反熔丝型FPGA电路过电应力失效分析

反熔丝电路作为航天领域广泛使用的核心芯片,其失效机理及是否与反熔丝器件相关尤为重要.对某款反熔丝电路电源过应力失效问题进行机理分析,同时通过逻辑分析并配合EMMI、红外等分析手段,对失效点进行物理定位.在此基础上,进一步通过FIB和SEM观察到时钟网络中某NMOS管漏结及布线发生了严重的电迁移,对电源过应力引起NMOS...     

微波组件振动过程失效分析及对策

电子产品的失效与其所承受的外界应力紧密相关,通过采取设计及工艺改进措施,降低薄弱部位承受的外界应力影响,提高产品的可靠性。通过对某型微波组件在振动试验过程中焊点出现开裂的案例分析,提出了采用镀银铜线软连接、安装孔倒角处理和增加点胶固定等措施,并经量级分别为12g、15g、22.3g(g=10m/s2)的随机振动及正弦扫频振动、温度冲击等试验验证,满足了微波组件在整机上的使用需求,防止在振动中因焊点开裂造成产品失效。     

微波组件典型质量问题分析及对策

总结目前微波组件生产的特点,通过对微波组件生产中典型质量问题的案例剖析,论述微波组件质量问题具有的滞后性和隐蔽性的特征,分析主要失效模式及失效机理,从产品设计、工艺过程控制、元器件质量等方面对影响产品质量的因素进行探讨,并在技术方法上提出具体的解决对策.     

微波组件和模块失效分析结果统计与分析

本文对近30例微波组件和模块失效分析结果进行了统计和分析，得到了微波组件和模块在使用中失效的主要原因、分类及其分布，为微波组件和模块的生产方和使用方提供了有价值的统计数据及分析结果。     

某型电缆组件失效分析及改进

本文主要通过对某型电缆组件失效模式及机理进行分析．并提出相应的改进措施．通过验证，达到提高某型电缆组件的可靠性的目的，同时举一反三，将改进措施推广到其他类似结构的电缆组件装配使用中。     

微波组件常见湿气失效现象和防护措施

微波组件具有频率高、波长短和内部元器件密度高的特点。盒体材料一般使用铝合金,因此容易受到湿气的影响。常见湿气故障可以分为内部故障和外部故障,也可以分为永久性故障和暂时性故障。针对环境试验中遇到的几种微波组件常见的湿气问题,如盒体腐蚀、电路板腐蚀、输出功率下降以及低温升高温时自激振荡,进行了详细描述,给出了部分照片,并进行了深入的机理分析。最后从电路设计和工艺设计的不同方面给出了综合有效的7条微波组件湿气防护措施,这些措施包括元器件的选取、电路板的防护处理、接缝的防护处理和盒体的防护处理等。结果证明这些措施是行之有效的。     

微波组件失效统计分析与质量控制

微波组件产品广泛地应用于通信和导航等领域,其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素。通过对55个微波组件产品的失效案例进行统计分析,得出了微波组件失效的原因,其中主要原因是操作问题、工艺问题、调试问题、元器件问题和用户使用问题,分别对这5类问题进行了具体分析和说明。从设计、生产、采购、检验和使用等方面分析了影响微波组件质量的因素,提出了相应的质量控制方法和应注意的问题。为微波组件的质量控制提供了有价值的统计数据和分析结果。     

用于微波组件的LTCC 3 dB耦合器

低温共烧陶瓷(LTCC)技术是实现机载、星载、舰载相控阵雷达小型化、轻量化、高性能、高可靠、低成本的有效手段。文中论述了LTCC技术在微波集成器件应用中所具有的技术优势,并介绍了用于微波组件的LTCC 3dB耦合器的构成、关键制造工艺技术以及性能参数等,为LTCC技术在微波集成器件中的应用进行了有益的探索。     

