首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到18条相似文献,搜索用时 125 毫秒
1.
液相沉积法制备TiO2薄膜及其亲水性能研究   总被引:6,自引:0,他引:6  
本文采用液相沉积法(LPD)制备了透明TiO2薄膜,并研究了其紫外一可见吸收性能手紫外光照射下薄膜亲水性能的变化。发现热处理前后的薄膜具有相似的紫外吸收性能,在上光照射下亲水性能都有提高,热处理后的薄膜在紫外光照射下可与水完全润湿。和X光电子能谱对薄膜表面的分析表明,热处理前后的薄膜亲水性能的差异是由于薄膜表面的Ti-O键合及TiO2成分增多,在紫外光照射下,Ti^4+变为Ti^3+并有利于水的吸  相似文献   

2.
TiO2薄膜的液相沉积法制备及其性能表征   总被引:7,自引:0,他引:7  
采用液相沉积法(LPD)制备了透明TiO2薄膜,并研究了所制薄膜的形貌、结构和在紫外光照射下亲水性能的变化.结果表明,用此法制得的TiO2薄膜较为均匀致密,热处理前后的薄膜具有相似的亲水性能,在紫外光照射下亲水性能都有提高.热处理后的薄膜在紫外光照射一定时间后可与水完全润湿.  相似文献   

3.
应皆荣  万春荣 《功能材料》1999,30(5):503-506
采用淀粉产法制备了TiO2-K2O-Y2O3-SiO2(Ti:K:Y:Si=1:0.1+0.04+0.05,摩尔比)陶瓷薄膜结露元件,研究了陶瓷粉末和薄膜的结构以及元件的感湿性能。600℃热处理后,陶瓷粉末和薄膜主要由锐钛矿型Tdisplay status  相似文献   

4.
通过 sol-gel工艺在普通钠钙玻璃表面制备了均匀透明的 TiO2/SiO2复合薄膜.实验结果表明:在 TiO2薄膜中添加 SiO2,可以抑制薄膜中 TiO2晶粒的长大,同时薄膜表面的羟基含量增加,水在复合薄膜表面的润湿角下降,亲水能力增强.当 SiO2含量为 10~20 mol%时获得了润湿角为0°的超亲水性薄膜.  相似文献   

5.
快速热处理对PZT薄膜的微结构及电性能的影响   总被引:4,自引:0,他引:4  
采用改进的溶胶一凝胶技术,在Pt/Ti/TiO2/SiO2/Si(100)基片上制备了太电PZT薄膜,用XRD和AFM技术分析了不同热处理工艺条件下PZT薄膜的微观形貌变化及相结构演化,系统测试了PZT薄膜的铁电性能。工艺-结构-性能研究结果表明:快速热处理工艺(RTA)有利于PZT薄膜保持较低的漏电流密度,热处理温度是影响晶粒大小的主要因素,而保温时间则对PZT薄膜的致密性、晶粒均匀度和晶界结合  相似文献   

6.
溶胶—凝胶法制备TiO2—SiO2复合薄膜的研究   总被引:8,自引:0,他引:8  
翟继卫  张良莹 《功能材料》1998,29(3):284-286
采用溶胶-凝胶方法在单晶Si基片上制备了TiO2-SiO2复合薄膜,研究了溶剂、pH值对先体溶液成胶时间的作用,溶液的浓度、甩胶时的旋转速度、涂覆层数以及热处理温度对薄膜厚度、光学性能的影响。薄膜的折射率随温度增大,其主要贡献来自于薄膜中结构的变化。并测量了薄膜的I-V、C-f特性,由于薄膜中的热击穿效应而使得TiO2含量较高的薄膜2的I-V呈非线性变化。  相似文献   

7.
溶胶—凝胶制备TiO2/SiO2复合薄膜的FT—IR表征   总被引:14,自引:0,他引:14  
翟继卫  张良莹 《功能材料》1997,28(5):490-491
FT-IR吸收谱用来研究具有多孔结构的TiO2/SiO2复合薄膜;薄膜在1200cm^-1有一较强的肩峰,其强度与峰位随热处理温度度而生变化。在955cm^-1的吸收峰是由于Si-O-Ti和Si-OH的结果,并随着热处理 度的提高其吸收峰完全是Si-O-Ti振动所引起的,其峰位随着TiO2的增加,向低频区域移动。  相似文献   

8.
溶胶-凝胶法制备SiO2-TiO2复合薄膜的抗刻蚀能力研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
采用Sol-Gel工艺制备SiO2-TiO2复合薄膜,研究在不同温度下薄膜对HF缓冲溶液的刻蚀能力。薄膜经800℃热处理的刻速率是200℃热处理的1/1000倍,利用这种差异,在薄膜上用激光进行致密化处理,从而形成所需的图形。  相似文献   

9.
TiO2表面超亲水性   总被引:21,自引:0,他引:21  
高铁  于向阳 《材料导报》2000,14(7):27-29
介绍了TiO2表面的超亲水性原理及提高TiO2超亲水性能的方法,并对其应用前景作了简要评述。  相似文献   

10.
热处理温度对铁电薄膜底电极Pt和Pt/Ti物相与形貌的影响   总被引:7,自引:1,他引:6  
随着热处理温度上升,在SiO2/Si衬底上溅射的Pt、Pt/Ti电极中,构成Pt薄膜的晶粒由小变大,由分布均匀到晶粒局部聚集,最后分离成小岛。Ti层可提高Pt薄膜与基片间的粘附性和高温下的稳定性。快速热处理可提高Pt薄膜在高温下的连续性。并研究了Pt薄膜对PLT铁电薄膜的成品率和分散性的影响。  相似文献   

