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该文根据施密特电路对输入信号具有两种检测阈值的工作特点,提出了施密特电路与用作存贮元件的触发器之间具有相同的时序特征。利用时序电路的设计方法,本文系统地研究了基于集成门电路的各种施密特电路,并发现了一些新的设计方案。PSPICE模拟证明所设计的电路具有理想的施密特电路特性。 相似文献
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三值电压型CMOS施密特电路研究 总被引:4,自引:0,他引:4
首先对二值CMOS施密特电路的设计思想进行了分析,指出设计施密特电路的关键为阈值控制电路。根据三值CMOS电路有两个信号检测阈的特点,提出了通过文字电路将两个检测阈分离后进行分别控制并由文字电路的输出去控制CMOS传输门的设计方法,由此设计了三值CMOS施密特反相器。PSPICE模拟证明了所设计的电路具有理想的施密特电路功能 相似文献
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触发器是构成时序逻辑电路的存储单元和核心部件。利用开关级设计的CMOS传输函数理论和信号流图,讨论了CMOS主从D触发器的工作原理;提出了CMOS触发器的一种传输函数分析法,并给出了应用实例。可以看出,这种方法对于CMOS触发器电路分析和设计是有效且方便的。 相似文献
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基于开关信号理论的控阈技术与三值ECL施密特电路 总被引:11,自引:4,他引:7
基于开关信号理论,本文对ECL电路中的阈值控制进行了研究,建立了用于描述旋密特电路中阈值可控开关工作过程听数学表示式。在此基础上设计了具有二次跳阈反应的三值ECL旋密特电路。对所设计电路的PSPICE模拟表明它具有理想的施密特电路特性。 相似文献
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基于开关信号理论的电流型CMOS多值施密特电路设计 总被引:2,自引:0,他引:2
以开关信号理论为指导,建立了描述电流型CMOS多值施密特电路中阈值控制电路的电流传输开关运算.在此基础上,提出了新的电流型CMOS三值和四值施密特触发器设计.所设计的电路可提供多值电流和电压输出信号,回差电流的大小只需通过改变MOS管的尺寸比来调节.所提出的电路较之以往设计具有结构简单,回差值调整容易以及可在较低电压下工作等特点.采用TSMC 0.25 μ m CMOS工艺参数和1.5V电压的HSPICE模拟结果验证了所提出设计方案的有效性和电路所具有的理想回差特性. 相似文献
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本文根据对称传输电流开关理论,设计了可具有多个输出的对称三值电流型CMOS施密特反相器。计算机模拟结果表明,它具有理想的施密特特性,并可根据需要调整回差。 相似文献
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基于开关信号理论的电流控阈技术及I^2L施密特电路 总被引:10,自引:0,他引:10
本文在开关-信号理论的指导下,采用电流信号表示逻辑值,对I^2L电路中如何实现阈值控制进行了研究,在此基础上,提出了实现阈值控制电路的接地开关运算表示式,并用于设计相应的三值I^2L施密持反相器电路,用PSPICE程序模拟证明了所设计的电路具有理想的施密特电路特性。 相似文献
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开关——信号理论与数字电路的开关级设计 总被引:3,自引:1,他引:2
本文在分析数字电路的传统设计理论中存在问题的基础上,提出了使用开关变量与信号变量来分别描写数字电路内部元件的开关状态与电路信号等二者,并由此出发建立了开关——信号理论。根据具体数字电路内部的工作原理,本文分别对CMOS与ECL等二种电路进行了讨论.并发展了相应的开关级设计技术。设计实例表明,由于设计中以开关晶体管为构造单元,因此开关级设计的电路要比传统的仃级设计具有较简单的结构。 相似文献
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时序逻辑电路设计是《数字电子技术》课程中一个难度大、综合性高的部分,它综合了组合逻辑电路和时序逻辑电路的内容。在进行状态机设计时,随着输入逻辑变量的增加,状态数目将呈指数倍急剧增加,这会使整个设计变得复杂且容易出错。以一个延时开关控制器的设计为例,提出了一种状态机输入变量简化的方法,降低了设计过程的复杂程度。 相似文献
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纳米电子器件RTD与CMOS电路结合,这种新型电路不仅保持了CMOS动态电路的所有优点,而且在工作速度、功耗、集成度以及电路噪声免疫性方面都得到了不同程度的改善和提高。文中对数字电路中比较典型的可编程逻辑门、全加器电路进行了设计与模拟,并在此基础上对4×4阵列纳米流水线乘法器进行了结构设计。同时讨论了在目前硅基RTD器件较低的PVCR值情况下实现相应电路的可行性。 相似文献
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高精度单向模拟开关的设计及其基于CMOS工艺的电路实现 总被引:1,自引:0,他引:1
提出并设计了一种基于 CMOS工艺实现的高速高精度的单向隔离模拟开关 ,该开关用在高速两步法 A/D转换器中使电路结构大为简化 .通过对开关特性的理论分析与电路模拟 ,证明了这种模拟开关具有高速可控性 ,传输信号的精度优于先前研究的双极单向隔离模拟开关 相似文献
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本文对受脉宽影响的过剩载流子浓度分布及高功率微波(HPM)扰乱易发性进行解析建模,并利用仿真结果和实验数据对模型进行验证。利用机理分析与模型推导,得到过剩载流子主导闩锁效应中电流放大过程的结论。结果表明,P型衬底中的过剩载流子浓度分布确与HPM脉宽有关,HPM扰乱电压阈值Vp随着脉宽增宽而减小,同时这一变化存在一个拐点,这是由于P型衬底中的过剩载流子累积效应将随着时间推移而受到抑制。文中首次提出HPM脉宽扰乱效应的物理本质是过剩载流子的累积效应。实验验证认为,Vp解析模型能够对CMOS反相器的HPM扰乱易发性进行可靠和准确的预测,并同时考虑工艺、环境温度及版图参数等因素。从模型中可以得到,版图参数LB对脉宽扰乱效应有显著影响:LB较小的CMOS反相器更容易受到HPM的扰乱,这一结论将有助于提出反相器免于HPM扰乱的加固措施。 相似文献