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《电子设计应用》2004,(2)
LabVIEW工具包轻松完成Simulink模型验证NI宣布推出LabVIEW仿真接口工具包2.0版。这一附加软件可以将NILabVIEW图形化开发环境与MathWorks公司的Simulink建模和仿真软件连接起来。利用该工具包,设计工程师们可以建立自定义的用户界面,以便交互式地验证Simulink模型,并轻松地将这些模型配置到实时硬件,进行控制原型设计和硬件在环测试,最终节省产品上市时间。www.ni.comKeithley推出KTEI5.0软件吉时利仪器公司(Keithley)发布基于4200-SCS型半导体特性系统的KTEI5.0软件。该软件简化了对设备的电流-电压测量,如晶体管、电阻以… 相似文献
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《电子工业专用设备》2006,35(12):70-71
针对不断增长的测量需求提供解决方案的吉时利(Keithley)仪器公司(NYSE:KEI),日前发布6.1版交互式KTEI及功能强大的KTE(I吉时利交互式测试环境)测量软件之最新版本,适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I-V能力并显著改进脉冲和DC测量的相关性。脉冲测试正成为日益重要的新特性分析技术。高速脉冲避免了自加热效应可能造成的损坏并应用于新半导体材料和器件的特性分析,例如高k栅层叠特性分析中的电荷俘获。吉时利4200-PIV包将4200-SCS的能力扩展至包含脉冲发生和分析的领域,适用于… 相似文献
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为了使4200型半导体特性描述系统(以下简称4200系统)能够最大限度地发挥作用,根据工作需要将该系统首次用于PCM参数测试。同时,与使用传统的晶体管图示仪测试的PCM参数进行了对比。结果表明,4200系统在PCM参数测试中具有很高的实用性,为稳定工艺提供了可靠监控手段。 相似文献
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扫描电镜用于微米、纳米尺度的测量及其标准化探讨 总被引:1,自引:1,他引:0
纳米长度的计量和检测是纳米技术研究中的一个关键性的基础测试问题。目前,纳米计量和检测技术主要向两个方向发展,一是发展建立在新概念基础上的一些测量技术,如以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜技术;二是采用传统的测量方法,通过提高其功能而达到纳米计量和测量的要求,这包括扫描电子显微镜、透射电子显微镜、软X射线显微镜、轮廓仪、激光共聚焦显微镜、激光干涉仪、电容测微仪等。本文将对扫描电镜用于微米、纳米尺度的测量及其标准化进行探讨。 相似文献
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