高过载下电子元器件测试方法研究

高过载测试电路必须满足高速测试的特点,文中对电阻、电容、电感及二极管等电子元器件的特征参数测试的方法进行了分析,在电子元器件的高过载实验中,设计出了相应的测试电路.通过实验验证了这些测试电路能达到预期的要求,为引信系统在高过载条件下的可靠性分析打下了坚实的基础.     

无线电引信用电子元器件可靠性选用探讨

本文从引信设计理论和实践中详细阐述了引信用电子元器件可靠性选用原则:强调了引信设计必须重视可靠性筛选工作。用以剔除和防止元器件早期失效;重视继承定型引信用的可靠性元器件,确保引信可靠性水平的提高。     

某无线电引信的可靠性评估

介绍了某无线电引信的可靠性方面工作。根据弹上产品研制程序和全面质量管理的质量控制,参考国内情况进行了引信可靠性设计方面的工作,通过对产品使用的元器件可靠性优选、可靠性预计、应力筛选试验设计、研制生产故障分析及可靠性试验、计算等工作,对引信产品可靠性做出了评估。该项工作在实践中已经得到充分验证。     

引信软件可靠性测试与评估的工程技术研究

对引信软件的特点进行了分析，从可靠性指标的内涵和可靠性指标的分配、测试用例的构造、测试环境与方法、可靠性估计、可靠性增长试验及可靠性验证等方面阐述了引信软件可靠性测试与评估技术，为引信软件进行可靠性测评提供了参考。     

基于VXI总线技术的引信测试试验台

本文阐述了基于VXI总线技术的引信测试试验台原理与实现方法,该试验台已在引信设计与测试中得到了应用,在试验时工作情况良好.测试结果由理论分析与计算所证实.从而表明此试验台具有较高的可靠性和可扩展性,为引信设计和故障分析提供了直接的测试手段和物理仿真平台.     

引信起爆控制电路冗余设计技术研究

引信起爆控制电路通过对目标探测信号的处理和决策,给出发火控制信号,其可靠性直接决定了其发火可靠度,工程上大多采用直接双套并联方式进行冗余设计。针对引信起爆控制电路如何进行冗余设计问题,设计了并联冗余和非冗余两种电路,采用数理统计的方法计算了其全寿命周期可靠度,结果表明非冗余电路可靠度略高于并联冗余电路。采用故障物理方法,分别通过加速寿命试验和故障物理仿真,得出了起爆控制电路在引信服役期内的温度应力、力学环境应力、电应力下的失效寿命远大于寿命期的结论。综合数理统计和故障物理研究结果,给出了引信起爆控制电路可采用非冗余设计的建议。     

侵彻引信起爆控制电路性能样机设计方法

针对引信传统设计过程中只能在实物试验中测试验证引信性能,引信研发效率受到制约的问题,提出侵彻引信起爆控制电路性能样机的设计方法。该方法将起爆控制电路设计和验证过程中的关键特征总结为数据矩阵,以设计要求、数据和知识库作为输入,建立起爆控制电路在数字空间中的性能模型。通过建立性能样机可以快速测试在当前工况条件以及环境噪声更为复杂的工况条件下起爆控制电路的响应情况,在不需要实物试验的情况下测试选用不同元器件对起爆控制电路性能的影响,能够有效提升研发效率。     

引信常用元器件选用及降额设计讨论

降额设计是引信可靠性设计原则之一,在进行降额设计时,依据国军标GJB/Z35元器件降额准则和GJB/Z299C电子设备可靠性预计手册,尚不能完全解决引信用元器件降额到什么水平、哪个参数最有效等问题。针对此问题,以MIL-HAND-277F给出的元器件工作失效模型为基础,讨论了几种常用元器件的选用考虑及降额设计的依据。讨论可以得出:对于三极管、二极管、晶闸管、电容而言,电压降额是降低器件失效率的有效手段;对电阻、微处理器而言,功率降额是提高器件工作可靠性的手段。     

某引信电路的可靠性预计和贮存寿命分析

利用ＧＪＢ／Ｚ２９９Ａ和ＧＪＢ／Ｚ１０８分别对某无线电引信的分立元器件电路和集成电路的作用可靠性进行了预计,并对电路的贮存寿命进行了预计和对比分析。     

地空导弹引信早炸问题

近年来,地空导弹引信频繁出现早炸现象,这其中有设计缺陷带来的问题,也有可靠性问题;有元器件和电路问题,也有软件问题,引信问题直接影响到新型号武器系统的设计定型和部队战斗力的生成。鉴于此,本文结合有关部门组织的专题研讨,提出对地空导弹引信早炸问题的一些看法。一、地空导弹的工作特点对引信设计提出了很高的要求引信是地空导弹的重要组成部分,用于在导弹接近目标时,检测目标信息,按照预定     

