大规模集成电路测试系统

集成电路和电路板测试系统是测试仪器的最高水平,硬件和软件均属前沿产品,测试仪器供应商的数目超过千家,但全面集成电路和电路板供应商不到十家,仅从数量来看也是百里挑一的了。著名的厂家有Teradyne(泰瑞达)、Schlumberger(斯伦贝谢)、Advantest(爱德万)、Agilent(安捷伦)、GenRad等。产品的价位很高,一般十万美元以上,相应的开发生产费用也就更为可     

一种廉价的计算器集成电路测试系统──微机测试系统

本文扼要地介绍了计算器集成电路的自身测试方法，并根据这种测试方法给出了微机测试计算器集成电路的系统结构。然后着重阐述了微机与计算器集成电路的硬件接口，它包括键盘接口、LCD段码接口、背极信号接口，以及计算器集成电路静态电参数的测试方法与接口线路。     

基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

在半导体技术高速发展的今天,对集成电路的测试要求越来越高,测试开发的难度、复杂度都在增加,如何应对当前集成电路的测试需求,成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统,用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源,列举了部分模块及其功能和参数;描述了一般集成电路测试开发的流程,并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容;介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境,列举了测试程序构成要素以及各自功能;介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境,测试系统提供的调试工具以及调试方法。     

VXI数模混合集成电路测试系统

1、简介《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发,对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI总线测试系统由于其开放性、可扩展性及模块化结构使其应用广泛。该项目带动了国内集成电路     

数字集成电路测试系统逻辑测试单元分析

本文简要分析了数字集成电路测试系统中的逻辑测试单元。     

开放结构的集成电路ATE测试系统

1950年代是测量仪器从真空管到半导体器件的过渡时期,测量仪器业界空前活跃,新产品不断出现,性能明显提高。1960年代初半导体集成电路登场,需要多种测量仪器的组合,促进测量仪器的自动化和自动化测量系统的发展。当时,通用测量仪器公司以HP和TEK为代表,分别从台式仪器出发,利用外部控制器和开关阵列构成早期的程控测试系统,而半导体测量仪器公司以     

M3000通用集成电路测试系统

电子元器件的测试工作,不仅对生产这些元器件的厂家来说非常重要,对于电子产品的生产和研制单位来说也同样重要。为了保证电子产品的质量和信誉、提高生产效率和降低生产成本,有必要在整机装备前对所有的各种元器件进行100％的测试筛选。 M3000通用集成电路测试系统非常适合于进行此项工作。     

SP3160集成电路测试系统

北京科力新技术发展总公司(简称科力公司)成立于1988年,由北京市科学技术研究院主办,是北京市新技术产业开发实验区内注册的技、工、贸一体的全民所有制高新技术企业,是试验区“50优”企业之一。科力公司以电子技术和电子产品为主要方向,公司测试系统工程部的主要产品有SP3160系列大规模/超大规模集成电路测试系统。     

一种关于信息安全专用集成电路的测试验证系统

针对信息安全专用集成电路输入输出数据宽度大,无法做到测试全覆盖的特点,本文提出并实现了一种专门测试此类电路功能、性能的测试验证系统.该系统基于PC机,采用PCI软件和FPGA等硬件配合的方式,能够满足待测芯片对大批量数据高速传输需求.通过对一款椭圆曲线密码专用集成电路的测试,证明该系统具有成本低,便于调试、演示,代码通用性强,系统复制、移植方便等特点.该系统对解决信息安全专用集成电路的测试问题具有重要参考价值.     

机械加工中振动的微机测试系统

设计并给出了一种适用于机械加工中振动的微机测试系统，阐明了系统的工作原理和软件设计。该系统具有速度快，测试精度与分辨率均较高等特点。     

CTA8280集成电路测试系统的研究应用

集成电路测试系统对测试精度、测试速度、测试功能等方面提出了越来越高的要求,测试系统并行测试和乒乓测试结合可以更好地利用现有的硬件资源,最大限度地提高系统的测试效率,降低测试成本。针对CTA8280测试系统结构、关键技术、应用案例进行分析介绍。     

模块结构的SOC集成电路测试系统

根据不完全的统计,从1980年代开始集成电路的工艺快速更新换代,集成度按摩尔定律每18个月增加一倍,此增长势头将会延续至2010年。相应生产每晶体管成本从0.5美分下降至200年的0.001美分,而测试每个晶体管成本只从0.4     

设计新颖的J750集成电路测试系统

大型的超大规模集成电路ATE系统的售价随着时钟频率的增加越来越高,时钟频1GHz的芯片系统ATE系统已超过150万美元,据预测当时钟频率达到2GHz时,超大规模集成电路ATE系统售价会在300～400万美元以上。显然,这类大型ATE测试系统并不是任何研发单位