11.
采用溶胶—凝胶法在玻璃上制备了锐钛矿型TiO2和过渡金属铁、锌离子掺杂的TiO2薄膜,并通过XRD、XPS、AFM表征了合成的薄膜.结果表明铁和锌离子掺入后,TiO2薄膜变的更加致密.铁离子和锌离子分别以Fe2O3和ZnO的形式存在.在紫外光照射下,TiO2薄膜表现明显的亲水性.金属离子掺杂的TiO2薄膜,亲水性能明显增强.铁离子掺入对光催化降解甲基橙有一定的抑制作用;少量的锌离子掺入对光催化降解甲基橙有促进作用,锌离子掺入量增大后,效果并不明显.  相似文献   

12.
直流磁控反应溅射制备IrO2薄膜   总被引:3,自引:0,他引:3  
为研究氧化铱(IrO2)对PZT铁电薄膜疲性能的影响。利用直流(DC)磁控反应溅射(sputtering)工艺成功地在SiO2/Si(100)衬底上制得了高度取向的IrO2薄膜,并在其上制成PZT铁电薄膜,讨论了溅射参数(溅射功率、Ar/O2比、衬底温度)以及退火条件对氧化铱薄膜的结晶,取向和形态的影响。  相似文献   

13.
超亲水TiO2/SiO2复合薄膜的制备与表征   总被引:21,自引:0,他引:21  
通过sol-gel工艺在普通钠钙玻璃表面制备了均匀透明的TiO2/SiO2复合薄膜,实验结果表明:在TiO2薄膜中添加SiO2,可以抑制薄膜中TiO2晶粒的长大,同时薄膜表面的羟基含量增加,水在复合薄膜表面的润湿角下降,亲水能力增强,当SiO2含量为10-20mol%时获得了润湿角为0度的超亲水性薄膜。  相似文献   

14.
Y2O3-SnO2常温气敏薄膜的Sol-Gel制备及性能研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
以无机盐SnCl2.2H2O,Y(NO3)3.6H2O为原料,无水乙醇为溶剂,采用溶胶-凝胶工艺制备了Y2O3掺杂的SnO2薄膜,采用差热-失重分析研究了Y2O3掺杂的SnO2干凝胶粉末的热分解、晶体过程。研究了Y2O3-SnO2薄膜的电学和气敏性能,从实验中得到了Y2O3掺杂份量对SnO2薄膜电学及气敏性能的影响。实验表明Y2O3掺杂的SnO2薄膜在常温下对NOx具有较好的灵敏度的选择性,并具有较好的响应恢复性能,在常温下对H2S气体也具有一定的灵敏度。  相似文献   

15.
C60薄膜的热处理性能研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
刘波  王豪 《无机材料学报》2000,15(5):957-960
通过对Si(100)衬底上C60薄膜在不同温度处理后的AES谱线性研究发现,C60分子于973K时开始分解,生成石墨类碳碎片,1073K时C原子已与Si原子键合形成SiC,1123K时C60分子全部分解,这一研究结果对解释C60分子促进金刚石成核将起到重要作用。  相似文献   

16.
锂掺杂MoO3薄膜的制备及电色性能的研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
采用过氧化氢溶胶-凝胶法成功地在室温下制备了纯的MoO3和锂掺杂的MoO3薄膜,通过TG-DTA热分析、FTIR红外光谱分析、循环伏安和光学特性的测试,研究了薄膜成膜过程中的结构墨迹过程和薄膜的电化学性能及电变色性能,结果表明通过Li^+掺杂,MoO3溶胶的稳定性和MoO3薄膜的电化学循环稳定性都有了较大的提高,且掺杂锂的MoO3薄膜仍具有良好的变色性能。  相似文献   

17.
姜东  徐耀  侯博  吴东  孙予罕 《无机材料学报》2008,23(5):1080-1084
利用钛酸四丁酯、正硅酸乙酯、乙酸和水为原料, 通过溶剂热方法制备得到SiO2/TiO2催化剂. 产物经XRD、Raman、TEM、BET、FT-IR和XPS表征, 结果表明: 所制备的SiO2/TiO2催化剂为比表面积大、结晶度高的锐钛矿TiO2, SiO2与TiO2之间通过Si-O-Ti键结合. 另外, 以亚甲基蓝降解为探针反应, 考察了SiO2/TiO2催化剂在紫外光照射下的光催化性能. 结果表明: SiO2/TiO2催化剂具有比纯TiO2更优越的光催化性能, 65min可以将亚甲基蓝(MB)彻底降解.  相似文献   

18.
傅军  董名友 《无机材料学报》2001,16(6):1255-1258
采用丝网印刷技术制备了不同膜厚SnO2厚膜气敏试样,在不同温度下进行热处理后测定了试样的阻温曲线和对乙醇气体的灵敏度,结果表明制备不同膜厚试样的气体灵敏度不同,阻温曲线也不同。要制备灵敏度、一致性好的气敏器件,调整控制膜厚和及其热处理温度至关重要。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号