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相似文献
 共查询到16条相似文献,搜索用时 453 毫秒
1.
针对多条传输线间的串扰问题,在对耦合传输线信道传输矩阵进行特征值分解的基础上,提出了3条微带传输线间的串扰抵消方法,研究了该方法的电路实现结构,并给出了电路的相关参数.仿真结果显示,该方法能明显改善信号眼图的质量,串扰抵消效果良好.  相似文献   

2.
随着系统的工作频率及信号边沿转换速率的不断提高,串扰对于信号完整性的影响日益突 出.通过对传输线串扰形成机理的分析,使用Cadence仿真软件对系统中的DDR2SDRAM 的数据 线进行串扰仿真,给出了合理处理串扰问题的解决方案.对于数据线的近端串扰和远端串扰仿真分 析,在理论及仿真结果的基础上,可以通过减小耦合线长度、增大耦合线间距和减小反射等方法降 低串扰对于电路的影响.笔者提出了PCB设计中抑制串扰的一些有效措施,对于DDR2SDRAM 的信号完整性设计有一定的指导意义.  相似文献   

3.
提出一种可快速计算开槽结构中串扰特性的网络分析方法,该方法将返回平面开槽描述为槽线模式与微带线模式的相互耦合,进而将电路板结构分解为通过理想变压器连接的槽线结构和微带线结构模型.根据模型的级联特点,使用四端口传输矩阵进行分析.与全波仿真相比,此方法在保证准确度的前提下,可将分析时间从60min降低至30s.使用跨接于开槽两端的短路线来旁路槽线模式电磁场,从而改善传输特性,抑制串扰.仿真和实验测试表明,该方法可将近端串扰减小25dB,将远端串扰减小20dB.与传统的添加去耦电容方法相比,具有带宽大、布线方便、成本低等优点.  相似文献   

4.
提出了一种基于模式分解的高速互连电路中过孔串扰机制的快速求解方法.该方法将三维互连结构分解为在过孔位置处耦合的电源平面对结构和微带线结构,先单独分析3种结构,再将其级联以求解整个系统特性.与全波仿真方法相比,该方法在保证准确度的前提下,可将仿真时间从187min降低至4min.分析了电路板和过孔结构对系统性能的影响,发现频域串扰系数与电源平面结构在过孔位置处的传输阻抗成正比关系.在实际设计中,可通过减小电源平面对结构厚度、添加去耦电容和选择适当的过孔位置来减小串扰.时域仿真表明,合适的互连结构可将串扰噪声幅度降低至原有结构的2%.  相似文献   

5.
基于Hyperlynx的高速互连信号串扰分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
基于高速信号完整性理论,借助信号完整性分析工具Hyperlynx仿真软件,对高速PCB中造成信号串扰的多个因素进行仿真分析,并用该软件中的Board Sim模块对整板进行全局仿真和关键网络仿真分析.仿真结果表明,串扰随着线间距的增大而减小,当线间距是线宽的3倍以上时,两线间的串扰已经很小;串扰受信号频率的影响也比较大,随着频率的升高而变大;当耦合长度小于饱和长度时,串扰将随着耦合长度的增加而增加,但当耦合长度大于饱和长度时,近端串扰值将为一个稳定值;研究表明,合理的端接可以有效地减少传输线间的串扰.  相似文献   

6.
为解决飞机上导线间的电磁干扰问题,本文采用集总参数电路和分布参数两种模型对三导体传输线的串扰电压进行分析.并借助于MATLAB软件进行了频域的仿真,分析耦合长度、导线间距、对地距离等参数对串扰的影响.  相似文献   

7.
运用多导体传输线理论为均匀及非均匀介质中的传输线耦合情况建立相应的等效电路模型,借助Matlab软件对PCB板上三导体传输线的线间串扰进行仿真计算.首先分析终端为匹配负载的情况下,主串回路的电压变化对串扰电压的影响,然后分析了终端接电阻、电抗、阻抗三种不同的终端负载情况下串扰电压的变化.结果表明,串扰电压随主串回路电压的增加而增加,且匹配的电阻值能够减小串扰电压,容性负载对串扰电压的影响要比感性负载大.  相似文献   

8.
针对实际问题中传输线对地高度、相对距离和端接阻抗等参数表现出不确定性时的情况,提出了一种多导体传输线串扰不确定性问题的计算方法.该方法首先通过建立参数不确定的多导体传输线模型,依据多导体传输线理论,考虑模型具有安全阈值,结合基于最可能失效点的随机响应面法完成对多导体传输线模型失效概率的计算.通过比较,该方法得到的模型失...  相似文献   

