用多模分析方法测试介质谐振器复介电常数的频率特性

本文提出了测试微波介质谐振器复介电常数的多模分析方法。ＴＥ０ｍｍ高次模的谐一文提出了工得到，利用高次模谐振频率计算可工作模式从杂模中分辩出来测试，以考察复介电常数的频率特性。     

一种微波介质谐振器复介电常数测试方法

介绍了一种简单的微波介质谐振腔的设计及性能参数的计算方法，给出了相对介电常数ε1、介质损耗tan δ的详细求解方程，为微波介质陶瓷性能参数的测量提供了一种简单而有效的方法。     

用谐振腔—截止波导技术测量介质谐振器的复介电常数

在TE01n模谐振腔的一个端面中央,开一圆孔,连接一根等直径、适当长度的截止波导,当截止波导中置入介质谐振器时,使含介质段对TE01模呈传输态。介质谐振器的前向波导段用于调节耦合强弱,足够长度的背向波导段则形成匹配电抗终端或入金属场构成短路终端。这两种安排都能使置介质谐振前后的谐振腔产生相当大的谐振长度和Q甸子的变化,从而能获得准确的介质谐振器无载Q因子和介电常数。在X频段对陶瓷谐振器进行测量,获得满意的结果。     

微波介质谐振器鉴频器

本文介绍采用小型介质谐振器作为鉴别器的微波鉴频器的结构,列出简便的介质谐振器计算公式、数据表和实验数据。     

高温超导微波电路衬底材料复介电常数的测量

本文讨论了在液氮温度下高温超导微波电路介质衬底材料复介电常数测试技术。     

用谐振腔-截止波导技术测量介质谐振器的复介电常数

在TE01n模谐振腔的一个端面中央,开一圆孔,连接一根等直径、适当长度的截止波导,当截止波导中置入介质谐振器时,使含介质段对TE01模呈传输态。介质谐振器的前向波导段用于调节耦合强弱,足够长度的背向波导段则形成匹配电抗终端或置入金属场构成短路终端。这两种安排都能使置入介质谐振器前后的谐振腔产生相当大的谐振长度和Q因子的变化,从而能获得准确的介质谐振器无载Q因子和介电常数。在X频段对陶瓷谐振器进行测量,获得满意的结果。     

一种新型的微波介质谐振器高次倍频器

将微波介质谐振器应用于阶跃管高次倍频器中,这是一种新的尝试.由此构成的微波高次倍频器,既具有微波集成高次倍频器体积小、重量轻、加工简单的特点,又具有微波同轴腔高次倍频器对相邻谐波抑制度高的优点.因而是一种在星、弹航天设备中非常有用的微波固态源部件.已研制成的C波段22次倍频器,集成在两块20×60×1mm的氧化铝陶瓷基片上,对相邻谐波的抑制,在-40℃～+70℃温度范围内优于-50dB.     

用介质柱谐振器法测量低耗介质的微波特性

由于高介电常数，低损耗角的新型材料在微波技术中广泛应用，对介质测量技术提出了更高的要求，两端面由平行导体板短路的介质柱谐振器广泛用于低损耗角介电常数介质的精密测量。本文用并矢格林函数法讨论了测量的基本原理及有关参数的计算公式，同时也给出了实际测量中模式判别方法及测量误差的分析。     

电磁开腔测量双层介质复介电常数

本文提出了一种利用电磁开腔在微波和毫米波频段测量双层介质复介电常数的新技术。在８ｍｍ频段，利用一套电磁开腔自动测量系统对几种双层介质材料进行了具体测量。最后，对测量误差进行了理论分析，并给出了计算实例。     

电介质复介电常数的教学和实验

本文从时谐电磁场情况下电介质的电极化物理过程出发,通过理论推导建立了介质损耗与复介电常数的关系。在此基础上,以电容器为例得到了时谐情况下的等效电路,进一步得到电容器中电介质的复介电常数实部和虚部与频率的关系,并通过指导本科生测量电介质介质损耗角正切得到复介电常数的频率特性。     

高Q微波介质谐振器材料D_5的研究

研制出新型Ｄ５微波介质谐振器材料。该材料为ＡＢＯ３型钙钛矿化合物。化学组成式为Ｂａ（Ｚｒｘ，Ｚｎｙ，Ｔａｚ）Ｏｎ（式中ｘ＋ｙ＋ｚ＝１，ｎ为任意）。该材料具有稳定的工艺特性和良好的微波性能。１０ＧＨｚ下，无载Ｑ值Ｑ０＝９０００，相对介电常数εｒ＝３０，谐振频率温度系数τｆ（１０－６℃－１）在０附近可调。该材料的出现为Ｘ波段乃至Ｋｕ波段微波介质谐振器的应用提供了一种良好的可供选择的材料。     

分层媒质复介电常数测量的一种方法

本文给出一种测量分层媒质复介电常数的方法,经过多次测量复反射系数并建立恰当的目标函数,采用遗传算法求解这一优化问题可得到分层媒质的参数。测量结果表明,对于层数校少的媒质,在各分层厚度未知的民政部下仍可测得各分层的复介电常数,同时测得分层厚度。     

改进矩形腔微扰法测试微波电介质复介电常数

本文讨论了测试电介质微波复介电常数的矩形腔微扰法。对介质样品加载后的ＴＥ１０ｎ模矩形腔腔内场进行了理论分析。通过对腔内场的数值求解，得出了与微扰公式相似的、已修正的准确计算公式。     

平行板谐振法测量微波介质陶瓷介电性能

对平行板谐振法测量微波介质陶瓷的基本原理进行了阐述。介绍了该方法的硬、软件构成及其操作注意事项,并给出了部分测试结果。该方法具有测量简单、快速、准确的优点,但不适用于测量介质损耗较大的微波介质陶瓷。 r的测量误差为0.5%左右,Q值的测量误差为15%以下。     

同轴探头法测量片状介质材料的微波介电常数

提出了一种可用于测量片状介质材料微波复介电常数的同轴探头技术,该技术将同轴探头紧贴有导电衬底的片状介质,通过测量探头终端的矢量反射系数来确定介质的微波复介电常数。详细介绍了所采用的理论模型和测量系统。测量了一些常见介质材料的介电常数,测量值与理论值基本吻合。文章的同轴探头技术不仅可用于测量厚度较小的片状介质,而且可用测量样品量有限的液体。     

微波介质陶瓷材料综述

从使用微波介质陶瓷材料制作微波介质谐振器的角度，详细综述了微波介质陶瓷材料的特性、发展现状，讨论了提高微波介质材料性能的途径，指出了其今后的发展和应用方向。     

聚合物薄片的复介电常数微波测量方法

提出了一种在微波频域测量聚合物样品薄片复介电常数的方法,它利用自动测量线测试系统测量出电压驻波比和相角,然后采用级数各阶次展开方法,由反射系数推导出复介电常数.级数低阶次方法求解厚度较大的被测样品复介电常数时,为确保结果具有较高的精确度,要求测量频率不超过1.5GHz.为了克服这种测量频域的局限性,可采用级数高阶次展开方法来求解复介电常数.用级数展开方法测量聚苯乙烯、多乙酸乙烯酯和聚亚胺酯的复介电常数值,结果与真实值相近,可以和传输/反射法相媲美.