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组合电路可测试性技术的研究 总被引:1,自引:2,他引:1
随着集成电路设计规模的不断增大,在芯片中特别是系统芯片SOC(system on a chip)中组合电路的可测试性设计方法变得越来越重要.本文采用内建自测试技术对组合电路进行可测试性设计.文中详细分析了组合电路内建自测试的实现原理,通过将测试生成及响应分析逻辑置入电路内部,提高了电路的可控制性和可观察性,从而可使该电路的测试和诊断快速而有效.最后对8位行波进位加法器的内建自测试设计过程进行了详细分析,并通过MAX plusⅡ进行了实现. 相似文献
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基于微程序设计的内建自测试技术研究 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了一种基于微程序构建的控制系统内建自测试体系,设计中运用了3种不同类型的微指令,将性线移位寄存器作为响应分析器,用于电路响应信号压缩;对自测试体系在测试诊断过程中各微程序执行的工作流程和诊断原理进行详细分析.基于微程序设计的控制系统诊断体系具有较高的故障诊断和检测效果,可精确定位系统中板级电路故障. 相似文献
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线性移位寄存器由于具有较好的随机性而用于测试矢量生成,但是一维线性移位寄存器不能生成确定性向量。基于可配置的二维线性移位寄存器(2-DLFSR)矢量生成器,无需存储测试矢量,能生成期望的测试矢量。针对可配置的2-DLF—SR结构,提出了基于矩阵优化设计方法。首先,将期望的测试集划分为互不相容的相容输入集,再通过搜索最大相关项以确定可配置2-DLFSR的结构。经实例验证,该设计方案简单可行,硬件开销进一步减少。 相似文献
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本文介绍了SOC片上嵌入式微处理器核的各种可测性方法,从是否添加可测性电路来分,可分为基于硬件的自测试方法和基于软件的自测试方法.基于硬件的自测试方法是利用各种可测性设计技术实现对微处理器核的测试,包括插入DFT测试电路的方法和基于BIST技术的功能性测试方法.本文提出了一种BIST型的具体测试结构,可用于测试一个简单8位处理器核;基于软件的自测试方法则是利用处理器核本身的指令集来实现自我测试.文中最后分析了这2类测试方法的优缺点和未来微处理器核的测试发展方向. 相似文献
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基于FPGA的并行PRBS序列的实现 总被引:1,自引:0,他引:1
刘宇 《国外电子测量技术》2008,27(5):6-8
本文从伪随机序列(PRBS——pseudo random sequence)的性能原理入手,介绍了一种以经典的线性反馈移位寄存器(LFSR——linear feedback shift register)电路为基础,采用并行处理方式的高速PRBS发生器,并在通用FPGA芯片上予以实现。该发生器在保证等效性的前提下,有效降低了工程实现的困难,为高速电子系统测试信号提供一种可行的解决方案。 相似文献
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随着集成电路工艺和规模的飞速发展,使得VLSI测试变得日益困难,因此测试技术成为VLSI领域的一个重要研究课题。在分析VLSI测试的瓶颈问题基础上,介绍了几种电路分块算法,分析了分块算法对于VLSI测试的必要性。利用分块算法将原始电路划分为若干子块有利于采用不同BIST结构对子块进行测试,使得一定时间内电路翻转次数降低,而功耗也随之降低;通过比较并行BIST和扫描BIST的实验结果,发现并行BIST获得的系统故障覆盖率高于扫描BIST。 相似文献
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基于电力电子复合开关的限流式混合直流断路器参数设计 总被引:1,自引:1,他引:1
研究了基于电力电子复合开关的限流式混合直流断路器。采用电力电子复合开关,以降低高压混合式直流断路器的电力电子功率器件串联数量;采用特殊设计的限流电路,在故障发生时抑制短路电流的上升速率,并可在线路断开后自行释放能量,避免感应过电压的产生。同时,对限流式混合直流断路器的参数设计原则及复合开关的配置方法进行了详细的推导,并对其正确性进行仿真验证。仿真结果证明,采用文中所述方法进行限流式混合直流断路器的设计,不仅可以在直流电路发生短路故障时有效限制短路电流上升率,降低短路电流开断难度,还可以显著减少器件串联数量,从而达到降低装置体积与成本的目的。 相似文献
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针对一种基于折叠集的test-per-clock结构的混合模式BIST进行了低功耗优化设计.该设计方案针对伪随机测试序列与折叠测试序列采用了不同的方法来优化测试生成器,在电路结构上利用双模式LFSR将两部分测试生成器有机地进行了结合. 相似文献
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线路热备用断路器防雷探讨 总被引:4,自引:0,他引:4
分析了线路热备用断路器在雷电侵入时的损坏机理 ,并结合实际给出了用悬挂式避雷器保护的防范措施 ,重点阐明了避雷器悬挂位置及技术参数的选择。 相似文献
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