提高分析质量是提高电子元器件可靠性的重要措施

本文从大量分析实践中探讨了这个课题，并提出让用户参与分析是提高分析质量的有效手段之一的论点。     

高频和高压电子元器件的装配质量控制措施

主要介绍高频微波器件如隔离器、环行器、高压器件、触发管、对静电敏感的CMOS集成电路及SMT型片式电阻器装配工艺控制措施，以保证装配质量，提高整机的可靠性。     

电子元器件失效分析技术的工程应用

简述了电子元器件失效分析的常用技术手段和失效元器件的失效现象、失效模式、失效机理。对失效现场应收集的信息内容进行了介绍，并提出要注意的事项；对元器件的失效进行了分类——失效分为固有失效和使用失效，并对工程上的失效分布作了进一步的分析。最后，通过两个典型的工程实践事例，说明进行失效分析在工程上的应用和工程意义重大：失效分析能够改进和提高元器件制造单位的水平，也能够促进和提高元器件使用单位的设计水平。     

关于提高电子元器件使用可靠性工艺的研究（三）

5 合理的检验方案检验,就是用一定的方法和手段,测试元器件的质量特性,与相应产品的技术文件进行比较,判断是否合格,以确定该批产品接收、还是拒收、退回的结论。电子整机中所用的元器件,有的数量很大,有的数量虽小,但在整机中所处位置及所起作用却极其重要;有的元器件价格昂贵,而有些确只需几分钱即可买到。因此,组成整机的各种元器件,不可能用同一种方法和质量标准来进行鉴定和判断,但也不能将检验方案分的太细,造成管理混乱,检验     

电子元器件失效分析实例

１电子模块失效分析二例１．１对数视放模块ＤＳＦ－１０１．１１失效模式：小信号输出波形斜顶，波形参数见图１．１。１．１２失效环境：整机温度冲击（＋１２５℃～－５５℃）１．１３模块失效原因：反馈回路输出滤波电容内部电极开路。１．１４模块失效诊断１．１４１高温烘烤：四只失效样品经７５℃２０小时的高温烘烤后波形未见改善。１．１４２强信号冲击按技术条件测试方法，以脉宽２ｍｓ、重复频率５Ｋｚ、峰值电压１Ｖ的脉冲，经０ｄＢ衰减的强信号输入多次冲击后。３＃样品由８０ｄＢ衰减的小信号输入时，偶有输出波形平顶较好的…     

大工业电子元器件应用过程中的质量控制与失效分析

本文重点阐述如何在电子元器件应用过程中进行有效地质量控制和失效分析,以确保电子元器件使用质量与可靠性.     

电子元器件的失效分析

对产品进行失效分析的主要内容,是要收集各种失效样品、鉴别失效模式、确定失效机理并提出纠正措施,以促使产品的可靠性增长。产品的失效模式是指产品失效的具体形式、形态和现象等等,产品的失效机理是指产品发生失效的物理化学根源。对电子元器件进行失效分析的基本程序如图40.1所示。目前我国各类元器件失效模式的基本状况如表40.1所示。     

重点工程用电子元器件使用失效情况分析

1概况本文通过对重点工程配套中现场失效的3000余只元器件的失效数据进行整理分析，总结出元器件在使用中失效的主要失效模式及其分布，并对引起元器件失效的主要原因进行了分析。文中所分析的失效元器件主要为了115个国内元器件生产单位（其中元件54个，器件61个）的产品，这些失效品全部是在重点工程配套中失效的，其中大部分是在整机的装配和调试阶段失效的，少量是在复测及整机检验中失效的。在失效元器件中，分立器件占37．4％，电阻器占14．7％，电容器占15．2％，集成电路占11．1％，接插件占6．8％，光电器件占5．8％，继电器占3．6…     

电子元器件的应用可靠性（1）

从电子元器件的选择、控制和使用等诸多方面讨论电子元器件的应用可靠性，包括质量等级、失效率等级、选择原则与质量控制；微电子器件的应用可靠性(过应力损伤、降额使用、二次筛选)；阻容元件的使用可靠性(电阻器、电位器、电容器)及其他元件的选择和应用(继电器、微波元件、连接器)。     

