光热辐射技术测量钴涂层热学参数及厚度

为获得涂层材料特性,使用光热辐射(PTR)技术进行无损检测,并提出一种基于一维 三层PTR 理论模型的标定方法,完成了对Al基体钴涂层热学参数、厚度及分布的检测。三层PTR 理论模型,由涂层、 空气缺陷层和基体组成。搭建了实验平台,对两种不同厚度的钴(Co)涂层Al基体样品、无涂 层Al基体参考样品 进行了多点PTR测量。利用参考样品对带涂层样品PTR相位信号进行规格化,以消除检 测系统的影响。 通过多参数优化算法,对规格化后相位信号进行拟合,完成三层理论模型公式热参数的标定 ,求出了涂层 材料的热传导率和热扩散系数,进而计算得到各检测点涂层厚度及分布。实 验结果验证了理论 模型的正确性,以及材料作为基体和涂层时其热学性能的值会发生改变。     

非均匀涂层的热辐射

考虑非均匀涂层自身辐射,以及对衬底辐射的透射和对外来辐射的反射,建立了热辐射传输方程;给出了涂层表观发射比和反射比的公式;并讨论了影响涂层辐射性能的诸因素。     

微机控制的光热辐射技术测量金属的热扩散系数

介绍用光热辐射技术测量材料热扩散系数的基本原理和微机控制测量装置，给出了几种常见金属材料热扩散系数的测量结果，并对影响测量结果的因素进行了讨论，实验结果表明，该技术是一种快速测量材料热学性质的有效手段。     

非接触表面形状测量的新方法

1 前言在当今产品不断追求小型高精度化的产业界,制造精度管理,产品质量管理也要求提高。表面形状的测量方式从以往的干涉式、三角测量式、动态焦点式以及被采用的动态范围大的对物体进行观察立体显微方式。市场迫切要求能替代这些方式的高精度高可靠性且廉价的测量方式,并且也要求能适应生产     

含片状粒子涂层的热辐射

用几何光学绕射理论研究了片状粒子的散射，由非均匀系统的热辐射传输方程求出了含片状粒子涂层的表观比辐射率，讨论了片状粒子的线度、体积化、涂层厚度等因素对涂层系统辐射性能的影响，比较了含片状粒子涂层和含球状粒子涂层的辐射性能。     

一种表面粗糙度非接触快速测量的新方法

照射在样品表面的激光束随着表面粗糙度的不同,反射光密度分布将不同;表面粗糙度增大时,反射光密度将被扩展。本文根据这一原理,提出一种使用激光束快速测量表面粗糙度的无触点光学法。通过测量反射光密度分布曲线的半宽度,由高斯曲线系数的标准差计算表面粗糙度。文中给出了测量结果。     

光学法表面形貌测量技术

随着纳米科技和信息技术的不断发展,表面形貌测量技术也在向着精度更高,速度更快,稳定性更好的方向发展。传统的接触式方法已经不能满足某些特定场合的测量需要,因此非接触光学方法的表面形貌测量技术已成为研究的热点。主要针对国内外表面形貌测量的光学法进行研究和讨论,并预测了未来发展的方向。     

用于测量发射率的非接触多波段方法

发射率(亦称比辐射率)所描述的是物体发射热辐射的能力。测量发射率在科学、工业及其他领域都是非常重要的。例如,市场上出售的像高温计,热扫描仪或热摄像机之类的热仪器,大多数都需要将被检测的物体的发射率作为一个输入参数。这种发射率数据通常可以从     

红外光热辐射法测定激光表面硬化层深度

介绍了一种用激光诱发红外光热辐射法对金属材料激光表面硬化层进行深度剖析的新技术。用这种技术，对经激光表面处理的锆合金（Ｚｒ－２．５Ｎｂ）表面硬化层的厚度进行无损检测，所得结果与常规的破坏性检验方法（剖面显微硬度测量）一致。     

