改进的部分扫描触发器选择的方法

研究了部分扫描触发器的选择，对原有的基于状态密度的方法做了一些改进，提出一种综合的，基于故障可控性和可观性的扫描触发器选择的方法，并分析了扫描触发器对电路时序特性的影响，在对ISCAS 89标准电路的模拟中，该方法对大部分电路可以减少选择的扫描触发器的个数，提高测试效率和测试覆盖率。     

基于网络的混合信号边界扫描测试系统的设计与实现

将边界扫描技术与网络技术结合,解决高密度电路系统特别是混合信号电路及复杂测试环境带来的测试问题,可实现远程测试与故障诊断;设计了一种基于网络的混合信号边界扫描测试软硬件系统,硬件部分设计了边界扫描测试控制器、网络接口电路并实现了硬件底层驱动程序,软件部分实现了边界扫描测试系统程序和网络接口功能函数;对被测电路进行测试验证,测试结果表明系统可完成混合电路的远程边界扫描测试,具有较好的应用前景。     

滚筒扫描仪主控电路的设计

主控电路是控制滚筒扫描仪的关键部分，本文介绍了一种高分辨率滚筒扫描仪的主控电路的设计，包括整体设计、扫描接口控制与LUT查找表计算系统、外围控制及PLL芯片设计。     

读者热线

《电脑技术》编辑部：我的电脑最近出现一个怪现象．每次开机．显示器总是出现彩色一会儿深，一儿谈的现象，几分钟后才进入稳定显示，不知何故？（河北鲍华）鲍华同志：您好！要了解显示器开机时出现彩色一会儿深、一会儿谈的故障原因还得从显示器的电路结构和各部分电路的作用说起。目前绝大多数电脑使用的都是VGA或SuperVGA显示器，其电路通常由视频处理电路、行场扫描电路和电源供给电路三大部分构成，加附图所示。其中电源供给和行场扫描电路的作用不言而喻，视频处理电路的作用则是对显卡输出的R、G、B三个基色信号进行稳定放大，…     

彩色显示器行场扫描电路故障及分析

行场扫描电路是显示器电路中的很重要的组成部分．行扫描电路由行振荡器、行鉴相器、行激励级、行输出级组成；场扫描电路由场振荡器、杨锯齿波形成电路、场激励、场输出级等组成。目前的彩色显示器大都采用了专用行场扫描电路集成芯片。如：行场信号处理器HA11235，行扫描信号处理器TDA1180、MC1391，场扫描信号处理器TDA1170等。行场扫描电路的主要作用是分别给行场偏转线圈提供具有一定幅度且线性良好的锯齿波电流，当有同步信号输出时，还要求光栅与主机送来的行场同步信号保持严格的同步。另外，行扫描电路还要为显像管提供正常工…     

FPGA芯片中边界扫描电路的设计实现

应用在FPGA芯片中的边界扫描电路侧重于电路板级测试，兼顾芯片功能测试，同时提供JTAG下载方式。FPGA芯片的规模越来越大，引脚数目越来越多，边界扫描单元也随之相应增加。在此情况下，边界扫描电路设计时为了避免移入错误数据，对时钟偏差提出了很高的要求。同时，由于扫描链包含大量的边界扫描单元，在板级测试时，大大降低了有效测试速率。针对这两个问题，提出了对边界扫描单元的改进方式，改进后的边界扫描电路不仅可实现测试、编程功能，而且大大提高了电路抗竞争能力，保证电路正常工作。改进后的电路使边界扫描寄存器链的长度可以改变，使有效测试速率提高了20倍左右。     

会修黑白电视机就能很快学会修理彩色电视机 四

4.光栅正常无囹无声光栅正常,说明电源部分、扫描电路、显象管电路等基本正常,故障主要在图象和伴音的公共部分,即高频调谐器、预选器、中放电路、视频检波,或AGC电路故障引起高放,中放电路工作异常。此种故障的发生部位和黑白电视机是一样的。一般来说,伴音     

纸币号码读入识别系统的单片机实现

本文详细的介绍了如何用单片机解决纸币号码的自动读入和识别问题。该系统由硬件和软件两部分组成，硬件部分主要由线性CCD扫描电路和单片机系统组成，软件部分分为目标搜索，字符分割，字符识别，并针对大写字母和阿拉伯数字的特点，提出了一种速度快，正确率高的字符识别方法。     

微机系统故障维修两例

1彩色监视器故障维修一例一方台湾产AOC（cm一月匆彩色监视器显示内容正常，画面偏离垂直中心并缓慢地向右移动，连续开机约两小时移动一个画面，调节H．CENTER按钮，也可使画面左、右移动。显然，这是监视器行扫描电路出了故障，因没有现成的图纸资料，本人参照实物绘制出行扫描部分电路图，见图1。主机送来的行同步信号H．SYNC经过异或电路74LS86，送给双单稳态触发电路74LS221的第2脚，经两次触发翻转后由输出端ZQ送给Q。孩大，再送给MC1391第3脚。与此同时从行输出电路反馈回来的行逆程脉冲，经RC积分电路得到的锯齿波送到M…     

自动储物柜控制系统设计

本文介绍了自动储物柜控制系统的设计与实现方法.该控制系统由中央控制与门控部分两部分组成,中央控制由微机构成.包括储物柜状态界面和控制界面:门控部分用AT89C52单片机作为主控芯片,辅以相关的键盘、显示、语音、条码扫描及条码打印电路,两部分之间采用串行通信方式进行数据交换.系统能够实现语音提示、LCD同步显示、时条形码数据进行扫描.并将其结果通过译码电路进行识别、自动产生一组随机数据并将其转化为条码打印出来等功能.     

