单晶材料断口结晶学小面的取向测定方法

本文论述了用X射线衍射仪和扫描电子显微镜对单晶材料断口结晶学小面的取向进行测定的方法,即图象测量标定法。     

单晶高温合金三维晶体取向的检测方法

本文提出了一种用多晶X射线衍射仪检测单晶高温合金三维晶体取向的方法,并用该方法对一种单晶高温合金进行检测试验,结果表明这种方法准确、方便、费用低。该方法也适用于其它单晶材料的三维晶体取向的测定。     

过渡金属硫酸盐的溶剂热合成及晶体结构表征

本文在贫水溶剂下成功合成两种新型的金属硫酸配住聚合物（ClN2H12）2Mn2（SO4）2Cl4（1）和（NH4）8[Co8（SO4）12]（2）通过单晶X射线、粉末X射线（XRD）、元素分析、红外（IR）、热重分析（TGA）对其进行表征。单晶X射线分析结果表明：化合物1属三斜晶系,P21／c空间群,在不对称单元图中有三个晶体学独立的Mn原子,两个晶体学独立的硫原子和四个晶体学独立的氯原子其骨架表现一维链状结构。化合物2属正交晶系,P21空间群,不对称单元图中有四个晶体学独立的钴原子和六个晶体学独立的硫原子,钴原子与六个氧原子配位形成八面体几何构型。     

ZnO单晶堆垒纳米棒的制备与表征

在Au点阵模板上磁控溅射ZnO薄膜,然后在O2气氛下1000℃退火制备了ZnO单晶堆垒纳米棒。采用扫描电子显微镜(SEM)、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)、X射线衍射(XRD)和傅立叶变换红外(FTIR)光谱对样品进行分析。结果表明,ZnO纳米棒是由诸多单晶堆垒而成,每个单晶均为六方纤锌矿结构,纳米棒直径在100nm左右。初步探讨了ZnO单晶堆垒纳米棒可能的生长机理。     

德国布鲁克AXS有限公司

德国布鲁克AXS有限公司是全球领先的专业研制和生产X射线分析仪器的公司,主要产品有X射线多晶衍射仪、X射线单晶衍射仪、X射线荧光光谱仪以及高分辨率CT成像系统,产品广泛应用于大学、研究所、政府实验室以及工矿企业等。     

X射线衍射分析用CaF2单晶载体的制作

本文提出一种制备CaF_2单晶载体方法。这种载体可适用于微量粉末样品的X射线衍射分析。     

Ni基单晶高温合金取向测定方法的研究

论述了在普通的多晶衍射仪上,利用固定2θ角,进行Omega扫描的非对称X射线衍射方法来测定Ni基单晶高温合金[001]取向的原理,对三个具有不同取向角度的Ni基单晶高温合金进行了取向测定,讨论了该方法可测试的单晶体偏差角的范围和进一步扩大测试范围的可能解决方法,以及测试中应注意的问题.利用带有偏差角的非对称扫描方法得到了单晶的(002)晶面的衍射线,讨论了得到该衍射线的意义.     

钛酸盐中钠离子含量对其水热转化制备TiO_2纳米材料的影响

采用水热法制备了单晶TiO2纳米材料。用X射线衍射仪和透射电子显微镜对产物的晶相组成和形貌进行了表征。考查了钛酸盐中钠离子含量对其水热转化所得TiO2产物的相组成、形貌和尺寸的影响。当pH值为1,含有钠离子时,得到的是以菱形为主的直径为10nm左右的单晶锐钛矿纳米颗粒,不含钠离子时,得到的产物以单晶锐钛矿纳米颗粒为主,同时含有少量单晶金红石纳米棒。当pH值为4,含有钠离子时,得到的是具有高长径比的单晶锐钛矿纳米棒,宽为60nm左右,长为300～500nm左右,不含钠离子时,得到的是尺寸为20nm×60nm的短纳米棒。同时,探讨了钛酸盐中钠离子的影响机理。     

