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阐述金刚石切削工具在机加工中的重要作用和CVD金刚石的优异性能以及CVD金刚石切削工具的形式。对CVD金刚石薄膜切削工具和CVD金刚石厚膜切削工具的特点和应用范围进行了分析对比,并指出存在问题和发展前景。 相似文献
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不断发展的金刚石合成与应用技术 总被引:5,自引:0,他引:5
对金刚石的合成与应用技术进行了综合,重点介绍了人造金刚石行业具有里程碑意义的三次突破:第一颗金刚石的产生,金刚石膜的制成与爆炸法合成纳米金刚石,描述了金刚石行业的美好未来。 相似文献
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现采用微波等离子体炬法合成了金刚石薄膜,并探讨了微波功率变化对对金刚石膜质量的影响。结果表明:随着微波功率的增加,制备的金刚石薄膜结晶性越来越好;通过拉曼分析在微波功率800W,发现在1332cm-1处金刚石峰的相对强度最高,金刚石相纯度最高。 相似文献
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本文介绍了在常压下合成的类金刚石膜(AP-DLC films),并对其阻气性和硬度进行了测量.采用射频等离子体化学气相沉积法(RF-PCVD)可在室温下获得均匀的类金刚石膜(薄膜面积450mm2).薄膜的沉积速率随C2H2体积浓度的增加而增大,平均沉积速率约为12μm/min.最大沉积速率1μm/s,约是低气压等离子体化学气相沉积法下薄膜沉积速率(1~2μm/h)的2000倍.AP-DLC膜(1μm厚)的阻气性是未处理PET基材的5~10倍.采用纳米压痕仪测得AP-DLC膜的显微硬度约为3GPa.薄膜衷面粉状粒子的消除可以提高其显微硬度和表面粗糙度.本文报道了采用RF-PCVD法常压下合成DLC膜的物理性能.同时,总结了PET瓶沉积DLC膜以及常压技术和相关DLC膜的发展,主要研究了薄膜的阻气性和显微硬度. 相似文献
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为了解决在鉴别有合成金刚石薄膜的宝石材料和元膜宝石材料时可能遇到的问题,我们检测了一个厚约1μm、与基体分离的多晶金刚石薄膜样品。这种膜用标准显微镜检测方法很容易识别,在面反射光和偏振光下更是如此。对于在检测较厚薄片、单晶或者彩色合成金刚石薄膜和有刻面的宝石上的覆盖层时可能遇到的问题,本文也作了简要的讨论。 相似文献
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采用微波等离子体化学气相沉淀法合成了单晶金刚石膜,探索了化学气相沉淀法(CVD)单晶金刚石膜的生长机理.实验仪器采用石英管式微波等离子体化学气相沉积装置,种晶为3颗IaAB型天然金刚石原石,生长面近平行于(111)和(110)方向,生长温度为800℃,压力约为6 kPa,时间约为8 h.使用宝石显微镜和环境扫描电子显微镜观察分析了CVD单晶金刚石膜的生长表面形貌.结果表明,在生长面上可见明显的生长层,生长晶体无色透明,CVD单晶金刚石膜在生长面上横向外延生长,并形成定向的台阶状表面--"阶梯流".在相同的条件下,(111)方向上生长的CVD单晶金刚石膜比(110)方向上的更有序.H2浓度的大小对CVD单晶金刚石膜的质量有影响. 相似文献
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采用直流热阴级化学气相沉积(DC-PACVD)方法,以NH3+CH4+H2混合气体作为气源,通过改变氨气浓度,在单晶硅(111)基片上沉积纳米金刚石膜.采用扫描电子显微镜、原子力显微镜和拉曼光谱仪分析了不同氨气浓度下制备的纳米金刚石膜。结果表明:在基体温度为700℃条件下,随着氨气浓度的增大,纳米金刚石膜中的金刚石相含量增加,非金刚石相含量相对减少;晶粒的平均粒度减小。在一定范围内氨气浓度增加,有助于提高纳米金刚石膜质量;在氨气流量达到8 mL/min时,获得了质量最好的纳米金刚石膜,其平均晶粒尺寸约为64 nm、均方根粗糙度约为27.4 nm。并提出了掺氮纳米金刚石薄膜的生长模型,对相应现象给出了解释。 相似文献
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采用扫描电镜(SEM)、Raman光谱和纳米压痕法研究了氧离子注入对低硼掺杂金刚石薄膜微结构和力学性能的影响。结果表明,薄膜中注入较高剂量的氧离子并退火后,晶粒尺寸减小。氧离子注入导致薄膜中金刚石含量减小;1000℃退火后,薄膜中金刚石含量增加为99.8%。氧离子注入后,薄膜中的内应力由拉应力转变为压应力;退火后,薄膜内应力再转变为柱应力。氧离子注入后的金刚石薄膜的硬度较注入前的薄膜硬度有所降低,但其硬度仍然大于40GPa并具有良好的弹性恢复率。薄膜的力学性能与薄膜中的金刚石含量、晶粒尺寸和应力值有直接关系。 相似文献
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文章推荐了一种通过气体热导率来检测金刚石氮含量的分析方法。该分析方法精度高、重复性好、所需样品少、费用较低,不但能用于金刚石物性研究,也能广泛用于金刚石生产厂家或用户的金刚石质量控制。 相似文献
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