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DFX技术与电子产品设计 总被引:1,自引:0,他引:1
本文主要通过对电子产品设计中的的一些问题的观察和分析,结合DFX技术的特点,主要介绍了DFM技术在电子产品设计与电子装配中的应用;强调通过DFX与电子产品设计的结合,将有助于提高产品投入市场的效率,有效减少因产品设计不合理和不可靠给市场的拓展和产品发展潜力带来的压力. 相似文献
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文章针对三维工艺编制效率低等问题,提出了基于动作点的集成化三维装配工艺设计方案,以装配动作点为核心,将装配操作相关的工艺信息以动作编码的方式有机地组成一个整体。在三维装配工艺设计时,以动作点为基准,一次从动作点库中获取装配操作的全部工艺信息,实现对装卸工艺的快速设计。该系统已在南京中车浦镇车辆厂验证并上线运行,大幅提高了三维装配工艺设计的效率、一致性和准确性。 相似文献
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继电保护装置单板老化工艺及实施 总被引:1,自引:0,他引:1
电子产品的集成化程度越来越高,结构和制造工艺越来越复杂,增加了电子产品潜伏缺陷的可能性.电子产品不但要求有较高的性能指标,而且还要有较高的质量稳定性和可靠性.电子产品的质量稳定性不仅取决于设计的合理性,元器件的性能,而且与整个制造过程及工艺控制手段具有很大的关系.采用高温老化工艺来提高电子产品的稳定性和可靠性,保证出厂的产品能经得起时间的考验.在对电子产品故障原因及周期进行简单介绍的基础上,阐述高温老化原理,并对继电保护装置单板老化工艺进行分析,确定工艺参数,提出生产组织实施方案. 相似文献
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电子产品参数化工艺设计 总被引:1,自引:0,他引:1
以电缆组件装配为例,概述了基于CAPPframework系统的电子产品参数化工艺设计的实现方法,介绍了电缆组件参数化工艺设计的方法和过程.阐明了参数化设计与传统的设计方法不同之处. 相似文献
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电装,指的是在电子电气产品形成中采用的装配和电连接的工艺过程;在全面叙述电装工艺内涵的基础上,强调了电装工艺在电子产品研究开发中的作用;详细论述了如何做好电子产品电装工艺四个阶段工作,指出当务之急是培养高素质的电气互联技术人才,并提出了培养高素质的电气互联技术人才的六条措施. 相似文献
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随着电子制造业的快速发展,智能信息化技术在电子制造业中也得到了普遍的应用.电子制造业不仅要提高产品的质量,而且还要在生产过程中对客户需要的相关的数据进行收集,数据报告是客户对电子制造商产品制造情况进行考核的一个重要的条件.本文对电子制造业中电子产品制造服务的业务需求进行了分析,构建了多种技术相融合的面向电子产品制造业的集成MES应用模型,对MES系统的具体功能进行了分析,对面向电子制造业的集成MES的应用技术进行了分析和研究. 相似文献
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当今元件封装技术正日新月异,以满足不断快速增长的电子产品的需求。0201/01005是现代电子组装技术的新概念,它能大幅度降低电子产品体积。在许多便携式产品中对形状的要求以及其它产品上以更小的面积实现更多功能的需求,使得0201封装受到人们的青睐。而01005则又上了一层楼,成为这场技术竞争的产物。0201/01005封装由于元件尺寸小,有许多专门的组装注意事项。本文从线路板设计、焊膏选择、贴装控制等几个方面浅谈0201/01005元件组装工艺技术。 相似文献
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针对离散型制造车间电子装备生产调测线中存在的多品种批量测试压力大的问题,结合制造物联技术的应用重新定义当前测试过程,设计具有实时测试信息特征的工作模式和通信手段,以适应车间数字化改造升级的要求。以离散车间自动测试系统为研究对象,通过搭建面向实时测试过程的工业物联识别环境,构建自动测试系统信息化体系框架,详细分析了基于开关切换和自动化流水线的多被测件测试技术、现场设备在线互操作协同技术、基于实时跟踪的数据通信技术等关键技术,给出了基于浏览器/服务器结构的网络化柔性测试生产线实现方法,为提升制造车间的整体测试服务水平提供了基础。 相似文献
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随着电子技术的不断发展,在某些特定的领域,普通的刚性PCB已很难满足产品对其特殊的组装要求,刚挠结合板以其优异的三维挠曲性正获得越来越广泛的应用。本文介绍了一种覆盖膜开窗的刚挠结合板制作方法,通过两次压合和两次机械刻槽的方式可成功制作出品质、性能优异的刚挠结合板。 相似文献
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In this paper, an optimization methodology is used to select the locations and characteristics of test, diagnosis and rework
operations in electronic systems assembly processes. Real-coded genetic algorithms are used to perform a multi-variable optimization
that minimizes the yielded cost of products resulting from an assembly process that includes test/diagnosis/rework operations
characterized by costs, yields fault coverage, and rework attempts. A general complex process flow is analyzed using the algorithms
proposed in this paper, and a multichip module assembly process flow is used to demonstrate that the methodology can identify
optimum test and rework solutions that result in a reduction in yielded cost.
Editor: H. G. Kerkhoff
Zhen Shi is a Software Architect at Prequel Solutions Inc. Dr. Zhen Shi has a Ph.D. degree in Mechanical Engineering from the University
of Maryland. He has several technical publications on Electronic Testing, Manufacturing Cost Optimization, and Computer-Aided
Design. His current research interests include System Cost optimization, Software Testing and ERP.
Peter Sandborn is an Associate Professor in Mechanical Engineering, Director of the Electronic Systems Cost Modeling Laboratory and a member
of the CALCE Electronic Products and Systems Center (EPSC) at the University of Maryland. Prior to joining the University
of Maryland, he was a founder and Chief Technical Officer of Savantage, Inc. Dr. Sandborn has a Ph.D. degree in electrical
engineering from the University of Michigan and is the author of over 100 technical publications and several books on multichip
module design and electronic parts. He is an Associate Editor for the IEEE Transactions on Electronics Packaging Manufacturing,
and he is on the editorial board for the International Journal of Performability Engineering. His current research interests
include technology tradeoff analysis for electronic packaging, parts selection and management for electronic systems including
electronic part obsolescence forecasting and management, and system lifecycle and risk economics. 相似文献
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清洗是PCB组装中的一道重要工序,它对电子产品的质量和可靠性起着极为重要的作用.对于高性能电子产品,不论是通孔插装还是表面组装,在回流焊、波峰焊或浸焊后,基板及其组件都需要进行严格有效的清洗,以去除助焊剂残留物和各种污染物.特别是对于表面组装工艺,由于助焊剂可进入表面组装元器件和基板之间的微小空隙中,从而使清洗显得更为... 相似文献
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Zhenxian Liang Bing Lu van Wyk J.D. Lee F.C. 《Power Electronics, IEEE Transactions on》2005,20(3):679-686
A Si CoolMOS field effect transistor and SiC diode assembly with gate driver in boost configuration (ratings at 600V/12A), for power factor correction application, has been fabricated in a version of an integrated power electronic module. It uses the so-called embedded power technology, to form a three-dimensional multiple chip/component interconnection with the embedded chips in a co-planar ceramic substrate with thin-film metallization bond/interconnection added on top. In this paper, the switching parameters of this module and their effects on the performance of a converter have been analyzed and experimentally characterized. The procedures adopted for the defined fabrication process of planar metallization interconnects are presented. In addition to the improvement of structural electrical properties, compared to a conventional discrete version, the characteristics of the planar process integration have also been demonstrated. 相似文献