9.
该文分析了混合信号电路中的衬底耦合噪声效应,采用TCAD研究了均匀掺杂衬底中的衬底串扰机制和几种减小衬底串扰的方法.同时,利用TCAD提取了衬底寄生参数,并将寄生参数应用于电路仿真中,能够快速预测衬底耦合噪声对电路模拟部分的影响.最后用一个单片sigma-delta模数转换器IC作为例子,仿真了由于衬底串扰造成的性能下降,并验证了采用减小衬底串扰方法后性能的回升以及各种减小串扰方法的有效性.  相似文献   

10.
介绍一种由普通光电耦合器设计而成的新型光耦隔离电路,它能较好的隔离输入输出信号,抑制串入的干扰噪声.该光耦隔离电路采用差分法和偏置法,具有结构简单、线性度好、成本低等优点.详述了该电路各部分的作用,并将其应用到三相并网逆变器中做了相关实验,实验表明该电路具有精度高、稳定性好等特点,验证了理论分析的正确性.  相似文献   

11.
针对旁路分析技术对小规模硬件木马检测精度低的问题,提出基于边界Fisher分析的硬件木马检测方法.定义规则式选择近邻样本,以减小样本与其同类近邻样本间距离和增大样本与其异类近邻样本间距离的方式构建投影子空间,在不对数据分布作任何假设的前提下,提取原始功耗旁路信号中的差异特征,实现硬件木马检测. AES加密电路中的硬件木马检测实验表明,该方法能够检测出占原始电路规模0.02%的硬件木马,优于已有的检测方法.  相似文献   

12.
应用PSPICE及采用C语言自编的外部程序,对单片数字锁相环电路中的衬底噪声及对电路性能的影响进行了模拟研究和分析,有助于进一步理解衬底噪声及衬底噪声对复杂的混合信号电路工作的影响,提出了实际应用中选择衬底类型的方法。  相似文献   

13.
Liquid indium‘s structure was studied at 280,390,550,650,and 750℃ respectively by suing an elevated temperature Xray diffractometer,and its radial distribution function(RDF)at different temperatures was decomposed into 4 Gaussian peaks in the range of 0.2-0.6nm.postitons of the decomposed Gaussian peaks were compared with the nearest and the second nearest neighbor atomic distances,respectively.It is shown that the position of the first decomposed gaussian peak is similar to the nearest neighbor atomic distance in liquid In at the corresponding temperature,and that of the thuird decomposed Gaussian peak is similar to the second nearest neighbor atomic distance.Morevoer,the first and the third Gaussian peaks correspond to the first and the second atom shells of liqud In at the corresponding temperatures,respectively.Therefore,the position and the area of Gaussian peaks can represent the postion and atom number of corresponding shells,Based on this result.short-range structural change in liquid In was studied.It was found that the first and the second shells are close to the referred atom.and the atom number at the shells decreases with the inreasing temperature from 280 to 750℃.In different ranges of temperature,structural Changes in the first and the second shells show diferent features.  相似文献   

14.
本文在对三相十二脉冲全波整流电路和三相六脉冲全波整流电路分析的基础上,对V-V联接电路做了探讨.对V-V联接电路的两种输入方式:三相电源输入方式和两线一地制输入方式进行了比较.实验结果表明:以三相电源输入方式输入的V-V联接电路加一电容滤波后可获得满足要求的紊波因子  相似文献   

15.
As the complexity of nanocircuits continues to increase,developing tests for them becomes more difficult.Failure analysis and the localization of internal test points within nanocircuits are already more difficult than for conventional integrated circuits.In this paper,a new method of testing for faults in nanocircuits is presented that uses single-photon detection to locate failed components(or failed signal lines)by utilizing the infrared photon emission characteristics of circuits.The emitted photons,which can carry information about circuit structure,can aid the understanding of circuit properties and locating faults.In this paper,in order to enhance the strength of emitted photons from circuit components,test vectors are designed for circuits’components or signal lines.These test vectors can cause components to produce signal transitions or switching behaviors according to their positions,thereby increasing the strength of the emitted photons.A multiple-valued decision diagram(MDD),in the form of a directed acrylic graph,is used to produce the test vectors.After an MDD corresponding to a circuit is constructed,the test vectors are generated by searching for specific paths in the MDD of that circuit.Experimental results show that many types of faults such as stuck-at faults,bridging faults,crosstalk faults,and others,can be detected with this method.  相似文献   

16.
提出一种建立于等效容量概念之上的带宽分配,将流量模型和静态信元速率分布两种方法相结合进行估算,对于单个接续的等效容量和多个接续的等效容量的复合影响均获得比较准确的近似结果,针对在有效带宽分配基础上的呼叫允许控制问题,通过借览一些多速率电路交换ISDN网中的方法得出非线性估算法计算有效带宽,其结果比较可靠,由于部分结果可在脱机状态下计算出来,因此联机运算量很小,最后给出了网络中汉量控制和路由选择的概  相似文献   

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