一种关于信息安全专用集成电路的测试验证系统

针对信息安全专用集成电路输入输出数据宽度大,无法做到测试全覆盖的特点,本文提出并实现了一种专门测试此类电路功能、性能的测试验证系统.该系统基于PC机,采用PCI软件和FPGA等硬件配合的方式,能够满足待测芯片对大批量数据高速传输需求.通过对一款椭圆曲线密码专用集成电路的测试,证明该系统具有成本低,便于调试、演示,代码通用性强,系统复制、移植方便等特点.该系统对解决信息安全专用集成电路的测试问题具有重要参考价值.     

高速串行数据接收器IC的可测性设计

集成电路芯片的测试已经成为现代集成电路设计的关键,本方案针对高速串行数据接收器专用集成电路的测试难点,提出了可行的测试电路,通过添加测试引脚、设计专用测试模式以及采用内建自测试等方法有效的解决了该芯片电路的功能测试和电气性能测试。     

扫描电路测试功耗综述

随着集成电路制造技术的发展.高集成度使得测试时的功耗成为集成电路设计必须考虑的一个重要因素,低功耗测试也就成为了测试领域一个令人关注的热点.目前,低功耗测试技术的研究还在发展之中,工业生产中低功耗测试方法还没有得到充分的应用.在集成电路中采用扫描结构的可测试性设计方法,能够提高测试覆盖率.缩短测试时间,已在集成电路测试中得到大量应用.基于扫描结构的数字集成电路,学术界已提出了许多方法降低该电路的测试功耗,本文对此方面的研究进行综述.随着测试技术的发展,测试功耗的理论也将日益深入.     

IC测试业生机显现华大泰思特顺势而起

强强联手顺势而为 华大泰思特的成立,标志着北京市集成电路检测技术和服务又迈上了一个新的台阶,为北京集成电路产业链的完善又扣上了重要的一环.该公司旨在北京地区建立专业化的集成电路测试服务平台,为全行业提供优质的集成电路设计验证及产业化测试服务和整体测试解决方案.     

华大泰思特为行业建立专业化的IC测试服务平台

北京华大泰思特半导体检测技术有限公司日前揭牌,该公司是由中国华大集成电路设计有限责任公司、北京自动测试技术研究所、北京中电华大电子设计有限责任公司等股东共同出资组建的集成电路测试公司,旨在北京地区建立专业化的集成电路测试服务平台,为全行业提供优质的集成电路设计验证及产业化测试服务和整体测试解决方案,并致力于完善北京地区的集成电路产业链.     

自动测试设备加流测压及加压测流的设计

在集成电路的测试中,通常需要给测试的集成电路提稳定的电压或电流,以作测试信号,同时还要对信号进行测量,这就需要用到电压电流源;本系统能作为测试设备的电压电流源,实现加压测流和加流测压功能.本系统具有箝位功能,防止负载电压或电流过大而损坏系统.应用结果表明,该检测系统运行稳定可靠,测重精度高.     

高速串行数据接收器专用集成电路的可测性设计

本文为了解决高速串行数据接收器专用集成电路的测试难题．提出了针对该高速工作的集成电路的测试方案．并设计了可行的测试电路．通过添加测试引脚、设计专用测试模式．内建自测试等方法有效的群决了该芯片电路的功能测试和电气性能测试．     

模拟集成电路直流参数测试

集成电路产业是当今社会三大信息产业之一,集成电路技术的飞速发展必然带动集成电路测试设备的不断更新,从而降低集成电路生产成本,提高生产效益。本文给出了一种基于AD5522的模拟集成电路直流参数测试系统设计方案。该方案利用AD5522和AD974构成多通道参数测试环路,设计并实现模拟集成电路直流参数测试系统。实验结果表明,与传统测试设备比较,该测试系统具有结构紧凑、测试速度快、精度高、可操作性强等特点。     

安捷伦与北大合建SoC测试教育中心和SoC测试工程中心

新成立的北京大学-安捷伦科技SoC测试教育中心是华北地区首家系统级芯片测试教育中心.该中心可向在校学生和半导体工程师们提供集成电路测试的系统培训和教育服务,为中国半导体产业的发展提供急需的专业人才.而新成立的北京大学-安捷伦科技SoC测试工程中心,将采用曾成功测试中国第一颗国产32位CPU芯片的安捷伦93000 SoC测试系统,为北京地区提供对含有微处理器、高速数字、内嵌式内存和模拟信号等各种复杂组合的SoC测试能力,为北京地区及周边的集成电路设计公司提供一流的SoC测试服务.     

一种集成电路测试流程分级动态调整方法

针对集成电路测试过程中测试时间长,影响测试效率的问题,提出了一种集成电路测试流程分级动态调整方法.通过统计样本集成电路中每种测试类型和每条测试向量的测试故障率来建立贝叶斯概率模型,根据其命中故障点的概率高低分级调整它们的加载顺序.随着测试的进行,不断收集测试数据,动态更新测试类型和测试向量的测试故障率,同步调整测试类型以及测试向量的加载顺序.实验表明,使用动态调整后的测试流程可以更早的发现故障电路,显著减少故障电路的测试时间,提高测试效率.本算法是完全基于软件的,不需要增加硬件开销,可以相容于传统的集成电路测试流程.