连续工作型电子装备战备完好率预计算法

运用可靠性和维修性的累积时间预计法，得出了装备的可靠性、维修性预计信息，基于装备的产品树结构，从战备完好的定义出发，给出了连续工作型电子装备战备完好率的算法，并对此进行了缜密的推导。     

电子装备战备完好性预测模型研究

以战备完好性的定义为基础，以实际的应用需要出发，基于装备的产品树结构，得出了电子装备平时处于连续非工作和连续工作状态下的两种最基本的战备完好性预测模型，并在对应的条件下对此模型的得出，进行了镇密的推理。     

电子装备战备完好率预测算法研究

从战备完好性的预测模型出发，基于装备的产品树，给出了装备处于连续工作状态和连续非工作状态的战备完好率预测算法。     

电子装备可靠性预计方法概述

对国际上常用的电子装备可靠性预计方法进行了分类,介绍了几种与多个工业领域相关的可靠性预计方法,对这些预计方法实现设定目标的能力进行了评估.各种可靠性预计方法的优缺点是在电子装备的研发过程中组合(同时或按一定的顺序依次)使用各种可靠性预计方法的依据.理解并掌握上述原则和方法,能够极大地提升我国电子装备领域的可靠性预计效率和准确度.     

军用电子装备模块化工作探讨

阐述了开展电子装备模块化的方法－深入理解模块化概念，明确研究对象；应用系统工程方法，合理划分模块；建立模块门类体系，拟制总体规划；开展模块化设计。提出了实现电子装备模拟化在技术、管理和政策方面的措施建议。     

大气波导对舰载电子装备作战性能的影响

大气波导是海洋大气近地层内普遍存在的现象,对海上舰船的电子信息装备作战性能有着非常重要的影响。介绍了大气波导的形成原因、分类和形成波导传播的条件,分析了大气波导对舰载雷达、电子对抗和通信系统的作战性能影响。最后提出了运用大气波导的方法措施。     

军用电子装备模块化工作探讨

阐述了开展电子装备模块化的方法──深入理解模块化概念，明确研究对象；应用系统工程方法，合理划分模块；建立模块门类体系，拟制总体规划；开展模块化设计。提出了实现电子装备模块化在技术、管理和政策方面的措施建议。     

深圳市电子装备产业协会

在国家包括电子装备业在内的《装备业振兴规划》的鼓舞下,在深圳市各部门的大力支持与帮助下,经过各企业积极努力,深圳市电子装备产业协会于2010年4月召开了第一次会员大会,标志着协会正式对外开展工作,第一届理事会也于2010年5月顺利召开了第一次会议,确定了协会及秘书处近期与远期工作任务。     

实施电子装备环境工程的探讨

电子装备的环境适应性是装备可靠性的基础.通过分析环境对电子装备的影响以及实施环境工程中存在的问题.提出了实施电子装备环境工程的总体思路和工作重点.     

装备战备完好性及其影响因素分析

介绍了装备战备完好性的概念和国外装备战备完好性的研究现状,在用战备完好率和使用可用度来度量装备战备完好性的基础上,从装备研制和使用两方面系统地分析了影响战备完好性的主要因素并提出解决思路。     

基于战备完好性的初始备件供应保障Monte-Carlo仿真

备件需求量和供应时间是备件供应保障过程的核心问题。按照战备完好性要求,建立了使用可用度与备件保障概率关系模型。采用Mento-Carlo法,对以战备完好性为中心的备件需求量、平均后勤延误及备件短缺风险进行了仿真,仿真结果对提高部队的综合保障能力,确定影响初始备件供应的原因具有指导作用。     

新型战备完好率模型

现行的战备完好率模型仅仅注重维修保障,而未考虑备件保障,在通常情况下,模型本身还高估了实际的战备完好性。使用可用度也不能代替战备完好率,两者的目标对象,工作、维修剖面,涉及的相关参数完全不同。提出了新的战备完好率模型,全面考虑了维修保障和备件保障两个方面的问题,更加符合战备完好性的涵义。对于可靠性、维修性和备件保障性参数的综合权衡,降低寿命周期费用,优化工程设计,该新型模型可以发挥重大的作用。     

航母编队电子对抗装备作战效能评估

重点论述了评估航母编队电子对抗装备作战效能的过程,采用蓝彻斯特方程作为航母编队电子对抗装备作战效能评估的数学模型,对航母编队电子对抗装备作战效能评估系统的建立有一定的指导意义。     

舰船电子设备抗湿热腐蚀对策

针对GJB150．9-1986湿热试验对舰船电子设备的严酷要求,分析了湿热环境下零部件腐蚀的主要原因,从设计和工艺两个方面介绍了设备抗腐蚀的实用方法。     

提高电路中元器件的使用可靠性

元器件的使用可靠性是整机可靠性的关键和基础。结合工作实践,对电路设计中元器件的使用性、失效原因进行了分析、总结,并提出了提高电子元器件使用可靠性的建议。     

电路设计中元器件的使用可靠性

元器件的使用可靠性是整机可靠性的关键和基础.结合工作实践,对电路设计中元器件的使用可靠性、失效原因进行了分析、总结,并提出了提高电子元器件应用可靠性的建议.