集成电路测试仪器选购点滴

集成电路是微电子产业的主流产品,是电子产品的核心部分。集成电路测试仪器是研究、设计、试制、生产、应用集成电路必不可少的关键仪器,集成电路被用于什么领域和部门,集成电路测试仪器也就随之进入什么领域和部门。从用途来说,集成电路测试仪器只用于测试集成电路。从应用领域来说,它用于一切和集成电路打交道的单位:不管它是工厂、企业,还是科研机构和学校;不管它是军用或民用机构,还是生产和维修机构;不管是计算机行业、通信行业,电视机行业、家用电器行业、医疗设备行业,导弹卫星行业,还是其他什么行业。随着集成电路技术进步、品种增多、用量增大,其应用日益广泛。关心和应用集成电路测试仪器的单位和部门也越来越多。怎样选购集成电路测试仪器,就成了大家普遍关心的问题。这里,简要介绍选购集成电路测试仪器的各种问题供大家参考。     

基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

在半导体技术高速发展的今天,对集成电路的测试要求越来越高,测试开发的难度、复杂度都在增加,如何应对当前集成电路的测试需求,成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统,用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源,列举了部分模块及其功能和参数;描述了一般集成电路测试开发的流程,并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容;介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境,列举了测试程序构成要素以及各自功能;介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境,测试系统提供的调试工具以及调试方法。     

VXI数模混合集成电路测试系统

1、简介《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发,对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI总线测试系统由于其开放性、可扩展性及模块化结构使其应用广泛。该项目带动了国内集成电路     

IDDQ测试技术及其实现方法

ＩＤＤＱ测试是近几年来国外比较流行的ＣＭＳＯ集成电路测试技术。ＩＤＤＱ测试能够２检测出传统的固定值故障电压测试所无法检测的ＣＭＯＳ集成电路内部的缺陷、所以,能够明显提高ＣＭＯＳ集成电路的使用可靠性。本文叙述了ＩＤＤＱ测试的基本原理和ＩＤＤＱ测试在集成电路测试系统上的实现方法及测试实例。     

基于Internet的集成电路测试管理系统

本文利用普及的Internet,通过集成电路测试管理系统实现了属于一个公司的两个或以上办公场地之间数据共享、编辑与查询功能.集成电路测试管理系统是针对该行业的需求而量身定做的MES(生产管理系统).该系统通过流程控制机制将各部门间的工作规范化,从而严格地按照一定的顺序进行下去而不会产生跨级.     

MMIC微波S参数测试

阐述了单片微波集成电路测试系统的工作原理,测试方法和自动测试程序。     

集成电路多值逻辑测试仪

Simi100数字集成电路多值逻辑测试仪是在总结国内外同类产品优点的基础上,本着实用、方便、准确的宗旨向国内外市场推出的新品,是完全智能化的产品。它采用独特的测试技术,融数字集成电路的功能测试和参数测试为一体,无需其它辅助设备即可对数字集成电路进行测试,且易于掌握,为使用者提供了一种极为有效的测试手段。另外可人工干预设置测试参数,并可对未列入手册的数字集成电路编程进行二次开发,从而充分解决了用户对数字集成电路只进行抽测或简单的功能测试已不能保证器件质量、满足使用需求这一实际问题。 Simi100的性价比远远高于其它国内外厂家生产的市场上常见的数字集成电路功能测试仪及一般编程器测试仪。除可测试数字集成电路的功能和各项直流参数外,还能对“OC”、“三态”、“模拟开关”等数字集成电路进行有效测试。目前Simi100测试品种达到几千种,并可根据用户要求进行扩充,经过Simi100测试的器件组装而成的整机,其抗干扰能力大大提高,并且温度适应范围宽,可克服一般常见的软故障(如开机后数小时死机等)。     

现代集成电路测试技术

本书是一部包括集成电路测试理论、测试方法、测试标准，各种类型测试系统、测试辅助设备和测试系统计量等内容的现代集成电路测试技术全书。具有全面性、系统性和实用性的特点。本书的目的是使读者对集成电路测试问题有一个明晰的解决方法的轮廓，知道今天的集成电路测试需要做什么？我们能做什么？还会有什么样的难题？发展的方向是什么？     

集成电路测试技术的应用研究

电子信息技术得到了很大的发展,从而促进了集成电路测试技术的广泛应用.因此,测试集成电路设计和制造的过程极其重要,要求相关工作人员对集成电路设计、制造的测试基本理论和方法必须熟练掌握,为高质量电子产品的生产提供保障.     