航天产品电子元器件的可靠性控制

主要阐述了航天产品元器件可靠性控制的目的和重要意义;归纳和总结了航天产品研制过程中发现的主要问题;根据电子元器件的质量保证流程,从元器件保证大纲、元器件的合理选用、元器件采购与库存管理、元器件的监制、试验和验收、补充筛选、DPA(破坏性物理分析)、元器件的装机控制、元器件的失效分析方法、元器件质量信息的管理等方面对航天产品电子元器件的可靠性控制提出了明确的质量保证要求。     

多品种小批量元器件的统计过程控制

针对国内许多元器件生产企业普遍存在的多品种小批量订货情况,如何使小批量产品保持大批量产品同样的质量和可靠性成为要研究的问题。文章介绍了统计过程控制技术原理及评价流程,分析了多品种小批量元器件生产存在的数据量不足和工艺参数嵌套性的统计问题,并给出了解决方法,依据嵌套回归的数学统计原理,以元器件生产中广泛采用的电镀工序为例,应用嵌套回归控制图对镀层厚度参数进行数据分析处理,以判断工序过程是否处于统计受控状态。     

电子元器件的选用、管理与控制

阐述了电子元器件的质量与可靠性的相关内容,并给出了元器件的选用原则和使用中的注意事项,便于元器件管理部门进行规范化管理,也为广大技术人员在选用元器件时提供了帮助和支持。     

失效电子元器件分析方法

介绍了一种电子元器件失效分析方法,给出了失效器件失效的统计要素,并对失效要素进行分析、研究失效模式与失效机理,找出失效原因,找到生产过程中的薄弱环节,制定相应措施,及时有效预防器件的再次失效,提高电子元器件的使用可靠性,进而提高整机可靠性,以较小的质量成本获取较高的经济效益,避免产品出现重复性问题,最终达到控制质量成本的目的。     

超声波检测技术在保证电子元器件质量中的应用

超声波检测技术在进行电子元器件可靠性研究方面逐渐表现出了很大的优势，本文从超声波检测技术的原理说起，分析了该技术在保证电子元器件质量，提高产品可靠性方面的优势，通过大量的实验证明该技术必将有其广阔的应用前景。     

统计过程控制初探

介绍SPC发展过程及基本概念,阐述控制图设计原理;并对SPC技术在质量管理中的应用方法进行论述,提出SPC质量控制应用流程图.     

军用光电产品元器件质量控制的新思路探讨

从元器件实际应用的角度,阐述了军用光电产品元器件质量控制的发展和现状,以可靠性理论和元器件失效机理为依据,结合热像仪用元器件筛选试验和使用中质量信息的分析,借鉴国外的经验,提出元器件质量控制的新思路.     

现代电子元器件质量管理中的评价技术:工序能力指数分析

本文从现代电子元器件质量管理的新要求出发,介绍了现代电子产品评价技术:工序能力指数、统计过程控制以及PPM技术.重点介绍了工序能力分析的基本概念,分析了工序能力指数的国内外研究现状,提出了目前存在的问题,并对未来的解决途径进行了展望.     

研制产品电子元器件的质量控制

电子元器件是电子产品的最基本单元,没有可靠的元器件就不可能有高可靠的电子产品。对电子元器件应从选用、二次筛选、质量跟踪、建立远器件质量数据库等方面进行有效的控制,从而确保装机电子元器件的质量。     

接近零不合格过程的质量分析及控制探讨

该文对提高接近零不合格过程的质量分析和控制的准确性及效率进行探讨,提出对接近零不合格过程的质量分析首先应根据产品质量要求和过程能力要求选择合适的aσ,且要与接近零不合格过程的控制的程度相适应,然后利用传统的统计过程控翩(SPC)的方法对过程进行质量分析和控制,使过程处于受控状态或良好的受控状态,同时利用该状态时的不合格...