金属铀与CO原位反应的X射线光电子能谱研究

采用X射线光电子能谱 (XPS)分析研究了多晶贫铀的清洁表面在 2 98K时与CO的原位反应过程。初始反应各阶段U4f,O1s和C1s芯能级谱的变化和定量分析表明 ,CO在金属铀表面吸附解离 ,解离出的原子氧和原子碳分别与金属铀形成氧化物和碳化物 ,碳原子比氧原子向基体扩散得更深。实验过程中未发现CO分子吸附在金属铀表面的证据。     

镀锡钢板铬酸盐钝化膜中铬的X射线光电子能谱分析

使用X射线光电子能谱(XPS)分析方法,对镀锡铬酸盐钝化钢板中铬元素的含量、价态以及不同价态化合物的含量进行了研究,并对镀锡钢板铬酸盐钝化膜的形成机理进行了探讨。结果表明,钝化膜中主要含有Cr,O以及Sn元素。在给定的钝化处理工艺条件下,镀锡铬酸盐钝化钢板中铬元素主要是以Cr(OH)3,Cr单质以及Cr2O3的形态存在,在检测中没有发现六价铬离子。铬酸盐钝化膜中Cr,Cr2O3和Cr(OH)3的质量分数分别是2.0%,9.5%,7.5%。     

从专利角度分析锡铋合金焊料的发展趋势

本文对锡铋合金焊料领域的专利申请情况进行了统计分析,发现全球专利申请整体呈震荡上升的趋势,但近几年有下降的趋势,而我国的专利申请呈上升趋势,在2007年超过日本成为全球专利申请数量最多的国家。但日本作为Sn-Bi系焊料的研究较早的国家之一,已在全球布局多项专利,且锡铋合金焊料均以四元及以上合金体系构成,即多元合金化的锡铋合金焊料是未来发展的方向。此外,锡铋合金焊料除成分改进之外,还有通过添加纳米颗粒、碳纳米管、纤维或硼化物颗粒增强的锡铋合金焊料,我国在该领域已经有相关专利,并在日本和美国进行了布局,但该领域的专利在海外布局的数量不多。因此,我国应该加强在多元锡铋合金焊料以及增强型锡铋合金焊料等方面的专利布局。     

X射线光电子能谱检测热喷涂锌铝合金防腐性能的研究

锌铝合金可用作为风力发电装置的防腐材料.采用X射线光电子能谱(XPS)研究了由热喷涂方法制备的不同含量铝锌合金制得的TJPTZA1#、TJPTZA2#、TJPTZA3#和TJPTZA4#合金的防腐蚀性能,探究了合金与基体界面处的物质成分.使用能谱检测手段探索了界面处的元素成分及其含量,从而为以上合金的防腐性能研究提供依据.     

电流密度对镀锡板钝化膜厚度、成分及膜中铬元素的影响

镀锡板钝化过程中的电流密度对钝化膜的性能影响较大,同时膜的性能又与厚度、成分、Cr元素含量等因素相关。实验通过改变镀锡板钝化膜生成过程中的钝化电流密度,探究电流密度对生成的钝化膜的厚度和成分的影响,并使用X射线光电子能谱(XPS)对在此电流密度下得到的钝化膜中Cr元素的组元和价态进行分析。结果表明在电流密度由3A/dm~2变为0.5A/dm2时:钝化膜厚度变薄,钝化膜中Sn元素含量增加,Cr元素含量减小;钝化膜中Cr元素的组元均由单质Cr、Cr_2O_3、Cr(OH)_3构成且不发生变化,但各价态组分的相对含量发生改变,低价态Cr含量降低,高价态Cr含量升高;镀锡板钝化膜组成成分呈现层状分布。     

镀锡液锡泥中锡的物相分析

本文使用扫描电镜（SEM）、傅里叶变换红外光谱（FT IR）、X 射线衍射（XRD）以及X 射线光电子能谱（XPS）等方法,对弗洛斯坦连续电镀锡溶液中产生的锡泥的组成及物相进行了分析。结果表明,在锡泥中主要含有C、O、S及Sn等元素。锡泥经水洗后,其中含有的原电镀液中的成分被溶解于清洗液中,锡泥主要由锡的化合物及少量的苯酚磺酸盐组成。通过XPS窄幅扫描表明,Sn 3d5/2谱峰位于4869 eV位置,对应于元素锡的四价氧化态。锡泥中含有的主要成分为SnO2。     

