J750到BC3192测试程序转换方法

由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,BC3192是国产的新型测试系统,本文介绍了一种测试程序从J750到BC3192转换的方法,用IC卡测试程序做实验,证明该方法是可行的。     

基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

在半导体技术高速发展的今天,对集成电路的测试要求越来越高,测试开发的难度、复杂度都在增加,如何应对当前集成电路的测试需求,成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统,用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源,列举了部分模块及其功能和参数;描述了一般集成电路测试开发的流程,并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容;介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境,列举了测试程序构成要素以及各自功能;介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境,测试系统提供的调试工具以及调试方法。     

基于DSP的音频信号处理系统的设计

本文提出基于DSP的音频信号处理系统的设计方法和电路。运用DSP技术和硬件电路设计知识进行了DSP最小系统设计,包括DSP芯片选型、电源设计、复位电路设计、时钟电路设计、存储器扩展设计、音频处理模块设计、JTAG接口等。最后以自行设计的高速DSP板为硬件平台,使用CCS软件,编写测试程序,经过多次软硬件调试和测试,验证了DSP最小系统板能正常运行,能满足基本信号处理的要求。     

集成电路测试系统软件的设计及实现

本文主要展示了集成电路测试系统软件的基本功能及其核心部分的实现方法。先介绍了集成电路测试系统硬件的建模方法,然后在硬件建模的基础上讲述了集成电路软件的结构及设计方法。着重介绍了流程图测试程序转化为文本测试程序的方法以及对文本测试程序的编译方法。用户只需要根据测试流程编写流程图即可以实现测试程序的编写,实现对IC的测试,提高了开发效率。该软件系统具有和硬件系统低耦合性,当向集成电路测试系统添加删改硬件时,不需要修改太多的软件内容即可以正常工作,通用性较好。     

一种MCU的测试解决方案

对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点.文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决方案.使用此解决方案,可根据测试要求,在较短时间内开发出MCU测试程序,节约测试开发成本.     

基于CPCI总线的数字板边扫设计

在数字化系统的发展中,先进FPGA和DSP等大规模集成电路得以广泛应用,其测试的困难伴随而来。以某电路板为例,进行了可测试性分析,该板应用了高端的FPGA和DSP芯片,以及CPCI总线接口,是数字化整机的典型代表。还介绍了边界扫描测试开发软件Scanworks,并通过Scanworks进行了该板的测试程序集(TPS)开发,通过开发结果来看,该TPS能有效解决CPCI总线形式下数字电路板的边扫测试,能有效覆盖该板的焊接和器件类故障,对于该电路板的批量生产检测和维护有着重要的意义。     

元测试程序的可视化验证环境

在测试开发系统－ＴｅＤＳ中，我们定义了元测试程序设计语言ＴＯＰＣｔ ＴｅＩＦ，它们是在多种测试程序的脱开发和移植中起桥梁作用，用它们开发和变换生成的元测试程序主要用来生成不同的测试程序，鉴于它们的重要作用，我们运用向对象的技术和可视化的设计思想开发了元测试程序的验证环境。     

分立器件测试系统软件平台的设计及实现

为解决目前国内分立器件测试系统成本高,可维护性低等特点,开发了一套性价比高、操作简单、自动化程度较高的测试系统。并采用层次化、模块化的软件结构设计方法,设计开发了分立器件测试系统的软件平台。该软件平台可以完成系统硬件资源自检与校准、软件账号管理、流程图测试程序自动转换、测试指标报表生成及打印等一系列功能,并做到测试程序...     

微处理器软核的测试算法

针对微处理器软核测试程序工艺无关性的要求,我们提出了一种新的寄存器传输级的微处理器功能测试算法。新算法扩展了微处理器的模型表示,简化了指令的故障类型,新的指令测试方法有效地降低了测试程序的复杂度。采用该测试算法我们为自行设计的一个八位微处理器核成功地开发了测试程序。     

数字ATE上内部示波器的实现

内部示波器是ATE测试设备上的一个调试工具模块,它的主要功能就是可以动态地显示ATE被测芯片某个输出管脚的实时波形,是ATE测试设备进入中高端市场必备的一个模块。对于测试工程师来说,在编写测试程序或者调试测试程序的时候,相对于外部示波器来说,内部示波器的优点是非常明显的。本文主要讨论了如何在数字ATE上实现内部示波器的功能,以及实现上的一些难点和波形优化的问题。     

TMS320F28XX系列DSP测试方法研究与实现

本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备（ATE）BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI（Serial Communication Interface)串行通信接口,以此作为桥梁完成ATE与芯片之间的通信。同时,实现自动测试设备与测试系统的测试向量的匹配。而后,完成TMS320F28xx系列DSP的功能测试以及直流参数测试。     

基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试

大部分的系统级芯片(SoC)具有异步信号,基于自动测试系统(ATE)很难实现稳定的测试。通过外挂Flash芯片对被测SoC器件进行功能配置,自动测试系统对相应的功能进行搜索匹配,可以在自动测试系统上对SoC的异步输出信号进行稳定的测试。     