激光光热辐射技术测量不透明复合材料的热扩散率

报道了一种用激光光热辐射技术测量不透明材料热扩散率的方法。根据红外探测器在不同频率下测得试样光热信号的振幅和相位 ,采用非线性拟合法 ,由振幅和相位分别对频率进行非线性拟合 ,由此可得材料的热扩散率 ,并对单向氧化铝纤维基复合材料进行了测量 ,给出了任一方向上的热扩散率的实验结果     

Fast Transmission Photothermal Radiometry via Sampling by an Internal Computer Sound Card

During the last few decades, photothermal radiometry (PTR) has been greatly developed and widely applied in the field of nondestructive testing. However, the traditional PTR system employs an expensive lock-in amplifier to detect the weak photothermal signal, which leads to high cost and long test time. In this paper, a fast transmission PTR system based on sampling by using an internal computer sound card was developed to lower the system cost and shorter the test time. A piece of amorphous silicon (a:Si) thin film solar cells with artificial defects was prepared and tested by the system. The results show that the sharpened defects can be identified easily and quickly according to the significant peaks of the original infrared signal sampled by the internal computer sound card. Furthermore, more detailed defects can be investigated by processing the infrared signal. These validate the effectiveness of the proposed transmission PTR system as a low cost and efficient non-destructive test technique.     

宽频段太赫兹辐射计高吸收率涂层的特性

为了对宽频段高吸收率太赫兹辐射计的特性进行表征,研究了吸收涂层材料的特性;对常见的吸波材料在太赫兹波段的吸收率进行仿真,探寻在太赫兹波段具有高吸收率的材料;将碳化硅与3M黑漆进行混合,以进一步提高涂层的吸收率,并通过仿真调整涂层内碳化硅颗粒的尺寸;根据仿真结果制备混合涂层,利用太赫兹时域光谱仪对混合涂层样品进行测量。结果表明:该混合涂层样品的光谱吸收率大于0.99,与仿真结果基本吻合。     

光热失调技术的实验研究

光热失调技术是利用光学薄膜反射或透射光谱的温度效应研究薄膜吸收的一种新方法,是光热技术的一种.以BK7玻璃为衬底的高反射膜为样品,以连续激光为加热光源,实验研究了该方法反射和透射探测方式,以及加热光束入射角度对光热信号的影响,得出反射和透射光热信号相位相反,加热光束入射角对光热信号的影响较小,进一步验证了光热失调技术测...     

光热偏转技术测量蓝宝石激光手术刀头温度分布

利用光热偏转技术测量了连续YAG激光的蓝宝石手术刀头的横向温度分布和纵向温度衰减长度。其分布曲线与用CCD器件测量的光强分布具有很好的一致性。     

发光二极管在光学辐射测量中的应用及进展

发光二极管(LEDl是一种半导体固体发光器件,在可见一近红外波段的光辐射测量和光电探测器的定标中,显示出高辐射亮度、高电光转换效率、可组合调配光谱分布、发光性能稳定等独特优点,可作为辐射度学、光度学和色度学研究的新型参考光源.同时因为体积小、功耗低,它在卫星遥感器的星上定标等领域正在获得越米越多的应用.简要综述近年来发光二极管在光辐射测量中的应用以及国内外这一领域的进展,展示了其广泛的应用前景.     

光热辐射测量技术的三维和一维理论研究

根据连续调制激光辐照样品的一维与三维理论。并对其进行比较 ,得到无论是高热扩散率还是低热扩散率材料 ,只要频率大于 4 0Hz时 ,光热辐射测量三维理论可以用一维理论代替。及样品热扩散率越低 ,一维光热辐射测量理论和三维理论一致 ,所需要的频率就越低。这就为何时使用一维光热辐射测量理论提供依据。     

光热调制激光波长测量物体的微小振动

提出了一种新型半导体激光正弦相位调制干涉仪。使用此干涉仪测量了物体的微小振动。利用光热效应调制光源波长降低了光源光强变化引起的测量误差。模拟计算和实验结果证明了此干涉仪的有用性