高性能低成本微波组件制造技术

高性能、低成本的微波组件制造技术对复杂昂贵的电子系统的普及应用具有重要意义。目前,微波组件多采用薄膜或微波介质片工艺制造。其调试造手工操作来完成,制造成本较高,生产一致性差。先进的铜厚膜工艺具有微性能好、便于大量生产等特点,是一 高性能、低成本的电路基板制造技术。激光技术与自动测试技术自动控制技术相结合可实现对微波组件的高精度动态闭环自动化测试修调。采用这些先进技术,能提高生产效率。降低微波组件的     

微波组件用带腔体LTCC基板制造技术

机载、星载、舰载相控阵雷达由于其特定的使用环境，需要体积小、重量轻、高性能、高可靠、低成本的微波组件，带腔体LTCC基板具有高密度布线、电阻、电容、电感的内埋以及芯片的埋置等特性，是制作机载、星载、舰载相控阵雷警警波组件的理想的高密度基板。该文介绍了带腔体LTCC集成基板的制造技术，并对微带线、带状线、内埋电阻、腔体等关键技术进行了分析，提出了相应的解决方法。     

芯片的EOS失效分析及焊接工艺优化

为了研究电过应力对功率MOSFET可靠性的影响,分别对含有焊料空洞、栅极开路和芯片裂纹缺陷的器件进行失效分析与可靠性研究.利用有限元分析、电路模拟及町靠性加速实验,确定了器件发生EOS失效的根本原因,并通过优化芯片焊接温度.时间曲线和利用开式感应负载测试方法,比较了工艺优化前、后器件抗EOS的能力,结果表明优化后器件的焊料空洞含量显著减少,抗EOS能力得到明显提高.     

芯片的EOS失效分析及焊接工艺优化

为了研究电过应力对功率MOSFET可靠性的影响,分别对含有焊料空洞、栅极开路和芯片裂纹缺陷的器件进行失效分析与可靠性研究.利用有限元分析、电路模拟及町靠性加速实验,确定了器件发生EOS失效的根本原因,并通过优化芯片焊接温度.时间曲线和利用开式感应负载测试方法,比较了工艺优化前、后器件抗EOS的能力,结果表明优化后器件的焊料空洞含量显著减少,抗EOS能力得到明显提高.     

EOS中透明传输问题分析及解决方案

在SDH网络上传送以太网业务(EOS,Ethernet over SDH)具有巨大的优势。EOS能利用现有的SDH网络为以太网业务传送提供完善的OAM性能。在EOS系统中,透明传输以太网业务有非常重要的作用。本文详细分析了时钟、故障传递、流量控制和自协商相关的透明传输问题,相应的解决方案也同时提出。     

低温共烧陶瓷微波多芯片组件

低温共烧陶瓷(LTCC)是实现小型化、高可靠微波多芯片组件(MMCM)的一种理想的组装技术.本文研究采用了一种三维LTCC微波传输结构,并采用叠层通孔实现垂直微波互连.利用电磁场分析软件对三维微波传输结构和垂直微波互连方式进行了模拟和优化,并与试验样品的测试结果进行了对比,两者吻合较好.介绍了单片微波集成电路芯片测试和微波多芯片组件键合互连方法,以及一个X波段微波多芯片组件的应用实例.     

基于DDS 的数字微波T/R 组件研究

本文介绍了直接数字合成技术(DDS)的工作原理,分析了其结构组成、特点。并详细介绍了基于DDS 技术的数字微波T/R 组件的研制思路、方案。利用DDS 在数字部分完成DBF 的形成,以实现基于DDS 的全数字T/R 组件。     

基于树脂封装的三维微波组件热布局研究

采用树脂封装三维微波组件是微波组件小型化、轻量化发展的一个趋势.介绍了基于树脂封装的三维组件基本结构,通过有限元热仿真分析方法,得出了大功率微波芯片(MMIC)在树脂封装中的位置布局原则.