借助高分辨电子显微像校正电子衍射强度的动力学效应

针对高分辨电子显微学和电子衍射相结合测定晶体结构的图像处理技术，提出了一种借助高分辨电子显微像来校正低散射角电子衍射强度动力学效应的新方法，将此法试用于Ｂｉ２（Ｓｒ０．９Ｌａ０．１）２ＣｏＯｙ晶体结构分析，结果说明此法有效。     

Bi2(Sr0.9La0.1)2CoOy晶体超结构的电子晶体学研究

把高分辨电子显微学与电子衍射相结合,通过像的解卷和相位外推两步的图像处理技术,可以把任意离焦条件的单张高分辨电子显微像转换成结构像,最终像的分辨率可达电子衍射分辨极限,从而分辨出全部原子[1].     

（Y0.6Ca0.4）（SrBa）（Cu0.5B0.5）Cu2O7—δ的电子晶体学研究

(Y0.6Ca0.4)(SrBa)(Cu0.5B0.5)Cu2O7-δ晶体是在YBa2Cu3O7-δ超导材料中用Ca、Sr、B原子分别部分取代Y、Ba、Cu.实验表明不同量B的掺入使晶体失去超导性质,而同时再掺入Ba和Ca则又恢复超导电性[1].对其晶体结构的研究可望有助于解释这些现象.本文用高分辨电子显微学与电子衍射相结合的电子晶体学图像处理方法[2]研究了该晶体的结构.目的是先通过对高分辨电子显微镜作解卷处理,测定出低分辨率的晶体结构,然后从解卷像出发,结合电子衍射数据进行相位外推,得到能分辨出所有原子的晶体结构像.     

高分辨电子显微学的求逆问题

本文评述了高分辨电子显微镜学中一种求逆问题的方法。此方法的实质是把衍射晶体学融合到高分辨电子显微学中。文章阐述了显微像衬度随晶体厚度的变化，从而说明当晶体厚度小于临界值时，可以合理地把建立在运动学衍射理论基础上的衍射分析方法等引用到高分辨电子显微学中，使测得晶体结构和缺陷的分辨率远高于电子显微镜的点分辨本领。文章简要地介绍了方法的原理和过程，及其在测定晶体结构和缺陷上的应用。     

材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望

本文综述了材料科学中的高分辨电子显微学发展历史、现状与展望。重点讨论了在高分辨电子显微学中能直接观察物质中原子排列的直接成像法 ,能区分原子种类的选择成像法、能量过滤选择成像法和 Z-衬度像 ,能研究物质结构变化动态过程的分辨时间高分辨电子显微学 ,能定量地分析物质结构的定量高分辨电子显微学和遥控电子显微术的发展以及其在材料科学中的应用和展望     

材料科学中的高分辨电子显微—发展历史,现状与展望

本文综述了材料学中的高分辨电子显微常数发展历史,现状与展望,重点讨论了在高分辨电子显微学中能直接观察物质中原子排列的直接成像法,能区分原子种类的选择成像法、能量过滤选择成像法和Ｚ－衬度像,能研究物质结构变化动态过程的分辨电子显微学,能定量地分析物质结构的定量高分辨显微学和遥控电子显微术的发展以及其在材料科学的应用和展望。     

高分辨衍衬技术及其应用

弱束技术和高阶明场技术是电子显微学中两种重要的高分辨成象技术(分辨率可达20A),它是研究缺陷(位错、位错环、层错、空位团等)的精细结构和微小沉淀物的有力工具。本文简要地叙述了这两种成象技术的原理和有关的电子衍射动力学分析。讨论了成象条件的各种参量和实验方法,介绍了这两种技术在氢区熔单晶硅和形变铝中的应用,最后还比较了这两种成象技术的特点及其适用条件。     

用原子分辨电子显微像中的电子散射动力学效应建立轻原子成…

本文对作者十几年来利用高分辨电子显微学研究几种金属的初期氧化产物的结构的成果做了概要的介绍。     

<材料评价的高分辨电子显微方法>简介

日本进藤大辅、平贺贤二著、刘安生译的《材料评价的高分辨电子显微方法》已在１９９８年由冶金工业出版社印刷出版。该书是在日本两位教授多年举办过的高分辨显微方法讲习班教材的基础上编著完成的，日语版出版于１９９６年，英译本出版于１９９８年。这两位教授是日本东北大学的材料科学家和电子显微学家。他们两人分别得到日本金属学会和日本电子显微学会各两次奖。进藤教授的照片还得到过日本金属学会三次图片奖。此书共１８６页，分为以下四章：１．高分辨电子显微方法的基础；２．高分辨电子显微方法的实践；３．高分辨电子显微方法的…     

电子全息在自旋电子学及半导体多量子阱材料研究中的应用

随着现代信息科学技术的发展，自旋阀、磁隧道结等自旋电子学材料及半导体量子阱等光电材料日益受到人们的关注。由于电子显微学方法在衍射、成像及谱学方面具备综合优势，近来已被广泛用于自旋电子学和量子阱光电材料研究领域，以揭示其显微结构和优异物理性能之间的内在联系。其中，普通的电子显微学方法，如透射电子显微术，特别是高分辨电子显微学等是研究这类低维超薄膜晶体结构及其界面关系的有力工具。     

<透射电子显微学的新进展>简介

《透射电子显微学的新进展》（英文版）由美国劳伦斯－伯克利国家实验室材料科学部章效峰博士和中国科学院物理研究所张泽博士编著，清华大学出版社和国际著名的Ｓｐｒｉｎｇｅｒ－Ｖｅｒｌａｇ出版社发行。本书分为上下卷两部分，上卷包括电子显微学理论及方法，下卷主要介绍电子显微学在材料科学等方面的应用。涉及许多电子显微学理论和方法的最新进展，且反映了该方法在材料科学研究中的重要作用，是大学或研究院所电子显微学和材料科学工作者的一本有意义的参考书。自１９３１年以来，电子显微学一直在材料科学发展中起着重要的推动作用…     

