适用显微镜质量测试的高分辨率测量镜头设计

利用Zemax光学设计软件设计了一款适用于光学成像尺寸为38mm的互补金属氧化物半导体(CMOS)型工业相机的高分辨率测量镜头,该工业相机用于自动化定量分析检测显微镜像差。通过数码图像处理的方式去评判显微镜物镜性能的好坏。在满足性能要求基础上,对普通的测量镜头结构加以优化,使得测量镜头拥有非常高的分辨率。该镜头焦距为36mm,后工作距约为32mm,视场像面高度为36mm,在90lp/mm处,中心视场调制传递函数(MTF)值大于0.45,边缘视场MTF值大于0.25。     

恩智浦推出全新i.MX 8X处理器,为工业应用带来更高的安全性、可靠性和可扩展性

正2017年3月14日,恩智浦半导体(NXP Semiconductors N.V.)推出全新的i.MX 8X系列,进一步扩大了i.MX 8系列应用处理器的可扩展范围。i.MX 8X系列沿用了高端i.MX 8系列的通用子系统和架构,有多种引脚兼容版本可供选择,同时最大程度地实现了软件的重复利用,因此能提供非常出色且极具性价比的扩展选择范围。集成的ARM~Cortex~-A35和Cortex-M4F CPU采用全耗尽型绝缘层硅     

近场光学显微镜

近场光学显微镜根据非辐射场的探测与成像原理,能够突破普通光学显微镜所受到的衍射极限,在超高光学分辨率下进行纳米尺度光学成像与纳米尺度光谱研究,本文简介近场光学的基本原理与近场光学显微镜的仪器发展;讨论近年来近扬光学显微镜的一些进展,接近原子分辨的超高分辨率光学成像,近场光谱与半导体量子器件,生命科学中超显微观察和近场荧光以及近场原理在产业化中的应用。     

美国半导体光学设备动态

八二年五月随仪表总局半导体光学设备考察组赴美国考察,参观了美国西部半导体设备和材料展览会及若干半导体器件制造和设备制造公司,本文报导了美国在投影光刻机、X射射光刻机的发展情况,还介绍了一些光学检测设备的型号规格等技术参数。     

软X射线显微成像

软X射线显微成像技术为研究生物显微结构开辟了一条新的途径,突破了光学显微镜和电子显微镜在应用上的某些限制。本文评述了软X射线接触显微镜、软X射线成像显微镜、软X射线扫描显微镜以及三维软X射线显微成像和X射线全息术,并介绍了中国科技大学在软X射线接触显微成像方法研究中所取得的成果。     

材料5Cr9Si3电镦气门裂纹检验与分析

客户在生产投材料5Cr9Si3盘条电镦时产生废料,废料的缺陷主要表现在电镦球形时产生开裂。结果经切割、解剖、镶嵌、磨制、抛光、腐蚀后用ZEISS光学显微镜50X\100X\200X\500X\1000X不同倍率下发现材料5Cr9Si3中存在缩孔残余缺陷。     

T91钢管在600℃长期时效后的组织及力学性能

采用光学显微镜、透射电镜、拉伸试验机与冲击试验机等,研究了T91钢管在600℃时效不同时间(0,3 000,5 000,8 000h)后的组织及力学性能。结果表明:T91钢管在600℃时效前后的组织均为回火马氏体,晶粒尺寸变化不明显;时效3 000,5 000,8 000h后,室温抗拉强度和屈服强度的变化不大,但塑性和韧性有所降低;时效5 000h后的析出相与时效前的相同,主要为M23C6型碳化物和MX型碳氮化物,时效8 000h左右后有新相(Laves相)析出。     

精子运动参数检测系统的设计与研究

在常规医学显微镜基础上，综合运用现代光学、光电检测、计算机视觉、图像识别和图像处理等技术，研制出了精子运动参数检测系统，配合系统软件，实现了精子运动参数的定量检测。临床应用表明，该系统具有较高的灵敏度、较好的重复性和可靠性。     

纳米级光学显微镜研制成功

<正>英国和新加坡研究人员3月1日报告说,他们制造出能够观测50nm大小物体的光学显微镜,这是迄今观测能力最强的光学显微镜,也是世界上第一个能在普通白光照明下直接观测纳米级物体的光学显微镜。英国曼彻斯特大学研究人员和新加坡同行当天在新一期《自然·通信》杂志上报告了这项成果。由于光的衍射特性的限制,光学显微镜的观测极限通常约为1μm。研究人员通过为光学显微镜添加一种特     

KDP晶体加工表面的亚表面损伤检测与分析

采用截面显微法和择优蚀刻法分别对磷酸二氢钾(KDP)晶体从线切割样品制备到磨削、抛光亚表面损伤进行检测,利用OLYMPUS MX40光学显微镜对表面腐蚀现象与亚表面裂纹形状进行观测,并对裂纹深度进行测量。结果表明,由线切割产生的亚表面损伤裂纹形状以"斜线状"为主,裂纹深度最大值为85.59 μm;由#600砂轮磨削产生的亚表面损伤深度最大值为8.55 μm。在(001)晶面出现了四方形的分布密度较高的位错腐蚀坑;而在三倍频晶面上出现的是密度较低、形状类似梯形的位错腐蚀坑。该研究为KDP晶体亚表面损伤提供了一种检测与分析手段。     