基于LSSD的Cache电路的扫描测试设计

在扫描测试设计时,因电路行为的不同需采用不同的扫描单元,LSSD(level-sensitive scan design)正是一种非常适合于电平敏感型电路的扫描单元,但在时钟控制相对复杂的电路中仅采用标准LSSD单元来完成整个扫描测试设计是不够的.在经过对LSSD扫描测试原理进行深入研究后,结合某32位RISC CPU中的Cache电路的行为特点,对标准LSSD扫描单元做了重新设计,并获得了较高的测试覆盖率和故障覆盖率.     

扫描链故障确定性诊断向量生成算法

扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,是提高测试质量的有效手段.但由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,因此扫描链故障导致的失效可能会达到失效总数的50%.提出一种扫描链故障确定性诊断向量生成算法:首先建立了诊断扫描链故障的电路模型,利用该模型可以采用现有固定型故障测试生成工具产生扫描链诊断向量;然后提出一种故障响应分析方法,以有效地降低候选故障对的数量,从而在保障诊断质量的前提下减少诊断向量数目,缩短了诊断过程的时间.实验结果表明,在测试诊断精确度、故障分辨率和向量生成时间方面,该算法均优于已有的扫描链诊断向量生成方法.     

模拟电路边界扫描功能性测试模型研究

边界扫描技术在数字电路中已经基本成熟,但在模拟电路中还涉足较少。为了提高模拟电路系统的可靠性和可测性设计,对模拟电路面向功能性测试的边界扫描模型进行了研究,结合IEEE1149.1标准框架结构和IEEE1149.4标准混合信号测试总线思想,提出了利用数字寄存器控制模拟开关的边界扫描单元结构,设计了面向功能测试的模拟电路边界扫描模型,简化了测试存取口,降低了测试难度,同时构建了模型测试平台,实现了模型的功能测试功能。     

边界扫描在数模混合电路板级测试中的设计与应用

针对飞控系统某数模混合电路板测试需求,在不利用外部信号源、信号采集设备的条件下,利用边界扫描技术进行测试系统设计。介绍了PCI-410边界扫描核心套件和ScanWorks测试软件,对边界扫描测试方法进行研究,详细说明了测试系统方案设计、测试流程开发步骤以及测试程序执行方式,并通过实际测试,验证了设计的可行性,为数字电路板和简单的数模混合电路板的测试提供了实用的测试方法和手段,具有很好的应用价值。     

基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成

针对基于多扫描链的内建自测试技术,提出了一种测试向量生存方法。该方法用一个线性反馈移位寄存器（LFSR）作为伪随机测试向量生成器,同时给所有扫描链输入测试向量,并通过构造具有最小相关度的多扫描链克服扫描链间的相关性对故障覆盖率的影响。此外该方法经过模拟确定难测故障集,并针对这外难测故障集利用ATPG生成最小确定性测试向量集。最后丙依据得到的最小测试向量集来设计位改变逻辑电路,利用们改变逻辑电路控制改变扫描链上特定的值来实现对难测故障的检测,从而实现被测电路和故障完全检测。     

ScanBist: a multifrequency scan-based BIST method

The authors present ScanBist, a low-overhead, scan-based built-in self-test method, along with its performance in several designs. A novel clock synchronization scheme allows at-speed testing of circuits. This design allows the testing of circuits operating at more than one frequency while retaining the combinational character of the circuit to be analyzed. We can therefore apply scan patterns that will exercise the circuit under test at the system speed, potentially providing a better coverage of delay faults when compared to other self-test methods. Modifications to an existing transition fault simulator account for cases where inputs originating from scan registers clocked at different frequencies drive a gate. We claim to detect transition faults only if the transition originates from the inputs driven by the highest frequency clock. ScanBist is useful at all levels of system packaging assuming that a standard TAP provides the control and boundary scan isolates the circuit from primary inputs and outputs during BIST mode     

CPLD及边缘扫描测试技术在电动车组辅助系统中的应用研究

本文研究了CPLD、VHDL及边缘扫描测试技术，以在电力机车辅助系统中的应用为例，取代传统的继电器有触点控制电路，简化了电路设计，生产及调试，提高了系统可靠性。     

建立在模拟集成电路上的边界扫描设计

对模拟芯片边界扫描测试方法进行了研究,结合IEEE1149.1标准框架结构和IEEE1149.4标准混合信号测试总线思想构建了模拟芯片边界扫描测试电路,运用了数字移位寄存器和模拟开关构成模拟边界扫描单元,并编写了TAP控制器及其它电路的VHDL代码,通过实验仿真验证了测试电路的可行性。测试电路可以完成模拟芯片的简单互连测试以及性能测试。     

一种基于核设计的SOC测试控制体系结构

随着集成电路复杂性的提高和SOC系统的出现,电路测试的难度也在不断增大,测试问题已经成为SOC设汁的瓶颈。在研究了现存的测试控制结构后提出了基于核设计的SOC测试控制结构,它以边界扫描控制体系为基础,融合多种测试控制方法,支持不同类型的IP核进行测试。从而解决了SOC测试中控制部分的一些问题。