器响应特性的影响

对激光照射下光伏型锑化铟光电探测器的响应特性进行了研究,得到了强激光辐照下温度波动（低温和常温温度波动）对探测器响应特性的影响。利用材料内部的光生电动势分析模型,通过数值模拟,给出了理论上的激光辐照下主要参数对探测器输出电压的影响。结果表明：输出电压随着温度的上升而降低,饱和电压也随着温度的上升而降低。特别是低温与常温下的响应特性有所不同,随着入射光功率的增大,低温下随温度变化的输出电压变化量减小,常温下随温度变化的输出电压变化量增大。     

长距离超高压输电线路覆冰期地线温度监测

本文报道了基于拉曼放大的长距离布里渊光时域反射(BOTDR)技术实现OPGW直流融冰过程中在线实时温度监测技术。研究发现OPGW在直流融冰时,内部光纤整个线路的温度变化非常不均匀,最大和最小温度变化差值可超过40℃。此外,在同一位置处,融冰前的日常温度变化与融冰期间的温度变化有相同的趋势。这说明日常温度变化较大的位置处,在融冰期间也将有较大的温度变化,应该予以重点监控.     

光纤浸水模拟试验探讨

光纤浸在酸性溶液中的模拟试验表明,在受试光纤尾端测得的出纤光功率,随着试验时的溶液温度变化而明显变化。当溶液温度降低时,受试光纤的衰减变大,受试光纤出纤功率变小;反之变大。认为由温度变化引起的光纤微弯是造成衰减的主要原因。     

环境温度变化压电智能骨料信号稳定性试验研究

研究了压电智能骨料在环境温度变化时的信号稳定性问题,并明确其变化规律及分析原因,为基于压电智能骨料的混凝土结构健康监测奠定基础。将预先埋设压电智能骨料的小尺寸素混凝土梁置入恒温试验箱中,改变箱内温度并记录不同温度下的压电智能骨料信号能量值,利用试验数据拟合出信号能量值与温度之间的关系。试验结果表明,压电智能骨料信号幅值受温度影响变化明显且表现出明显的非线性变化规律及符合压电材料机电耦合系数随温度变化的规律,其原因是由于压电陶瓷材料本身弹性常数随温度变化,并在宏观上体现为机电耦合系数的变化。     

运算放大器的漂移

一、漂移的分类 在运算放大器中,通常所说的“漂移”这一名词,在大多数情况下指的是“由环境温度变化所引起的零位电压的变化”。因此,所谓低漂移运算放大器的概念就是“相对环境温度的变化零位电压变化小的运算放大器”。 上述的由环境温度变化产生的漂移叫做温度漂移,它与以下将叙述的其他漂移有区别。同样,本文叙述的温度漂移指的也是由温度变化引起的运算放大器的零位电压的变化。其用μV/℃单位表示。     

文摘

光纤光栅(FG)是用来在光纤芯内形成周期性折射率分布的,它发挥着波长滤光片的功能。正在研究利用光纤伸缩、滤光片选择波长的移动,把它当作探测温度变化或机械性应变的传感器来用。但是必须在区别和探测温度变化或应变上想办法,本文叙述了其中的一种方法。其结构是,温度变化取决于选择波长的两个布喇格FG(FBG)和FBG7倍周期的FG(LPG)连接。由于LPG波长移动量大,故温度变化可从两个FBG的中心波长处的强度差换算,而应变量则可以从FBG中心波长的移动量换算,从而能够鉴别温度变化和应变量。实验验证应变量为±9μm,温度在±1.5℃下可进行鉴别测量。还探讨了此结构中的传感器的校正方法。对不同温度常数的光纤光栅的使用及其测     

温度对Ka频段相控阵天线增益影响分析

由于外界环境温度和内部有源器件散热影响,Ka频段相控阵天线的温度变化范围可由-100℃以下升至200℃以上,温度如此大范围变化会引起天线性能变化。针对该问题,通过对天线阵元及天线整体建立热力学及电气仿真模型,计算并分析了温度对Ka频段相控阵天线结构参数和天线增益的影响,由此可知,温度影响分析是Ka频段及更高频段相控阵天线工程设计中的一个重要步骤。     

卡式红外光学系统光机分析及结构优化

光学仪器通常都工作在一定的温度环境中,温度变化将造成光机系统的结构尺寸以及光学介质的特性等参数发生变化。针对卡式红外光学系统工作环境温度变化范围大的特点,进行了热补偿结构设计。并利用有限元方法,对主镜及其支撑结构进行了分析,明确了导致镜面变形和结构参数变化的主要因素为大范围的温度变化。在此基础上,对支撑结构进行了改进和参数的优化设计。研究结果表明:改进后的结构是合理可行的。     

低发射率涂层对目标温度影响的数值模拟

根据传热学原理,建立了涂层目标的传热模型,计算了一日内目标真实温度和辐射温度随时间的变化以及涂层对目标真实温度和辐射温度的影响,结果表明:涂有低发射率涂层的冷静态目标的真实温度和辐射温度白天都有所降低,尤其是辐射温度,白天降低明显,但真实温度和辐射温度夜间变化都不明显;低发射率涂层对抑制目标红外辐射有一定的作用,而且采用不同发射率级差的涂层实施热斑点是可行的.     

石英谐振器用小型恒温器的研制

一、前言晶体的频率温度系数虽然较小,但只是对较窄的温度范围而言,当温度变化范围较宽时,晶体的频率都随温度的变化而变化。例如AT切型的晶体由-40℃～ 100℃时频率的相对变化达10~(-5)数量级。为了减小温度变化时对晶体频率的影响,以前我们曾研制过双金属控制的恒温器,温度在-40℃～ 55℃变化时,能使晶体的频率稳定度达10~(-6)数量级(环境温度在-40℃～ 55℃变化时,恒温