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本文简述了各种编码方法及其波形,讨论并给出了CD-R0M光盘的EFM编码和小型磁光盘上用的(2,7)RLL码和(1,7)RLL码。 相似文献
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汽车轮胎压力监测系统(简称TPMS)主要是由压力传感器、微处理器、天线、射频芯片、电池组成。但由于市场需求的升级,整个系统向小型化、多功能以及更高性能方向发展。这需要对片上系统进行集成,在集成过程中需要应用到SiP、SoC以及MEMS等先进技术。文中介绍的压力传感器,使用了SiP技术,将压力传感器、微处理器和射频芯片集... 相似文献
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要使现有的模拟电路故障诊断算法适用于大规模电网络,必须将大规模网络分解成互不耦合的小规模网络。文献[1]给出了一种快速定位算法(算法Ⅰ),但未考虑容差。本文从解决模拟电路故障诊断中最棘手的问题——容差、在线计算量和离线计算量的目的出发,将故障预测技术、替代理论和迭加定理运用到支路撕裂法中,从而得到一个新的大规模模拟电路的快速故障定位算法(算法Ⅱ),同时对算法Ⅰ、Ⅱ进行了FORTRAN编程实现。研究结果证明,算法Ⅰ、Ⅱ适用于小、大规模网络的单、多故障诊断。当网络被连续监测时,算法Ⅱ的稳健性、计算量和存贮器要求均较算法Ⅰ有较大改进。文中举了一个有源电路的实例,验证了上述论断的有效性。 相似文献
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DX10KW中波发射机具有循环调制的功能,该功能由循环调制编码电路负责实现。该电路控制着发射机功放系统的"大台阶"和"二进制位小台阶"共48块功放模块,同时对功放模块实现故障自动检测和自动替换的功能。 相似文献
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本文通过对2-3混值电路中信号编码效率与冗余度的讨论,分析了传统的1T-2B编码的缺点,提出了3B-2T编码方案,设计了用于3B-2T编码的CMOS接口电路。讨论表明,利用该编码的电路具有效率高,设计容易,并能在不增加电路内部连线的前提下减少三分之一的外部信号线等优点。 相似文献
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本文设计了CPU(ZSP_NEO)和内部存储器的接口电路,这个接口电路同时提供一个接口满足DMA对内部存储器的访问,并完成模块验证。本设计中使用了两个IP:ZSP_NEO处理器核,以及Artisan提供的SMIC的0.18μm工艺的存储器模块,分别研究了他们的相关功能和相关接口,主要包括:读写功能、读写时序、控制信号等。同时,也根据存储器的情况选择了一个合适的直接存储器存取(DMA,Direct Memory Access)的操作协议。本设计中主要涉及系统级设计(SoC)的一些相关知识、IP的运用、Verilog代码的编写,及系统验证等。 相似文献
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线性模拟电路的双故障诊断及人工神经网络的实现 总被引:4,自引:0,他引:4
本文提出了一种进行线性模拟电路双故障定位的原理及以此为基础的人工神经网络实现方法。文中论述了双故障元件参数在零到无穷大间变化时,测量值在增量空间所具有的一般特性。当可测端对各元件的转移阻抗或各元件单故障空间特性已知时.则根据两次独立测试结果,即可对双重故障定位。这一方法减小了传统K故障法所需的在线计算量,算例表明此法有好的诊断效果。 相似文献
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介绍了基于ABS的间接胎压监测系统中使用的参数估计模型。结合最小二乘法思想,采用减小测量误差平方和的思路建模,当误差趋于独立零均值时等效为最优化问题。将估计法与模式搜索法结合估计识别监测参数。理论分析、实验验证模型有较好的精确性。 相似文献
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概述了当前汽车智能胎压监测系统(TPMS)的发展现状,并介绍了基于智能传感器SP30的智能胎压监测系统设计开发过程。该系统分为压力温度采集、发射和压力温度接收、显示两个子系统。整个系统结构分别对硬件和软件的设计与实现进行了阐述,并在菏泽学院省级实验教学示范中心汽车实训中心得到验证,具有较强的实用价值。 相似文献
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DSP和外部存储器接口是TI公司的DSP系统设计中的重要环节。介绍了TMS320C6711外部扩展存储器接口设计,文中以Hynix公司的SDRAM存储器(HY57V653220B)为例,给出了具体的接口电路和相关寄存器的配置方法,并给出了EMIF初始化的程序源代码。 相似文献
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轮胎压力检测系统(TPMS)是目前汽车消费者最为关心的汽车安全技术之一.本文应用最新的集成TPMS芯片MPXY8300,设计出TPMS的整体方案,系统具有一定的实用价值和应用前景. 相似文献
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《Microelectronics Reliability》2014,54(6-7):1443-1451
In this paper we propose an area-efficient self-repairing adder that can repair multiple faults and identify the particular faulty full adder. Fault detection and recovery has been carried out using self-checking full adders that can diagnose the fault based on internal functionality, independent of a fault propagated through carry. The idea was motivated by the common design problem of fault propagation due to carry in various approaches by self-checking adders. Such a fault can create problems in detecting the particular faulty full adder, and we need to replace the entire adder when an error is detected. We apply our self-checking full adder to a carry-select adder (CSeA) and show that the resulting self-checking CSeA consumes 15% less area compared to the previously proposed self-checking CSeA approach without fault localization. After observing fault localization with reduced area overhead, we utilize the self-checking full adder in constructing a self-repairing adder. It has been observed that our proposed self-repairing 16-bit adder can handle up to four faults effectively, with an 80% probability of error recovery compared to triple modular redundancy, which can handle only a single fault at a time. 相似文献
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Multilevel memory using single-electron turnstile 总被引:1,自引:0,他引:1
A multilevel single-electron memory has been successfully demonstrated. Two fine gates with phase-shifted pulse voltages modulate potential barriers in a one-dimensional Si channel to transfer electrons one by one into a memory node, and the number of electrons in the node is sensed by a single-electron transistor. 相似文献
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