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本文依据颗粒碰撞噪声检测系统的工作原理及基本特性提出了一种基于校准腔体的方法对颗粒碰撞噪声检测系统的灵敏度阈值进行校准,并研制了具有自主知识产权的校准腔体。试验结果表明,该方法科学可行,能准确反映系统阈值灵敏度的真实情况,达到校准目的。 相似文献
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运用TCD132D芯片,建立了杂质检测系统。通过虚拟示波器DSO2902对系统采集的数据进行分析和处理,从而有效的识别杂质颗粒的存在与否并能够准确的计算出存在杂质颗粒的尺寸、位置等。结果表明,该系统能够准确的测出XLPE电缆料的杂质颗粒的横向与纵向尺寸,并能够确定该杂质颗粒所处的准确位置与杂质颗粒的个数等特性,其分辨力可达到20m,误差小于10%,杂质的检出率达100%。 相似文献
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运用TCD132D芯片,建立了杂质检测系统。通过虚拟示波器DSO2902对系统采集的数据进行分析和处理,从而有效的识别杂质颗粒的存在与否并能够准确的计算出存在杂质颗粒的尺寸、位置等。结果表明,该系统能够准确的测出XLPE电缆料的杂质颗粒的横向与纵向尺寸,并能够确定该杂质颗粒所处的准确位置与杂质颗粒的个数等特性,其分辨力可达到20m,误差小于10%,杂质的检出率达100%。 相似文献
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报道了一种新型恒流式颗粒计数技术及微流控芯片装置。通过在微流控芯片主通道样品孔两端分别插入一定尺寸的Zn和Cu电极,可在主通道内形成较为稳定的恒流源。当绝缘材质的颗粒通过检测区域时,会从检测区域排出等体积的电解质溶液,使检测区域的电阻变大。该电阻变化会使检测区域两端电压发生改变,并以脉冲电压信号的形式被检测系统检测到,从而实现颗粒计数。实验结果表明:当主通道两端电压相同时,恒电流系统的检测信噪比要远远高于直流稳压电源;随着Zn电极面积的增加,相同尺寸颗粒经过检测区产生的电压信号幅值也随之增加。原电池自驱动微流控芯片装置结构简单、检测精度高,无需外接昂贵的恒流源装置,可发展成为便携式仪器,有望用于某些特殊场合的现场检测。 相似文献
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消光起伏光谱法高浓度效应的模拟计算 总被引:3,自引:0,他引:3
消光起伏光谱法(TFS)是最近发展起来的颗粒测量技术,它可以同时测量颗粒粒径分布和浓度,并可用来进行在线、实时测量。在频率域内对透过率起伏信号进行频谱分析,信号分析系统采用品质因数为0.707的二阶低通滤波器。通过模拟计算得到有关单层与多层颗粒系统的归一化差值函数经验表达式,由此分析颗粒系统的高浓度效应(包括颗粒交叠效应和层结构)对消光起伏光谱的影响。结果表明,高浓度效应与颗粒系统的浓度、层数及光束-颗粒直径比Λ都有关系,它对消光起伏光谱特征函数的影响主要体现在频谱移动和阶高变化两个方面:一般来讲,消光起伏光谱的频率响应主要受颗粒交叠响应的影响,表现为向低频区移动;而消光起伏光谱特征函数的阶高则同时受层结构和颗粒交叠效应影响。 相似文献
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核壳双层颗粒的外层介质对散射光的影响 总被引:5,自引:0,他引:5
简要介绍核壳双层颗粒的散射理论 ,利用数值计算探讨波长不同时核壳双层颗粒与单层颗粒散射光的不同 ,详细分析核壳双层颗粒外层介质的厚度、折射率对整个核壳双层颗粒散射光的影响 相似文献
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针对粒子追踪技术中的粒子误对应问题与粒子相关法对粒子区域平均化处理所带来的误差问题,制定了用于粒子图像测速的细胞分裂准则,并提出了基于细胞分裂的粒子追踪匹配算法模型:将兴趣区域作为细胞体并以细胞体内单点匹配相关程度与粒子的近邻程度作为判断准则对分析窗口内的点进行分裂;分裂形成的子团之间进行竞争并将优胜团代表本分析区域参与其他区域优胜团的竞争;根据优胜团先后位置变化得到矢量位移场.最后,使用人工合成的粒子图进行了算法验证及误差分析.结果表明:所提算法在分析精度方面有了较大的提高. 相似文献
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