无水[Cd（O2CH）2]的溶剂热合成及晶体结构表征

本文以二水醋酸镉为原料,通过溶剂热合成法,成功地合成了一种新型的无水[Cd（O2CH）2]配住聚合物。通过单晶X射线、粉末X射线（XRD）、元素分析、红外（IR）、热重分析（TGA）对其进行表征。单晶X射线分析结果表明：[Cd（O2CH）2]晶体属正交晶系,Pbca空间群。晶体结构中有一个晶体学独立的镉原子,其于来自6个甲酸配体的7个氧原子配位,形成扭曲的五角双锥配位构型。这些镉原予通过双齿桥连甲酸配体形成三维配位聚合物。     

单晶多孔ZnO制备及对室内空气污染物的气敏性能的研究

通过使用对液相法合成的前驱体进行煅烧的方法成功的制备了具有单晶多孔结构的Zn O纳米片。通过X射线衍射仪(XRD)、环境扫描电子显微镜(FESEM)、高分辨透射电子显微镜(TEM)对单晶多孔Zn O纳米片进行了结构以及形貌的表征和分析。以其为敏感膜,制作气体传感器,对室内空气污染物,包括苯和甲醛,进行检测。结果显示单晶多孔Zn O纳米片对苯和甲醛都有着良好的响应,且响应和恢复时间都非常迅速。对敏感机理以及材料的结构对响应时间的影响也进行了较深入的探讨。     

氨化Ga_2O_3/Pd/Sapphire薄膜制备GaN纳米线

利用金属元素钯作催化剂,采用磁控溅射后氨化法,成功的在Sapphire衬底上制备出GaN纳米线。X射线衍射和X射线光电子能谱研究显示合成的纳米线具有六方纤锌矿GaN结构。通过扫描电子显微镜,透射电子显微镜和高分辨透射电子显微镜观察分析得出GaN纳米线为单晶结构,其纳米线的直径约为10～60nm,长度达几十个微米。室温下以325nm波长的光激发样品表面,发现GaN带边发光峰有较弱的蓝移。最后简单讨论了GaN纳米线的生长机制。     

CH3NH3PbI3晶体的晶轴对其光电性能的影响

通过逆温结晶的方法制备了CH_3NH_3PbI_3单晶,用扫描电子显微镜观察晶体形貌、X射线粉末衍射仪测量晶体结构、拉曼光谱仪测量晶体光谱。此外,通过X射线单晶衍射仪确定了晶面方向,分别沿平行和垂直于晶体c轴方向对晶体进行切割,经打磨、抛光后在其对应的晶面上蒸镀电极进而制备出基于CH_3NH_3PbI_3单晶的光探测器。采用不同波长和偏振方向的激光照射光探测器的受光面后,测试了器件的光电特性。实验结果表明,当激光的电场分量E平行于晶体的晶轴时光探测器的光电流密度比电场分量E垂直于晶轴时(垂直样品)的光电流密度大两个数量级。通过计算得到,激光的电场分量E平行于晶体晶轴时,光探测器的光响应度(R)是垂直样品的58倍、光暗电流比(P)的10倍和外量子效率(EQE)的66倍。发现CH_3NH_3PbI_3单晶的晶轴对晶体的光电性能影响很大。     

X射线粉末衍射仪

1 引言 X射线粉末衍射仪的英文名称是X-ray powder diffrac-tometer简写为XPD或XRD。有时会把它叫做X射线多晶体衍射仪,英文名称为X-ray polycrystalline diffractometer简写仍为XPD或XRD。 本系列讲座曾介绍过X射线单晶体衍射仪。两者的区别在单晶体衍射仪分析的样品是一粒单晶体,任务是用来解析单晶体的结构。而用粉末衍射仪分析的样品是粉末,也即是一堆微小单晶的聚集体或称多晶体,其任务主要是用来分析多晶体聚集体的聚集态结构。此技术早在1916年即以建立,至今已有近90年的历史,不仅其应用面     

磁控溅射与氨化法催化合成GaN纳米棒

使用一种新奇的稀土元素作为GaN纳米棒生长的催化剂,通过氨化溅射在Si(111)衬底上的Ga2O3/Tb薄膜成功合成了大规模的GaN纳米棒.采用扫描电子显微镜,X射线衍射,透射电子显微镜,高分辨透射电子显微镜和傅立叶红外吸收光谱来检测样品的形态,结构和成分.研究结果表明,合成的样品为六方纤锌矿结构的单晶GaN纳米棒.最后讨论了GaN纳米棒的生长机理.     

