单检偏器数字散斑干涉偏振相移方法

针对曾经提出的数字散斑干涉时间偏振相移方法［1］所存在的结构复杂、操作不便等不足,提出了一种优化的数字散斑干涉偏振相移方法。不同于原先方法需要两组固定波片和可动检偏片,本方法仅需一组固定波片和可动检偏器即可实现相移,因此系统结构和操作过程都更加简单,且减少了光路调节不准所带来的相移误差,相位图质量更高。实验结果显示,结合传统的三步、四步、五步相移算法,基于单检偏器偏振相移器的数字散斑干涉方法能够获取质量较好的相位图,因此证明了这种方法可有效替代原方法。     

液晶相移剪切电子散斑干涉术的研究

本文研究了向列型液晶的相位调制特性，并采用平行式向列液晶作为相移器，建立了相移剪切电子散斑干涉计量系统。该方法将相移技术引入到剪切电子散斑干涉术中，提高了检测精度，采用相关纹法求解相位，简化了计算，相移方法简单，可靠，用该系统进行应变场的测量实验，取得了满意的效果。     

相移数字散斑干涉术测量振动模态

数字散斑干涉技术是一种非接触，全场测试的光学测试方法。用数字散斑干涉术时间平均法测得的物体表面稳态振动，可描述为受高频分量调制的零阶Ｂｅｓｓｅｌ函数。文章提供一种在数字散斑时间平均法测振中使用的相移方案，以消除条纹图中的背景分量，使条纹仅与振幅有关，阐述了此方案的原理，并给出实验的结构和结果。     

错位相移技术研究

本文在充分错位技术与相移技术的基础上，提出了一种基于偏振的错位技术和相移技术，并将二者结合起来，实现了错位与相移的结合，制作了出错位相移器，最后将错位相移器应用于集成电路硅片薄膜应力分布测试仪及错位电子散斑干涉仪之中。     

低压驱动相移器应用于数字散斑干涉系统

详细介绍了一种由计算机控制的ＰＺＴ相移器，该相移器由Ｄ／Ａ板输出直接驱动，驱动电压在０－１０Ｖ。文中分析其工作原理，并将其应用于相移数字散斑干涉系统中，给出实验结果。     

电子散斑干涉中相移技术研究

本文介绍了电子散斑干涉（ESPT）原理、相移技术方法。针对散斑条纹图中高频项对于相位计算的干扰,对相移算法提出了2种修正的方法。对简支梁进行了位移场的测量,并与有限元（FEM）计算结果进行对比,证明了改进的相移技术在ESPI中是可靠的。     

三维相移电子散斑干涉中的位移场分离研究

提出一种可将离面位移与面内位移分离的方法。在双光束电子散斑干涉(ESPI)中增加参考光,使其为两光束所共用。实验时,两束光各自独立地对变形物体进行测量,结合相移技术,可分别得到包含离面和面内位移信息的2幅相位图。理论分析表明,只需简单的相位运算就能够将面内位移场与与离面位移场分离。典型的3点弯曲梁实验证实了该方法的可行性。     

大位移电子散斑干涉法

针对电子散斑干涉（ESPI）法处理大位移时的困难,提出了一种改进的ESPI法。将数字散斑相关法（DSCM）引入ESPI中,由DSCM计算引起散斑去相关的面内位移,将所得二维面内位移对失配散斑场进行校准,恢复干涉条纹。用对离面位移敏感的ESPI光路,结合相移方法求得对应离面位移的相位数据,和二维面内位移一起,构成物体三维位移。对周边同定、中心加载的有机玻璃试件进行了测量,结果表明能产生质量干涉条纹,证明该方法是合理、可行的。     

低压压电陶瓷相移器及其在电子散斑干涉计量中的应用

介绍了一种新型低压压电陶瓷相移器及其驱动电路的原理、结构和标定方法，并简述了它在电子散斑干涉计量（ＥＳＰＩ）中的应用。     

基于同态滤波的电子散斑干涉图像处理

由于散斑具有可测的强度和确定的相位,正逐渐被人们重视和进一步研究,现广泛应用于无损检测领域。电子散斑干涉条纹图上总是附带大量的随机散斑颗粒噪声。一般来说,散斑图像记录的变形信息主要集中在低频部分,而噪声主要在高频部分。为了得到变形物体的连续相位分布,需要用适当的方法对散斑干涉条纹图像进行滤波降噪处理。同态滤波是一种将亮度范围压缩和对比度增强的频域处理方法。采用基于同态滤波原理设计出的新的低通滤波器,将其运用于3步相移电子散斑干涉条纹图像处理,并从理论上进行了详细的论述。结果表明,运用该滤波器处理散斑条纹图像,过滤了大量的散斑颗粒噪声,增强了散斑干涉条纹的对比度。     

会聚光横向剪切移相干涉

为了检测长光程情况或多组分光学镜头逐片装校中的波面,提出一种以会聚光波直接作为干涉测试光源的会聚光移相剪切干涉方法,阐述了基于迈克耳孙干涉仪原理的会聚光横向剪切干涉光路,建立了会聚光横向剪切波面的数学表达式,并与一般横向剪切干涉相比较,分析了剪切量和波面偏移量的特征,且引入移相干涉技术求取剪切波面.结果表明,会聚光横向剪切移相干涉测试,能够实时测试会聚光的波面质量,峰谷值(PV)的重复性为0.022λ,均方根(RMS)值的重复性为0.014λ,并与Zygo干涉仪的测量结果进行了对比,验证会聚光剪切移相干涉的可行性.     

