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相似文献
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1.
测试与测量     
LabVIEW工具包轻松完成Simulink模型验证NI宣布推出LabVIEW仿真接口工具包2.0版。这一附加软件可以将NILabVIEW图形化开发环境与MathWorks公司的Simulink建模和仿真软件连接起来。利用该工具包,设计工程师们可以建立自定义的用户界面,以便交互式地验证Simulink模型,并轻松地将这些模型配置到实时硬件,进行控制原型设计和硬件在环测试,最终节省产品上市时间。www.ni.comKeithley推出KTEI5.0软件吉时利仪器公司(Keithley)发布基于4200-SCS型半导体特性系统的KTEI5.0软件。该软件简化了对设备的电流-电压测量,如晶体管、电阻以…  相似文献   

2.
《电子产品世界》2007,(4):105-105
安捷伦科技于15日在北京举办了安捷伦首届纳米技术与测量解决方案研讨会。研讨会设有七大主题,分别是“安捷伦在纳米技术中的贡献”;“多用途的扫描探针显微镜”、“碳管场效应晶体管的纳米探测和评估”、“纳米器件的阻抗测量”、“纳米技术中的材料分析”、“使用脉冲发生器检定纳米器件”和“用于纳米技术研究的通用仪器”。在此次研讨会上,安捷伦原子力显微镜、半导体器件分析仪、阻抗分析仪、材料分析仪、脉冲发生器和其它通用仪器的专家们,在会议现场进行了测量仪器的演示。  相似文献   

3.
吉时利仪器公司目前开发了一套纳米技术 工具包,这是一套专门设计用于纳米技术研究常见测试的测量软件工具,可以帮助纳米技术研究人员进行与纳米技术相关的精确而且通常十分复杂的电气测量。该纳米技术工具包及其软件程序为免  相似文献   

4.
超快C-V测量模块4225-PMU超快I-V测试模块进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流/电压测量功能,实现了业界极宽的电压、电流和上升/下降/脉冲时间动态量程  相似文献   

5.
美国吉时利(Keithley)仪器公司日前发布4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本,本次升级引入4200-SCS新一代脉冲测试功能。实验室系统的应用将集成直流和脉冲测量功能与完整的应用工具包结合,为用户提供完整解决方案。功能增强的脉冲发生器插卡和新型的示波器插卡,为半导体技术生产和研究者们提供强大新功能。新升级  相似文献   

6.
吉时利仪器公司日前宣布对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件(KETI)V7.2版经过升级囊括九种新的太阳能电池测试库,扩展了系统电容-电压(C-V)测量功能的频率范围,支持该公司最新九槽4200-SCS仪器架构。  相似文献   

7.
《电信科学》2007,23(12):94-94
吉时利仪器公司宣布推出4200-CVU,为4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200S-CS的任意可用仪器插槽中,能在10kHz~10MHz频率范围内快速、方便地测量腰和nF级电容,具有直观的点击式配置界面,线缆连接简单,内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户是否具有相关测量经验,都能使用该仪器实现专业级的C-v测量。由于4200-CVU附带完整的测试库,因此极大提高了测量效率。如果与吉时利4200-LS-LC-12结合使用,将实现更高测量效率。  相似文献   

8.
吉时利仪器公司推出最新的4225-PMU超快I-V测试模块,进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流,电压测量功能,实现了更宽的电压、电流和上升/下降,脉冲时间动态量程,大大提高了系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力。同样重要的是,  相似文献   

9.
《电子与电脑》2010,(3):84-84
吉时利仪器公司宣布推出了最新的4225-PMU超快I-V测试模块.进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流/电压测量功能,实现了业界最宽的电压、电流和上升/下降/脉冲时间动态量程.大大提高了系统对新材料、器件和工艺进行特征分析的能力。  相似文献   

10.
《通信世界》2008,(1):I0028-I0028
近日,吉时利公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C—V测量功能——4200-CVU,同时发布业界领先的MIMO射频测试解决方案。吉时利公司介绍,4200—CVU改写了测试历史,具有开发时间短,学习过程容易,测试能力快速,测量效率高,  相似文献   