瞬时大电流下微机电引信硅通孔封装的失效机理与实验研究

随着引信向微型化、智能化、灵巧化发展,对引信采用三维封装是实现其小型化最为前景的技术。硅通孔（TSV）是三维封装的关键技术,广泛应用在微机电系统(MEMS)的集成中,具有封装尺寸小和能量消耗低的优点。研究了一种应用于MEMS引信的TSV三维封装技术,该MEMS引信的工作模式要求TSV在引信起爆控制时的瞬时大电流冲击下,电阻改变量在规定允许的范围内。利用有限元分析软件计算TSV在瞬时大电流下的升温曲线,并进行分组实验,对TSV分别施加40 V、330 μF电容放电条件,10 V、330 μF电容放电条件和4 V、100 μF电容放电条件。通过对比仿真结果与实验结果,得到TSV的潜在的失效模式和其承载瞬时大电流的能力。通过上述结论分析得出在10 V、330 μF电容放电条件和4 V、100 μF电容放电条件下,TSV封装技术可以满足MEMS引信的正常工作。     

一种电触发引信延解电路的检测法

论文介绍了一种航空电触发引信延解电路的检测法,用于对长期贮存后的引信进行无损检测。该方法易于实现,并达到了预期的精度,是对机电类引信电路检测的一次有益尝试。     

导弹电容引信总体技术研究

结合导弹自身特点对电容引信工作原理、主要电路选择进行了阐述,并对电容引信振荡器稳定性、抗发动机尾焰干扰、整机测试等关键技术进行了分析和研究,并提出了相应的解决方案。     

基于Powell方法的引信步进应力加速寿命试验数据处理

引信的步进应力加速寿命试验数据处理的关键是其贮存寿命分布参数的估计。针对这个问题，人们提出了许多相关解决办法，但迄今为止，尚没有一种通用的、行之有效的方法。为此，尝试利用Powell方法先分别求取各级加速应力下的样品分布参数的似然估计，再结合加速方程得到常应力下引信贮存寿命分布参数。最后，通过实例说明了方法的可行性。     

FPGA在激光引信测试设备中的应用

以某激光引信内外场测试设备为背景,介绍了激光引信测试设备的工作原理和实现技术。该设备以FPGA为核心,使用VHDL硬件描述语言设计并实现了异步串行通讯、测试设备的自检、引信产品的检测等几大功能。在计算机仿真的基础上,实现了与引信产品和总控系统的连接测试,取得了较好的效果。目前,该测试设备已在某激光引信产品测试中得到应用。     

基于LabVIEW的电容近炸引信综合参数测试系统的研究

电容近炸引信的信号处理电路动态性能参数测试是产品研制、调试、生产的重要环节.研究了利用计算机、信号调理板、数据采集板和在LabVIEW平台上开发的软件构成一套完整的电容近炸引信综合参数测试系统.该测试系统针对电容近炸引信的检波放大信号、积分信号、微分信号和启动信号等技术指标进行测试和分析,从而判断电路工作情况,并给出有故障电路的故障原因.该系统有测试精度高、开发成本低、检测效率高、操作简单等优点.     

某型导弹振动中触发引信误动作故障

针对引信环境应力筛选振动试验中由于振动夹具设计不合理而造成触发引信共振,导致引信执行级误动作的故障情况进行了故障定位和分析,通过有限元仿真技术对其中的关键部件—触发开关进行了有限元仿真计算,根据计算结果采取了改进措施,并进行了试验验证。     

可编程电子时间引信保险距离动态试验方法的优化设计

针对可编程电子时间引信(简称PETF)无触发机构,不能采用传统的碰靶试验方法动态考核保险距离这一关键问题,提出了四种全新的引信保险距离动态试验方案,经优化设计形成了两种特有的动态试验方法:甲弹模拟法和电磁感应线圈法。文章着重研究这两种试验方法的原理及其实际应用问题,并经靶试验证,效果良好。     

主动式脉冲多普勒雷达引信测试设备设计

根据主动式脉冲多普勒雷达引信体制的特殊性，设计并阐述了一种采取视频脉冲延时法的引信测试设备的工作原理和应用。该系统克服了以前引信测试设备中延时无法连续可变和不能时变的缺点，能模拟弹目交会时导弹由远到近快速接近目标的距离变化过程。经实际应用后，满足引信测试要求，对设计其它脉冲多普勒体制引信测试设备有一定的参考作用。