电子错位散斑条纹特性的实验研究

通过位移位相存在的真实性实验和位移梯度的解相关实验，证实电子错位散斑干涉术的条纹是由物体变形所引起的位移位相和位移导数位相及由位移和位移导数共同决定的附加位相之和的余弦条纹。这种余弦条纹的质量和对比度与位移、位移导数及滤波光孔的直径有关。     

利用激光偏振特性的电子散斑面内全场位移测量技术的研究

提出一种能够同时测量面内全场位移的电子散斑测量光路结构,解决了面内全场位移在瞬态和不可重复情况下无法测量的问题。将激光束分成四路照明光,分别安排在水平和垂直平面内,利用激光器的偏振特性安排光路,使水平平面内两束光的偏振方向相同,垂直平面内两束光的偏振方向相同,但这两个平面中的偏振方向又互相垂直。对转动圆盘内位移测量,取得了满意的结果,用一幅散斑图同时得到了表示水平和垂直分量的散斑条纹     

极化方式及其在电子对抗中的选择运用

极化是描述电磁波的重要参量,为了达到在电子对抗活动中能有效正确选择极化方式的目的,通过诱骗试验中极化方式的选择,得出水平目标会产生竖直方向的偏角,偏离的角度与极化工作方式紧密相关的结论。做了GPS干扰中极化方式选择的实验,获得了在远距离对弹载GPS实施干扰,垂直极化较圆极化好,而圆极化较水平极化好的结果。     

电子散斑干涉条纹处理偏微分方程方法的回顾与展望

介绍了偏微分方程(PDE)图像处理的基本原理,构造偏微分方程模型的变分法和常见的滤波模型,并给出常见滤波模型的能量泛函。回顾了近几年偏微分方程图像处理技术在电子散斑干涉(ESPI)条纹处理中的应用成果,包括应用偏微分方程图像处理方法同时实现电子散斑干涉条纹图和相位图的滤波和增强处理,提出用于密集电子散斑干涉条纹处理的方向偏微分方程模型及提取电子散斑干涉条纹骨架线的偏微分方程方法。介绍了这些方法与传统方法相比的优势,并进一步展望了偏微分方程图像处理在光测技术中的发展趋势。     

高速大动态范围偏振消光比测试技术

在保偏传感系统、高速电光调制系统和无源光器件的研制、生产和维护中,对偏振消光比的指标要求逐渐提高,为此提出了一种高速大动态范围偏振消光比测试技术。首先阐述了旋转检偏法的基本原理,然后介绍了本技术中使用的对数放大器功率探测方法,最后将普通型偏振消光比测试仪和改进型偏振消光比测试仪的测试结果进行了对比。结果表明,改进后的偏振消光比测试技术提高了消光比测试的速度和动态范围,解决了当前测试技术存在的问题,因此满足市场中的相关需求。     

应用激光散斑法研究模拟滑坡土体的变形破坏过程

通过激光散斑法在模拟滑坡土体变形破坏过程研究中的应用,表明在滑坡体失稳之前,土体表面各点位移大小和方向随所处部位而异,且滑坡体最终失稳就是由于土体滑动带附近各种微细破裂累计作用的结果。而这种微观变形及破裂过程是常规试验无法测得的。     

大气激光通信中光PPM偏振调制方案及其关键技术

大气中的雨、雪、雾等对大气激光通信的质量和可靠性影响很大.提出了一种光PPM偏振调制方式,采用改变水平和垂直偏振光束的强度,检测接收到的激光的偏振角进行编码.由于水平偏振和垂直偏振光通过的是同一条光路,在求解光偏振角时大气中的衰减可以相互抵消,因此光PPM偏振调制可以减少甚至消除大气信道对大气激光通信的影响.仿真结果表明:这种方法不但可以消除大气信道对激光通信质量的影响,而且可以成倍提高大气激光通信的码速率.     

光纤二次套塑余长控制及激光多普勒在线测量技术的应用

保证光纤余长测量的准确性和稳定性，是光缆生产困难的技术工艺之一。本文针对特定的光纤二次套塑工艺，分析了传统余长测量方法和近期发展起来的激光测量方法的技术特点，对提高激光在线测量系统稳定性的可能途径进行了探讨。     

电子侦察卫星的发展、应用及其面临的挑战

介绍了国外电子侦察卫星的发展现状。以美国为例,介绍了第1～4代电子侦察卫星的发展历程。指出了电子侦察卫星向单星化、多极化、多功能、长寿命化的发展趋势。探讨了电子侦察卫星在现代战争中为决策当局提供预警时间、支援打击重要军事目标、掌握电子装备的布防情况、辅助弹道导弹预警工作、评估打击效果等几个方面的应用。最后指出了电子侦察卫星所面临的挑战。