11.
美国《科学》杂志2001年12月20日公布了该杂志评出的2001年世界十大科技突破。这十大突破如下:纳米技术领域获得多项重大成果。继在2000年开发出一批纳米级装置后,科学家今年再进一步将这些纳米装置连接成为可以工作的电路,这包括纳米导线、以纳米碳管和纳米导线为基础的逻辑电路、以及只使用一个分子晶体管的可计算电路。分子水平计算技术的飞跃有可能为未来诞生极微小但极快速的分子计算机铺平道路。  相似文献   

12.
针对不断增长的测量需求提供解决方案的吉时利(Keithley)仪器公司(NYSE:KEI),日前发布6.1版交互式KTEI及功能强大的KTE(I吉时利交互式测试环境)测量软件之最新版本,适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I-V能力并显著改进脉冲和DC测量的相关性。脉冲测试正成为日益重要的新特性分析技术。高速脉冲避免了自加热效应可能造成的损坏并应用于新半导体材料和器件的特性分析,例如高k栅层叠特性分析中的电荷俘获。吉时利4200-PIV包将4200-SCS的能力扩展至包含脉冲发生和分析的领域,适用于…  相似文献   

13.
美国吉时利(Keithley)仪器公司日前发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI(吉时利交互式测试环境)V7.1版。经过此次软件升级之后,KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样,4200-SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分析,从而成为市场上最完整的半导体特征分析仪,大大降低了一些复杂测量的难度,并且通过保护用户的固定资产投资降低了用户的测试成本。  相似文献   

14.
《电子与自动化》2011,(1):93-94
纳米线探测器能在细胞内进行敏锐的探测。 来源:《用作定位生物探测器的三维、灵活纳米线场效应晶体管》 田博之等 结果:哈佛的研究人员制成了不会引起排斥的纳米级的探针,利用晶体管在细胞内进行精确的电和化学测量。探针的末端大小与病毒大小相当。  相似文献   

15.
2008年7月29日,美国吉时利(Keithley)仪器公司发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI(吉时利交互式测试环境)V7.1版。经过此次软件升级之后,KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样,4200-SCS就支持从低到高各种功率水平器件的特征分析,从而成为市场上最完整的半导体特征分析仪,大大降低了一些复杂测量的难度,并且通过保护用户的固定资产投资降低了用户的测试成本。  相似文献   

16.
测试和测量     
面向无线通信应用的衰减控制器,满足MIMO研发需求的测试方案,面向UWB研发与生产制造的测试系统,GPS测试系统,4200-SCS系统扩展C-V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能,3700系列开关/万用表新型插卡  相似文献   

17.
为了使4200型半导体特性描述系统(以下简称4200系统)能够最大限度地发挥作用,根据工作需要将该系统首次用于PCM参数测试。同时,与使用传统的晶体管图示仪测试的PCM参数进行了对比。结果表明,4200系统在PCM参数测试中具有很高的实用性,为稳定工艺提供了可靠监控手段。  相似文献   

18.
扫描电镜用于微米、纳米尺度的测量及其标准化探讨   总被引:1,自引:1,他引:0  
纳米长度的计量和检测是纳米技术研究中的一个关键性的基础测试问题。目前,纳米计量和检测技术主要向两个方向发展,一是发展建立在新概念基础上的一些测量技术,如以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜技术;二是采用传统的测量方法,通过提高其功能而达到纳米计量和测量的要求,这包括扫描电子显微镜、透射电子显微镜、软X射线显微镜、轮廓仪、激光共聚焦显微镜、激光干涉仪、电容测微仪等。本文将对扫描电镜用于微米、纳米尺度的测量及其标准化进行探讨。  相似文献   

19.
《电子与电脑》2009,(5):84-84
吉时利仪器公司日前发布测试界第一个利用一套线缆即可处理I-V、C-V和脉冲I-V信号的互连解决方案(正申请专利)。本款最新布线套件基于专利型设计,能大大加快并简化从任意先进半导体参数分析仪到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探测器进行直流电流一电压(I-V)、电容一电压(C-V)和脉冲I-V测试互连的过程。互连线的设计与吉时利4200-SCS半导体特征分析系统以及其他一些用于特征分析的测试仪器兼容。  相似文献   

20.
《电子质量》2009,(4):30-31
吉时利仪器公司宣布对其4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件(KETI)V7.2版经过升级囊括九种新的太阳能电池测试库,  相似文献   

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