痕量氢的气敏色谱分析

以气敏半导体元件为鉴定器的气敏色谱法，利用鉴定器对氢和氦、氖的不同选择性，解决了热导色谱法在一般条件下无法解决的灯泡用氩、高纯氮、纯氮中痕里氢的分析；也能分析高纯氩、氩气、氪气、氙气、氧气、空气等气体中的痕量氢，最低检出浓度为0.1ppm，就检出极限而言，比热导色谱法降低了一个数量级。样品气中氢含量为5ppm时，分析误差为10%，考察了载气的净化方法与结果。对方法的选择性、重复性、线性范围进行了试验，都得到了满意的结果。几年来的实践证明，该分析法具有选择性好、灵敏高度、操作方便、分析速度快和分析结果可靠等特点，特别适用于高纯气中痕量氢的分析。     

渗氢用钯基膜的研究现状

介绍了渗氢用钯基膜的渗氢机理、影响因素以及制备技术的进展情况.重点阐述了钯基膜的种类及其各自的应用.钯膜的发展经历了从最初的纯钯膜、钯合金膜(主要为钯银、钯钇合金)到目前备受关注并具有良好应用前景的钯及钯基复合膜(如多孔陶瓷、多孔不锈钢基体等).钯膜的合金化,不仅能提高膜的氢渗透率,而且更重要的是可以提高钯膜的抗氢脆能力,延长钯膜的寿命,扩展钯膜的适用范围.而钯复合膜的研究成功,在保证膜的机械稳定性的前提下,降低了钯膜的厚度及成本,并极大地提高了钯膜的氢渗透率.     

钯膜制备及渗氢性能研究

随着膜分离技术的不断发展,渗氢用钯基膜由于具有优异的透氢速率、透氢选择性及良好的化学和热稳定性,已被广泛应用于氢提纯分离领域。介绍了钯透氢膜的种类、透氢机理和制备方法,总结了钯膜从最初的纯钯膜、钯合金膜到钯复合膜的发展历程和氢渗透性能研究,并重点介绍了以铌钯复合膜为代表的新型Pd/bcc型复合膜氢渗透性能的研究进展。     

玻璃瓶装纯氪和纯氙中痕量杂质的氦电离气相色谱测定

一、前言 对钢瓶装正压纯氪气及纯氙气的分析，国内巳做了一定的工作，而对玻璃瓶装负压纯氪及纯氙气的分析，国内尚未见报道。     

氦放电色谱法测定高纯氢中微量氧、氮杂质

给出了氦放电色谱法测定高纯氢中微量氧、氮杂质的工作原理、气路流程和色谱图,考查了仪器鉴定性能,并同其它分析方法进行了比对,证明此方法可行。     

贮氢合金在气相色谱法测定高纯氢中痕量杂质的应用

应用贮氢合金可测定氢气中谐如氖、氩、氮、氪、甲烷和氙等痕量杂质。该系统由气相色谱仪与充填有贮氢合金的前置柱组成。在室温和载气压力下,贮氢合金有效地捕集氢。采用光电离检测器,检测极限可达:Ne、Ar、N_2、Kr、CH_4和Xe分别是4.7、0.02、0.02、0.01、0.01和0.01ppm。     

测定呼吸气中痕量氢的新式色谱仪

研制了一种比目前使用的测定呼吸气中氢的仪器有许多优点的新仪器，用来评价糖在肠内吸收的情况。该气体分析器为一种固态传感器，它测定氢比大多数常规的色谱检测器较独特，能用空气作载气，用一台小型内泵来抽空气，因此，不用大的载气钢瓶和调压器。进样间隔时间约2分钟，能快速、连续地分析呼吸样品。一种独特的性能可使短期储存电路收回信号，并在一台ppm数字式面板表上显示出氢含量。如果需要，将背面末端接记录仪，从而留下永久性记录。该气体分析器体积小，重量轻，操作简单。实验证明，它可用于连续测定糖吸收后肺泡中的氢含量。     

放电离子化二维色谱法分析高纯氢中痕量杂质

概述了放电离子化二维色谱法测定高纯氢中微量氧、氮、一氧化碳的工作原理,探讨了样品气不同流量、不同浓度通过中心切割对峰面积产生的影响,并对实验方法的可靠性进行验证。     

大气压离子质谱法测定高纯氮中痕量氧

叙述了采用ＡＰＴ－ＭＳ法测定高纯氮中痕量氧的方法。     

二氯二氢硅中痕量碳,磷杂质的测定

采用氢火焰，火焰光度检测器测定二氯二氢硅中痕量碳，磷杂质含量。     

利用脉冲放电氦电离色谱检测高纯气体中微量无机杂质

利用脉冲放电氦电离色谱检测高纯气体中的微量无机杂质是近些年刚刚发展起来的一种新方法,它具有灵敏度高和检测限低等优点,可对高纯氮气、氧气、氢气以及稀有气体氦气、氖气、氩气、氪气、氙气中无机杂质进行定量分析.本文以实验室新近购买的脉冲放电氦电离色谱为例,简单介绍原理及其操作,并通过具体实例对高纯气体中无机杂质的定量分析时可能遇到的问题进行讨论.     

直接进样的热导检测器(TCD)色谱法测定高纯氦中Ne、O2、N2

主要是通过直接进样的热导检测器色谱系统来检测高纯氦中的微量杂质(Ne、O2、N2),解决了目前高纯氦分析中始终存在的难题--氖的测定.这项工作具有技术上的突破,并且有实用、可推广的现实意义.     

高纯气体的分析——高纯气体中CO,CH4,CO2测定

０概述一氧化碳、甲烷、二氧化碳是高纯气体产品中普遍控制的杂质，通常采用气相色谱法进行测定。使用热传导鉴定器、氦离子化鉴定器、质谱鉴定器、氧化锆鉴定器等均可给出良好的测定结果，但是，目前最常用、最经济的，应属火焰离子化鉴定器。ＧＣ—ＦＩＤ方法分析ＣＯ、...     

色谱分析高纯PH3和B2H6中烃杂质的方法

本文叙述了高纯PH3和B2H6中烃杂质色谱分析的方法。分别使用A柱和B柱，对检定器有剧毒的主组份PH3和B2H6进行了切割或吸附的分离处理，烃杂质用氢焰检测器检出。可分别测出CH4，C2H4、C2H2、C3H6、C3H8等杂质，最低检测浓度为0．4ppm。给出了色谱图，提高了相应的分析流程。