数字T/R组件测试方法研究

随着雷达技术的飞速发展,数字T/R组件逐渐取代模拟T/R组件广泛运用于各种相控阵雷达中。由于数字T/R组件功能强大,电路复杂,需要测试的参数比模拟T/R组件多,测试方法也发生了根本性的改变。文中介绍了数字T/R组件测试系统的组成和工作原理,提出了数字T/R组件核心参数的测试方法,并针对工程中遇到的实际问题提供了解决方案,实际应用表明这些方法的测试效率和分析精度可以满足数字T/R组件测试要求。     

基于现代DSP技术的QPSK调制器的设计

为了提高DSP系统的开发效率,引入了现代DSP技术,并由此设计了QPSK调制器.依据QPSK调制的基本原理,利用MATLAB/Simulink DSP Builder和QuartusⅡ搭建模型,在模块的形成方式上,采用DSP Builder中的模块代替VHDL编程,在同一平台上实现了系统建模和硬件实现的有机结合,然后利...     

一种FPGA验证与测试方法介绍

文章重点介绍了一种FPGA验证与测试的方法。该测试方法的优点是不依赖于芯片设计与测试机台,低成本、开发周期短。基于PC、ATE与自制转换软件,对FPGA验证与测试开发技术进行研究。PC主要完成bin文件的生成,自制转换软件主要将bin文件转换为机器可识别的atp文件。ATE导入配置文件、完成信号输入与输出验证。基于该理论对Xilinx公司的XCV1000进行了实验,实验表明该方法可行并能快速实现测试开发与芯片验证,且具有很好的通用性,可用于其他FPGA芯片的测试、研究与验证,还可以应用于不同的ATE机台。     

面向音频应用的可配置片上系统的设计与实现

基于一款通用的16位定点数字信号处理器,结合D/A转换器、A/D转换器和放大器等模拟电路模块,设计并实现了一种面向音频应用的可配置片上系统.该系统支持立体声输入输出,具有8～48 kHz之间可编程的采样频率,以及可编程的输入输出放大器增益.同时,设计使用了24位高精度Σ-Δ A/D转换器,并配有可供选择的数字滤波器.为支持不同应用,系统提供24位或16位的可编程字长调节.系统芯片工作在1.8 V电压下,芯片内各部分支持挂起或睡眠状态,有利于低功耗的便携式应用开发.介绍了部分关键功能模块的仿真、验证和测试,以及整个系统仿真模型的建立.     

带自举功能的DSP外设扩展模块设计

TMS320Vc54x系列DSP（Digital Signalprocessor）没有AD、DA等常用外设且缺少程序存储器,故其应用系统通常需进行外设扩展模块与自举模块设计,针对传统解决方案将两个模块分别实现存在扩展器件多、系统集成度不高等问题,本文提出了一种带自举功能的DSP外设扩展模块。该模块通过将C8051F330单片机作为唯一的外扩芯片,利用其片内FLASH存储DSP自举程序代码,并采用其片上AD、DA实现DSP的外设扩展。实验表明本文提出的DSP外设扩展模块合理可行。     

Phased development of high-concentration photvoltaic modules

During the 1970s and early 1980s a promising solar cell technology evolved under contract with the Electric Power Research Institute. the work produced a point-contact photovoltaic cell technology that has established a numer of world record achievements during its 15-year development. In 1984 a conceptual design was proposed for a cell package, module and array system for use in utility-scale commercial power production. Since 1984 the laboratory concept has been moved forward toward commercial application. the design and processing of the cell has progressed from laboratory device research toward a mass-produced product, with concurrent reduction in cost and improvement in uniformity. A number of inadequacies have been confronted and eliminated. A progressive design philosophy for the production of cell packages, modules and arrays has been invoked and implemented. an extensive test programme to determine module and array performance and reliability has been put in place. More than 2500 functional high-concentration cells have been produced in the evolutionary process. Approximately 800 of those cells have been installed in fully operational modules for filed tests. Over 130 modules have been constructed and are in field testing for electrical, structural, thermal or weathering tests. Two full-sized array structures (each containing 60 instrumented ‘thermal’ modules) have been constructed and continue to undergo field testing for alignment, performance and reliability. This paper reviews the design, construction and testing of modules, which is a part of the programme that has been central to the overall commercialization effort. the progressive module philosophy is reviwed and key challenges that have confronted the development of a commercial system are discussed. Results are included from more than 6 years of testing, including over 250 000 h of field exposure on individual test modules and over 2 000 000 exposure hours on all modules in the prgramme.     

基于片外信号源的SoC低成本测试解决方案

随着SoC芯片集成度和复杂度的不断提高,其测试变得越来越复杂,测试成本也越来越高,如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。卫星数字电视信道接收芯片作为机顶盒关键芯片之一,对低成本测试的要求也越来越迫切。文章针对某卫星数字电视信道接收芯片,通过分析该芯片的内部模块功能,采用片外信号源方法设计该芯片的低成本测试方案,并在自动测试系统T6575上实现。实际生产结果表明,该方法能极大降低芯片测试成本。