中子显微镜

不久前，一种用中子来代替光进行影像放大的显微镜原型在美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology)中子研究中心成功进行了演示实验。无论是从成像效果还是操作工序来看，中子显微镜将比光学显微镜、X射线和电子显微镜都更具有优势。     

中子显微镜

不久前，一种用中子来代替光进行影像放大的显微镜原型在美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology)中子研究中心成功进行了演示实验。无论是从成像效果还是操作工序来看，中子显微镜将比光学显微镜、X射线和电子显微镜都更具有优势。     

中子显微镜

不久前，一种用中子来代替光进行影像放大的显微镜原型在美国国家标准与技术研究院(National Institute Standards and Technology)中子研究中心成功进行了演示实验。无论是从成像效果还是操作工序来看，中子显微镜将比光学显微镜、X射线和电子显微镜都具有优势。     

新型光学显微镜

德国科学家最近发明了一种新型光学显微镜，其分辨率已达到50至70纳米（1纳米为十亿分之一米），且理论上还能提高数倍。科学家表示，这种新型显微镜能为研究生物细胞分子翻开新的一页。     

新型光学显微镜

德国科学家最近发明了一种新型光学显微镜，其分辨率已达到50至70纳米（1纳米为十亿分之一米），且理论上还能提高数倍。科学家表示，这种新型显微镜能为研究生物细胞分子翻开新的一页。     

德发明高分别率新型光学显微镜

德国科学家最近发明了一种新型光学显微镜，其分辨率已达到50至70纳米（1纳米为十亿分之一米），且理论上还能提高数倍。科学家表示，这种新型显微镜能为研究生物细胞分子翻开新的一页。     

半导体泵-固体激光诱导荧光检测器的研制

以发射波长为473 nm的半导体泵固体激光器为激发光源,采用共聚焦光学结构,研制了一种小型模块式激光诱导荧光检测器.以异硫氰酸荧光素为荧光探针,用固定式柱上检测卡槽固定毛细管,用在100 μm i.d.的毛细管电泳柱评价该体系的浓度检出限为5×10-11 mol/L,在0.5 nM～50 nM之间线性关系为R=0.9996.如果将被测毛细管安装在X-Y光学平台上,则检出下限为1×10-11 mol/L.利用该系统考察了实际样品中核黄素的检测,获得较好的结果.     

极紫外及X射线波段超光滑反射镜的超精密加工与检测

极紫外、X射线为微观物质认识、宏观空间探测提供了高精度的观测手段,但这类观测的实现需要大量高精度光学反射元件的支撑。由于极紫外、X射线在光学表面更易发生散射,其光学反射镜基底的精度需求和制作技术也明显区别于长波元件。近年来,同济大学精密光学工程技术研究所建立了极紫外、X射线反射元件基底的超精密加工与检测平台,研发了超光滑非球面的离子束修形技术,提出了基于泽尼克多项式的随机离轴旋转绝对检测方法,形成了极紫外、X射线光学用反射镜基底的高精度全流程研制技术,并将该技术成功地应用于国内和国际短波光学大科学装置中。本文综述了本课题组在极紫外、X射线用反射镜制作领域中的研究进展。     

Wolter-Ⅰ型聚焦镜X射线光学实验与仿真

为了深入研究Wolter-Ⅰ型X射线聚焦镜片的光学性能,掌握聚焦镜的对准和测试方法,研究单层Wolter-Ⅰ型X射线聚焦镜片性能。在中国科学院高能物理研究所(IHEP)百米真空X射线标定装置中对单层聚焦镜镜片的离焦、聚焦和离轴工况进行了实验测试。分析了焦距、焦斑分布、角分辨(50%能量所占区域HEW为17″和90%能量所占区域W90为44″)等光学性能参数。将得到的结果与德国马克斯普朗克地外物理研究所(MPE)PANTER X射线标定装置的实验数据对比,性能参数基本相同,得到的W90甚至优于MPE。实验结果验证了仿真计算结果,为进一步开展像质研究提供了依据。通过实验掌握了聚焦镜的对准和测试方法,未来该方法在X射线天文卫星载荷标定测试中将发挥巨大作用。     

靶丸X射线光学厚度的精密检测

为了精密检测靶丸X射线光学厚度均匀性,建立了基于精密轴系和光纤阵列探测的靶丸X射线光学厚度检测装置,开展了光学厚度轮廓仪光路精密调校技术的研究,应用白光共焦光谱技术和光学显微成像技术,解决了气浮转台精密调整、X射线光路对中的难题,实现了对塑料靶丸壳层缺陷、表面质量、壁厚均匀性、壳层材料成分均匀性等多种耦合扰动综合效应的表征。对系统的稳定性进行了测试,实验结果表明,该系统的测量重复性偏差可基本控制在0.01%以内,空间分辨率约为100μm,满足ICF靶物理研究对靶丸X射线光学厚度扰动的高精度检测需求。