如何保证集成电路的测试质量

阐述了集成电路的测试过程中，如何保证其测试质量的几个方面的问题。内容包括测试设备的硬件选择、测试软件的编写、集成电路测试结果的分析及集成电路的管理等。     

CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践

分析了CMOS集成电路电源电流与集成电路芯片缺陷的相关性，介绍了CMOS集成电路新的测试方法－IDD频谱图形测试方法的测试原理，以及实现CMOS集成电路IDD频谱图形测试的测试框图。     

应用虚拟仪器(VI)技术开发集成电电路闩锁测试系统

闩锁(latch-up)效应严重影响了CMOS集成电路的可靠性,如何对其进行快速有效地测试是很有必要的,本文主要介绍了代表了当今世界测试仪器技术发展方向的虚拟仪器技术(VI)及其在开发集成电路闩锁测试系统过程中的应用.     

大规模集成电路相关测试标准的剖析

集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段.CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战.重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题和相关标准,包括IEEE 1149.1-1990到IEEE 1149.6-2003,IEEE 1450,IEEE 1500,IEEE-ISTO Nexus 5001等测试标准.总结了集成电路测试标准的特点和最新进展,分析了这些标准在实际应用中存在的一些问题及其局限性,并对今后集成电路测试技术标准的发展给出了预测.     

集成电路测试程序库的实用化

“七五”期间，通过国家重点科技攻关项目———集成电路测试程序库的完成，在集成电路测试技术中心建立了我国第一个大型的集成电路测试程序库。在“八五”的科技攻关中，测试程序库得到进一步的扩充、完善与发展，达到技术上可解决高难度测试分析和鉴定性、仲裁性、商检...     

如何选购数字SSI／MSI测试设备

集成电路(IC)测试是伴随着集成 电路的发展而发展的,它对促进集成电路的进步和应用作出了 巨大的贡献.为了确保产品质量和研制开发出符合系统要求的电路,在集成电路研制、生产和应用等各个阶段都要进行反复多次的检验、测试.中小规模电路具有设计灵活的特点,常用作大规模电路的外围电路,应用十分广泛.因此保证以高效率、低费用完成大批量SSI/MSI的测试和生产是十分必要的.由于我国LSI/VLSI无 论是生产及应用均落后于发达国家,远不如MSI/SSI应用普及,国内IC测试 从需求、效益和测试费用的投入,也未达到普遍追求大型测试系统的阶段,另外国内SSI/MSI测试仪已达到国外同 类产品水平,而价格与进口机型相比要低得多,所以国内SSI/MSI测试仪的市 场仍有一定的规模.     

用高性能测试系统测试高速组件时传输线的影响（上）

要测试高速多针脚集成电路(这里所说的集成电路不是用于驱动传输线的集成电路)是一个难题,因为测试仪到被测件之间的连线常起着类似于传输线的作用。HP82000集成电路测试系统使用阻性分配器技术,能精确测试 CMOS 及其它高速组件。目前数字专用集成电路(ASIC_S)发展的特点在于时钟速率和信号     

为探针卡制作本土化再作贡献

<正>集成电路设计业的兴旺带来大量的设计验证测试需求,测试既是集成电路产业链中的一环,也是集成电路产品验证出厂的关键,探针卡就是介于自动测试系统与IC芯片之间,用于封装前测试IC产品功能参数的精密界面卡,它与集成电路的设计和测试封装密不可分。     

模拟集成电路的测试与故障检测技术

本文综述了模拟集成电路的测试及故障检测等有关问题，首先介绍面向性能的测试方法，然后讨论故障模型和面向故障的测试方法，在介绍了模拟集成电路的可测性设计技术之后，讨论了利用电源监测进行故障检测的方法。     

集成电路分选机的维修及应用

随着经济发展和技术的进步,集成电路产业取得了突飞猛进的发展。集成电路测试在集成电路产业链中的作用越来越大,专业化的集成电路测试业是集成电路产业中一个重要组成部分,是保证集成电路性能、质量的关键环节之一。各大半导体生产厂家都在竭力提高生产效率和检测效率,生产厂家在芯片生产中采用了自动化的半导体测试仪器和高速、智能化的集成电路分选机。以CTS800分选机为例,详细介绍了集成电路分选机常见故障的维修及应用。     

集成电路FT制程高压测试方法研究

随着经济发展和科学技术的进步,集成电路(Integrated Circuit)产业保持着持续、快速的发展。作为集成电路产业链中的一个重要环节,集成电路测试在评价集成电路电性能、质量和可靠性等方面提供了有力的技术支撑,其中集成电路高压测试是进行电源管理、高压驱动等一系列芯片耐压单元性能检测的重要环节。主要研究集成电路成品高压测试过程中存在的一些问题以及相应的解决方案。