硫蚀时间对镀锡板腐蚀产物成分的影响研究

通过研究镀锡板硫蚀时间对腐蚀产物成分的影响,可以促进对镀锡板硫蚀机理的理解和硫变发黑问题的解决。实验通过改变镀锡板在硫化钠-乙酸模拟溶液(pH6)中的浸泡时间,使用X射线光电子能谱仪(XPS)对不同硫蚀时间下得到的产物主要元素质量分数及S的组元和价态进行刻蚀分析。结果显示在硫蚀时间由2、9d并延长到23d的过程中:S元素质量分数逐渐升高,O元素质量分数先降低再升高,在最终稳定的硫蚀产物中,金属元素Sn的质量分数接近于0,Fe元素质量分数在60%上下浮动,金属Sn只能为基体提供物理保护作用;硫蚀产物中S元素组元主要有S单质、S^-和S^2-构成且不发生变化,但各价态组分的相对含量发生改变,即低价态S质量分数降低,高价态S质量分数升高,S元素组合态在硫蚀过程中呈现被氧化的趋势。增大Sn层厚度和均匀性、在罐装物中添加还原性物质是改善硫蚀的有效途径。     

Fe-Ni合金薄膜组成准确测量的XPS研究

利用X射线光电子能谱(XPS)技术进行了Fe-Ni合金薄膜组成的准确测量研究,考察了3种不同来源的相对灵敏度因子对同一测试样品测量结果的影响。试验结果表明:通过纯Fe和纯Ni薄膜测得、仪器软件自带、Fe-Ni合金薄膜标准物质测得的相对灵敏度因子计算得到的Fe-Ni合金薄膜组成(Fe的摩尔分数)分别为43.23%,47.39%和49.91%。通过Fe-Ni合金薄膜标准物质(与测试样品具有相似组成)测得的相对灵敏度因子来计算测试样品的元素组成时,可以获得更加准确、有效的测量结果(Fe的摩尔分数为49.91%),这与国际关键比对CCQM-K67参考值(50.02%)相一致;测量结果不确定度优于3%。此外,通过氩离子刻蚀技术能够很好地去除样品表面含碳污染物和金属氧化物。     

氧化铁复合颜料表面包覆层结构的X射线光电子能谱研究

表面包覆无机膜是改善粒子性能的重要方式,实验在铁红超细微粒子中掺杂稀土元素Nd和SiO₂,形成氧化铁复合颜料,采用X射线光电子能谱(XPS)研究表面无机膜的成分、化学状态及其含量,推测Fe₂O₃复合颜料表面包覆无机膜及稀土掺杂涂层的情况。结果表明,根据O 1s和Fe 2p谱图分析Fe-O键反应弱,推知Fe₂O₃粒子表面包覆情况良好,根据Si 2p和Nd 3d、Nd 4d化学位移,推测Nd、Si原子可能进入Fe₂O₃晶格,取代了O、Fe原子,降低了Fe-O的比例,重新结合形成新键,使复合粒子表面形成Nd-O-Si键,稀土原子成功掺杂在Fe₂O₃粒子表面包覆的SiO₂无机膜中。因稀土元素且有丰富的谱线特征,使制备的颜料色彩效果更佳,提高了粒子的性能。     

化学分析技术在冶金表面分析中的应用

介绍了化学分析和物理测试之间的区别，指出化学分析方法能进行定量表面分析；概述了选择性溶解法、电化学溶解法、X射线荧光光谱法(XRF)等化学分析方法在表面分析中的应用。重点论述了辉光放电发射光谱技术在表面分析中的应用和实例，它不但能给出试样元素含量在深度方向上的分布，还能结合相的特征给出特殊相的厚度。利用其快速逐层剥离的特点，也可用于扫描电镜(SEM)和X射线光电子能谱(XPS)等物理表面分析手段的试样预处理。     