采用同步辐射X射线衍衬貌相术原位实时观察单晶Cu—Zn—Al形状记忆合金的马氏体相变过程

采用高强度同步辐射白光束X射线衍衬貌相术原位实时研究了单晶Cu-Zn-Al形状记忆合金的马氏体相变过程。结果表明，马氏体变体首先在非完整晶区形核，由于马氏体变体之间及马氏体变体与母相之间的相互作用，使某些区域造成高度紊乱，经一次循环后，在这些区域留下了新的晶体缺陷，但是亚晶结构与原始状态一致。     

二因素随机效应模型下评估X射线单晶定向系统的重复性和再现性

提出一种以总角度偏差作为观测数据,通过适当转换,从而方便地使用二因素随机效应模型评估X射线单晶定向测量系统重复性和再现性的方法。使用该方法安排了三组实验,分别用MINITAB计算得出了三个测试系统的重复性和再现性,并由此证明了即使在X射线单晶定向系统的校准满足要求的情况下,其测试系统的重复性和再现性也不一定满足要求,需要随时监控。     

高温形状记忆合金Ni54Mn25Ga21相变及其形状记忆效应的研究

主要研究了马氏体相变温度Ms高于居里温度Tc的Ni54Mn25Ga21合金的相变及其单晶的形状记忆效应.采用真空电弧炉熔炼,然后用磁悬浮区熔晶体生长炉进行Ni54Mn25Ga21合金的单晶生长,成功制备了Ni54Mn25Ga21单晶.对多晶粉末样品进行了原位X射线衍射变温分析,结果表明Ni54Mn25Ga21合金具有可恢复的热弹性马氏体相变性能.对Ni54Mn25Ga21单晶进行的形状记忆效应实验结果表明,当总预应变不超过6%时,压缩变形后残留的应变可在随后的加热过程中完全回复.     

同步辐射的基本知识——第三讲 同步辐射中的散射术及其应用（二）

2广角X射线散射和广角X射线异常散射 2．1全径向分布函数的广角X射线散射（WAXS）测定 2．1．1一种原子的非晶物质的径向分布函数（RDF） 实际非晶物质可由一种原子或多种原子的组成,可能是各向同性或各向异性的。     

一种单晶光学晶体的晶面偏角及偏向测算方法

本文提出了一种运用三点法来求取单晶实际切割晶面相对于理想切割晶面方位角度的一种定向简便计算方法。单晶光学晶体晶面由于生长和切割误差等原因,往往造成实际切割晶面与理想切割晶面有偏角。为了获得这种偏角关系进行晶体的准确定向、切割加工,采用YX-2型X射线晶体定向仪与传统的数学计算方法相结合,运用三点法即可准确计算出实际切割晶面任意方位与理想切割晶面之间的偏角大小及具体偏向。晶体定向准确度高,操作方便,快速简捷,费用便宜,可准确地确定晶体的切割方向。     

沉积温度对ZrO2薄膜相结构和透射率的影响

利用射频反应磁控溅射在显微玻璃、单晶硅片、NaCl片和石英上沉积ZrO2薄膜.薄膜厚度80 nm～100 nm.利用X射线衍射仪、透射电子显微镜、X射线能谱仪、分光光度计和原子力显微镜研究了沉积温度对薄膜相结构和O/Zr、透射率的影响.研究发现,沉积温度升高,非晶相减少,结晶相增多;晶粒尺寸增大;沉积温度为370 ℃,透射率明显下降.