化学气相沉积金刚石薄膜／硅衬底界面的高分辨电子显微学研究

本文简单介绍了利用高分辨电子显微学方法，研究ＣＡＤ金刚石薄膜与硅衬底之间的界面显微。结果表明，金刚石可直接在硅衬底上形成局部外延生长，也可在二者之间的非晶过渡层上成核长大。对非晶层的成分及外延界面的失配缺陷进行了探讨。     

原位电子显微学数码相机的研发

本文首先简单回顾了原位电子显微学的发展历史。电子显微镜的不断更新换代和其他新配件的出现对原位电子显微学的发展起了很大的作用。其中记录和采集图像使用的相机尤为重要。本文重点讨论了原位电子显微学数码相机设计的主要参数（运行速度,分辨率,和灵敏度）.并给出两例使用新一代数码相机的原位电子显微学应用实例。最后展望未来原位电子显微学的发展方向和新的需求。     

高分辨像的解卷处理用于S-Al_2 CuMg相及孪晶界面结构确定CSCD

S-Al2CuMg相是Al-Cu-Mg合金中重要的强化相,但它的晶体学结构还存在争议。利用高分辨电子显微学和像的解卷处理技术,获得了Al-Cu-Mg合金中S-Al2CuMg相在[100],[010]和[001]的原子投影图,进而验证PW模型是S相正确的结构模型。另外,将动力学校正引入到S相孪晶图像的处理过程,确定了S相孪晶面的位置。像解卷处理方法首次应用于金属材料并确定了S相缺陷结构,说明该方法适用于金属材料。通过解卷处理方法可以使原本不直接对应所观察材料的高分辨晶格像转变成点分辨率达到电镜的信息分辨极限的结构像。     

电子显微镜的现状与展望

本文扼要介绍了电子显微镜的现状与展望，透射电子显微镜方面主要有：高分辨电子显微学及原子像的观察，像差校正电子显微镜，原子尺度电子全息学，表面的高分辨电子显微正面成像，超高压电子显微镜，中等电压电镜，１２０ｋＶ，１００ｋＶ分析电镜，场发射枪扫描透射电镜及能量选择电镜等，透射电镜将又一次面临新的重大突破，扫描电子显微镜方面主要有：分析扫描电镜和Ｘ射线能谱仪，Ｘ射线波谱仪和电子探针仪，场发射枪扫描电镜和     

（001）SrTi03衬底上的Ba0．7 Sr0．3 Ti03／YBa2Cu3O7—δ外延生长薄膜的界面结构研究

本文利用透射电子显微学和高分辨电子显微学研究了SrTiO3衬底上的Ba0.7 Sr0.3 TiO3／YBa2 Cu3 O7-δ(BST／YBCO)外延薄膜的界面结构，结果表明在BSt/YBCO界面形成了阶梯(step-terrace)结构，同时BST外延膜生长良好。在YBCO薄膜表面形成梯形结构后，也可能按照台阶生长(step-flow)模式生长出完好的BST薄膜。     

2011年全国材料科学电子显微学会议及征文通知（第一轮）

一、2011年全国材料科学电子显微学会议通知随着电子显微学事业的飞跃发展,材料的电子显微表征技术日新月异。具有场发射枪的高空间分辨分析型TEM,使人们可以采用高分辨技术、微衍射、电子能谱、电子能量损失谱对纳米尺度的区域进行形貌、结构、成分分析。     

铁纳米线填充碳纳米管材料的制备与结构分析

本文系统介绍了金属填充碳纳米管的化学气相沉积制备与电子显微学研究。填充金属的形状可控、物相可调。能量损失谱、高分辨成像与微衍射等分析表明：碳管内部填充物完全转变为体心立方的单质铁,铁纳米线与碳管具有一定的取向关系。电子显微学研究支持底部生长机制通过在化学气相沉积过程中控制铁/碳管纳米复合材料的几何形状与结晶程度可以有效地改变其电磁性能。     

扫描电镜生物样品表面不同镀膜方法的比较

扫描电镜生物样品表面不同镀膜方法的比较张雅坤边晓燕张莉＊王丽英（哈尔滨医科大学电镜室＊哈医大二院，哈尔滨１５００８６）扫描电镜生物样品制备技术中，样品表面的导电化处理是建立图像反差，获得良好的高倍率，高分辨电子图像的主要环节。目前，多数实验室采用单纯...     

激光雷达三维距离像超分辨重构方法研究

针对目前激光雷达三维距离像分辨率低的问题,使用成本低且有效的图像处理方法获得高分辨三维距离像。首先,利用多传感器系统的特点,将低分辨率Gm-APD激光雷达与高分辨率ICCD激光雷达相结合,获得配准后的低分辨距离像和高分辨强度像,然后,提出了一种改进的图像引导算法实现低分辨图像超分辨重构。该方法使用马尔科夫随机场模型,定义了全局能量函数,该函数将距离保真项和正则化项相结合,通过求解优化模型获得高分辨三维距离像。通过对仿真图像和激光雷达距离像的超分辨重构处理,以主观视觉效果和图像质量客观评价指标来验证此方法。实验结果表明,该方法提高了距离像的分辨率,且很好地保护了图像的边缘结构,在无参考图像质量评价指标上较双三次插值、引导滤波和TGV取得更优值。