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随机静态存储器HM628128及应用 总被引:1,自引:2,他引:1
HM628128系列随机静态存储器是日本日立公司的新产品,其容量是128K×8bit。本文介绍HM628128系列存储器的性能特点及应用。它非常适用于数据存储容量要求大于64KB、用后备电池保存存储信息的单片机应用系统中。 相似文献
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阻变存储器(RRAM)是一种基于阻值变化来记录存储数据信息的非易失性存储器(NVM),RRAM具有存储单元结构简单、工作速度快、功耗低等诸多优点,因而受到广泛关注。主要从三方面论述 RRAM的阻变特性。 相似文献
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《电子技术应用》2016,(8)
基于负阻振荡理论设计了一款X波段负阻振荡器,设计旨在提高振荡器的工作效率和加强二次谐波抑制。通过对晶体管直流偏置状态与振荡器工作效率关系的研究,选择合适的直流偏置状态提高了振荡器的工作效率。在输出匹配网络中加载一段1/8工作波长的开路线、选择一个合适的隔直电容,有效抑制二次谐波。实测结果表明,该X波段负阻振荡器振荡频率为10.81 GHz,输出功率为8.02 d Bm,二次谐波抑制度为48 d Bc,振荡器的效率为45%,偏离振荡频率100 k Hz和1 MHz处的相位噪声分别为-91.90 d Bc/Hz和-123.43 d Bc/Hz。该实测结果论证了上述设计方法的有效性,对负阻振荡器的设计提供了一定的参考意义。 相似文献
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用单片机实现可编程逻辑器件的配置 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍基于SRAM的可重配置PLD的原理;通过对多种串行配置的比较,提出单片机与存储器串行配置方式;从系统复杂度、可靠性和经济性等方面进行比较和分析。 相似文献
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针对测井仪器中高速数据缓存的问题,提出了一种基于Nios II的静态随机存储器(Static Random-Access Memory,SRAM)控制器的IP核的设计方法,详细介绍了IP核的设计和实现过程并基于一定的硬件平台对SRAM控制器IP核的稳定性进行了测试。测试结果表明,所设计的SRAM控制器IP核能够在高温环境下实现对SRAM的有效管理而且通过修改配置参数就可应用在不同位宽和容量的SRAM上且运行稳定。该设计不仅实现测井仪器中高速数据缓存的管理,也提供了一套SRAM选型测试系统。另外设计介绍的可编程片上系统(System-on-a-Programmable-Chip,SOPC)开发流程对其它SOPC系统开发也具有一定的参考价值。 相似文献
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采用分布式微带电路结构和负阻振荡法设计了频率范围为2.4—2.8GHz的压控振荡器(VCO),根据ADS软件进行建模并仿真,确定了VCO的电路参数,同时对振荡器的相位噪声和输出功率等关键参数进行了仿真优化。最终通过对实际制作出的VCO测量,验证了该模型的准确性,频段内的相位噪声达到-90dBc,Hz@10KHz,输出功... 相似文献
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图片问答是计算机视觉与自然语言处理交叉的多模态学习任务.为了解决该任务,研究人员提出堆叠注意力网络(stacked attention networks, SANs).研究发现该模型易陷入不好的局部最优解,引发较高的问答错误率.为了解决该问题,提出基于图片问答的静态重启随机梯度下降算法.实验结果和分析表明:它的准确率比基准算法提高0.29%,但其收敛速度慢于基准算法.为了验证改善性能的显著性,对实验结果进行统计假设检验.T检验结果证明它的改善性能是极其显著的.为了验证它在同类算法中的有效性,将该算法和当前最好的一阶优化算法进行有效性实验,实验结果和分析证明它更有效.为了验证它的泛化性能和推广价值,在经典的Cifar-10数据集上进行图像识别实验.实验结果和T检验结果证明:它具有良好的泛化性能和较好的推广价值. 相似文献
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SOI工艺具有内在的抗辐照能力,因此被广泛地应用于航天、军事等高可靠领域。本文基于我国目前最先进的0.5μm的PD SOI工艺设计了8Kb的SRAM,并且采用体引出、环形栅等多种技术对其进行了抗辐射加固。模拟表明该SRAM的读写时间小于20ns,50MHz下平均功耗小于55.8mW。 相似文献
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忆阻器是一种动态特性的电阻,其阻值可以根据外场的变化而变化,并且在外场撤掉后能够保持原来的阻值,具有类似于生物神经突触连接强度的特性,可以用来存储突触权值。在此基础上,为了实现基于Temporal rule对IRIS数据集识别学习的功能,建立了以桥式忆阻器为突触的神经网络SPICE仿真电路。采用单个脉冲的编码方式,脉冲的时刻代表着数据信息,该神经网络电路由48个脉冲输入端口、144个突触、3个输出端口组成。基于Temporal rule学习规则对突触的权值修改,通过仿真该神经网络电路对IRIS数据集的分类正确率最高能达到93.33%,表明了此神经系统结构设计在类脑脉冲神经网络中的可用性。 相似文献
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为满足多种存储器的测试需求,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统;系统分为上位机及下位机两个部分,其上位机部分采用LabVIEW开发测试控制器,完成系统的测试控制、测试数据的采集与存储及对传统仪器的程序控制;下位机部分采用FPGA实现测试所需要的测试激励生成,经实测验证了系统可以对专用存储器进行自动化监控测试,具有测试成本低测试灵活及可扩展性强等特点。 相似文献