共查询到20条相似文献,搜索用时 0 毫秒
1.
2.
3.
全自动探针测试台之关键技术 总被引:1,自引:0,他引:1
高慧莹 《电子工业专用设备》2005,34(7):52-55
根据国内外半导体产业的发展趋势,分析了φ200mm全自动探针测试台在中国的发展及所需的相关技术。 相似文献
4.
5.
唐德兴 《电子工业专用设备》1992,21(3):13-16
<正> 国内外概况 自动探针台作为对芯片电路进行参数和功能测试的中间测试设备,在国内外已有较长时间的研究和应用。随着LSI及VLSI的发展,测试点数量的增加、尺寸的缩小、密度的增大、以及规模生产和某些敏感元器件测试的需要,对自动探针台的精度(定位精度、重复精度及位置分辩率)、运行速度、使用功能、探测能力、软件接口、工作可靠 相似文献
6.
BrentForman 《电子设计应用》2003,(10):20-21,28
从设计阶段很快转入硬件实现的压力是加速每种产品开发的核心问题。与射频电路设计革命相呼应的是最近引入的测试设备与设计自动化工具的集成能力。它可直接建立仿真和原型数据的相关性、生成虚拟硬件、仿真难以重现的硬件损伤,以及扩展测试设备的能力。测量和分析仪器与设计师 EDA工具的结合为加速设计带来了以往不可企及的好处。Agilent的先进设计系统(ADS)是一种高频混合信号设计环境,具备能适应未来一代无线应用设计要求的设计工具。ADS不是为建模在电路板上放置一套标准的集成电路和分立元件,而是用具有射频损伤的电路板元件进行功… 相似文献
7.
8.
张宛平 《电子工业专用设备》2007,36(2):4-5,57
<正>集成电路设计业的兴旺带来大量的设计验证测试需求,测试既是集成电路产业链中的一环,也是集成电路产品验证出厂的关键,探针卡就是介于自动测试系统与IC芯片之间,用于封装前测试IC产品功能参数的精密界面卡,它与集成电路的设计和测试封装密不可分。 相似文献
9.
10.
集成电路(IC)测试是伴随着集成 电路的发展而发展的,它对促进集成电路的进步和应用作出了 巨大的贡献.为了确保产品质量和研制开发出符合系统要求的电路,在集成电路研制、生产和应用等各个阶段都要进行反复多次的检验、测试.中小规模电路具有设计灵活的特点,常用作大规模电路的外围电路,应用十分广泛.因此保证以高效率、低费用完成大批量SSI/MSI的测试和生产是十分必要的.由于我国LSI/VLSI无 论是生产及应用均落后于发达国家,远不如MSI/SSI应用普及,国内IC测试 从需求、效益和测试费用的投入,也未达到普遍追求大型测试系统的阶段,另外国内SSI/MSI测试仪已达到国外同 类产品水平,而价格与进口机型相比要低得多,所以国内SSI/MSI测试仪的市 场仍有一定的规模. 相似文献
11.
12.
采用电子束探针测试(EBT)的IC单元设计验证技术 总被引:1,自引:0,他引:1
本文用电子束探针测试技术对IC单元电路进行了设计验证,包括功能验证和延迟参数的验证。快速准确地完成了电路内部的故障定位,完成了输入、输出的延迟测量及内部数门的延迟测量,测试结果准确可信。这一技术尝试,为集成电路的设计验证开辟了新的领域。 相似文献
13.
14.
15.
16.
17.
介绍了ASIC设计过程中测试矢量的产生与验证步骤,包括激励编写规划、波形检查、测试矢量的获得以及测试矢量的验证。 相似文献
18.
更高速CMOS VLSI,特别是RISC和CISC的发展,要求用来测试这些器件的ATE增加高频测试能力。本文分析测试仪管脚电子电路特性和DUT到测试仪的接口,以及在这些领域对ATE提出的新要求。 相似文献
19.
20.
一、概述全自动四探针电阻率测试装置是为硅单晶电阻率标准量值传递而研制的,但也可以作为一般硅单晶片的电阻率测试用.该装置已于去年十月通过国家鉴定.以后又经过半年多的应用考察,取得了满意的结果.故作如下介绍,仅供参考. 相似文献