具有纳米氧化层自旋阀薄膜的XPS研究

采用X射线光电子能谱(XPS)研究了带有两种纳米氧化层(NOL)Ta/Ni₈₀Fe₂₀/Ir₁₉Mn₈₁/Co₉₀Fe₁₀//NOL1//Co₉₀Fe₁₀/Cu/Co₉₀Fe₁₀//NOL2/Ta的镜面反射自旋阀薄膜的化学结构.研究结果表明:CoFe/NOL1和NOL2/Ta界面处发生了热力学有利的化学反应.CoFe磁性敏感层仍保持金属特性,部分氧化的CoFe和Ta发生界面反应,使得Ta覆盖层被氧化成Ta₂O₅,形成NOL2.由于仍存在部分金属CoFe,NOL1为不连续的氧化层,使得与IrMn层仍存在直接的交换耦合作用.在退火过程中,IrMn层中的Mn原子扩散到NOL1中;然而,由于NOL1和扩散的Mn原子发生界面反应,生成Mn的氧化物,从而阻止Mn原子的进一步扩散,使其偏聚在NOL1中.     

X射线光电子能谱分析电工钢板铬酸盐涂层中铬形态

使用X射线光电子能谱(XPS),对电工钢板铬酸盐涂层中的元素组成及铬元素的价态进行了研究,并对其形成机理进行了探讨。结果表明,涂层中主要含有Cr、O、Mg、Al、B以及C元素。在给定的处理工艺条件下,铬酸盐涂层钢板中铬元素主要是以Cr2O3,CrO3形态存在,在检测中没有发现零价铬。     

X射线光电子能谱分析电工钢板铬酸盐涂层中铬形态

使用X射线光电子能谱(XPS),对电工钢板铬酸盐涂层中的元素组成及铬元素的价态进行了研究,并对其形成机理进行了探讨。结果表明,涂层中主要含有Cr、O、Mg、Al、B以及C元素。在给定的处理工艺条件下,铬酸盐涂层钢板中铬元素主要是以Cr2O3,CrO3形态存在,在检测中没有发现零价铬。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定锌铝合金中锡铅铁

提出了一种简单、快速和可靠的同时测定锌铝合金中锡、铅、铁的方法。用硝酸溶样后在1%(体积分数)硝酸介质中,以Sn 189.989 nm、Pb 220.353 nm和Fe 259.940 nm作分析线,用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定。锡、铅和铁的检出限分别为0.02 μg/mL、0.03 μg/mL和0.002 μg/mL,样品中锡的加标回收率为100%,铅和铁的加标回收率均为110%。方法应用于锌铝合金中锡、铅和铁测定,测定值与国家标准方法的测定值一致,相对标准偏差分别为0.0%,3.0%和6.4%。     

X射线荧光光谱在锰系合金分析中的应用文献评介

X射线荧光光谱(XRF)被广泛应用于锰系合金的分析,具有检测速度快、分析精度高、重现性好的特点.文章收集了近20年来锰系合金(硅锰合金、锰铁)中硅、锰、磷等元素的X射线荧光光谱测定方法文献36篇,其中压片制样23篇,熔融制样13篇.重点介绍了压片制样和熔融制样的具体应用情况,并对这两种方法的优缺点作了简要的评述.     

X射线荧光光谱法测定FeCuNbSiB纳米晶

提出了用熔融制样 X射线荧光光谱法测定FeCuNbSiB纳米晶合金炉渣中TFe, CaO,MgO,SiO2,Al2O3,MnO,CuO,Nb2O5和TiO2的方法。讨论了玻璃熔片的制备、混合熔剂和脱模剂的用量、基体的吸收和增强效应校正,以及用人工配制的标准样品绘制校准曲线等问题。在最佳的分析条件下,测定了人工配制的标准样品中TFe,CaO,MgO,SiO2,Al2O3,MnO,CuO,Nb2O5和TiO2的含量,11次测定结果的相对标准偏差小于07%,所得的分析结果与标准样品的标准值相符合。用此方法分析了FeCuNbSiB纳米晶合金炉渣试样,用同一样品在完全相同条件下制备了11个熔片进行测量,其测定结果的相对标准偏差小于30%,所得分析结果与其他方法的测定值相一致。