Multitest发布Kelvin测试座综合教程

为全球（集成元件制造商（IDM）和最终测试分包商，提供设计和制造最终测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司，现宣布推出Kelvin教程。若要低成本测试其测量值相对于接触电阻值很敏感的元件，Kelvin测试座是不可或缺的。真正的Kelvin测试座完全消除了直流电参数测试的接触电阻误差。     

Multitest的UltraFlat^TM工艺达到高测试并行度垂直探针卡应用要求

面向世界各地的集成元件制造商（IDM）和最终测试分包商,设计和制造最终测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司,日前宣布其UltraFlatTM工艺达到高测试并行度垂直探针卡应用要求。     

Multitest设备全面支持MEMS振荡器的相关优势

面向世界各地的集成元件制造商（IDM）和最终测试分包商，设计和制造最终测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司，日前宣布其设备全面支持MEMS振荡器的相关优势。     

Multitest的Gemini Kelvin是QFN和BGA开尔文测试座的首选

面向世界各地的集成元件制造商（IDM）和最终测试分包商,设计和制造最终测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司目前宣布其Gemini Kelvin在两家长期客户迅速得到广泛应用,这两家客户均位于前25大IDM之列。     

Multitest MT9928 XM重力测试分选机被选为战略平台

面向世界各地的集成元件制造商（IDM）和最终测试分包商、设计和制造最终测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司,日前宣布其信誉卓著的MT9928XM重力测试分选机最近在半导体生产某关键厂商的广泛性评估中力挫两大竞争对手。     

优化测试合格率:Multitest的MT2168确保最佳定位精度

<正>面向集成设备制造商(IDM)和最终测试分包商,设计和制造测试分选机、测试座、测试负载板的领先厂商Multitest公司,日前宣布其MT2168拿放式分选机基于其业内领先的独特定位技术,带来显著的测试合格率优势。     

Multitest公司MT2168满足大功率应用

面向世界各地的集成元件制造商（IDM）和最终测试分包商,设计和制造测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司,宣布其MT2168拿放式分选机被一家业内领先的IDM选定为针对一款极具挑战性的电流应用的解决方案。     

Multitest在2010年SEMICON China展示最新技术

面向集成设备制造商（IDM）和最终测试分包商,设计和制造测试分选机、连接器、测试承载板的领先厂商Multitest公司,目前宣布其将在2010年SEMICON China第2663号展台展示MT2168分选机,测试座解决方案,同时介绍其ATE测试板设计服务。2010年SEMICON China展会将于3月16日至18日在上海新国际博览会中心举办。     

移动通信存储MCP器件的最终测试及其有效解决方案

分析了存储器芯片自动测试设备的一般构架、存储器件MCP最终测试的需求和特点,研究了最终测试成本的影响因素,提出了存储器件最终测试解决方案应达到的标准,进而分析了VERSATEST应用于MCP最终测试的构架优势,并深入研究了突破性关键接口技术——可编程接口矩阵(PIM)。实验表明,该解决方案可实现有效的MCP最终测试、减少测试时间、提高测试并行度,从而降低测试成本。     

Multitest的MT2168灵活测试位分布为在成本、利用率和RF应用方面带来优势

Multitest是测试分选机、测试座和负载板的设计和制造商,主要面向世界各地的IDM和测试分包商。     

Multitest最新研究表明Mercury测试座最大限度地减少焊盘磨损

Multitest公司ECT测试接口产品部目前进行了一项研究,分析了弹簧探针对电路板焊盘的影响。在半导体大规模生产测试中,控制测试系统的成本和保证其可靠性至关重要。ATE负载电路板是关键的测试单元,测试座绝对不能损坏电路板焊盘。Multitest采用扁平技术的Mercury测试座几乎消除了PCB焊盘损坏的现象。     

简述雷达装配完成后的水平调试方法

雷达作为大型结构件随着汽车到处移动,如果在装配过程中水平没有找准,将直接影响后续测试的精度。本文对雷达天线座水平误差的测量、计算分析和调整方法进行全面阐述,并用实例说明雷达天线座水平误差的标定过程,为今后雷达装配的天线座水平的测试与调整提供参考。     

Multitest发布Kelvin测试座综合教程

Multitest公司日前宣布推出Kelvin教程。若要低成本测试其测量值相对于接触电阻值很敏感的元件,Kelvin测试座是不可或缺的。真正的Kelvin测试座完全消除了直流电参数测试的接触电阻误差。将这种卓越的电气解决方案应用于集成电路测试是一个机械挑战。需要和两个电气绝缘且机械结构独立的探针相连接的测试点是微小并紧密排列的（并且正变得更小更紧密）。     

公司与新品介绍

<正>Multitest的MT2168灵活测试位分布为在成本、利用率和RF应用方面带来优势Multitest是测试分选机、测试座和负载板的设计和制造商,主要面向世界各地的IDM和测试分包商。     

Multitest：以最佳良品率来帮助客户降低成本

Multitest是一家面向全球半导体厂商提供测试分选设备的制造商,同时也是全球唯一一家能够同时提供测试分选机、测试座和ATE印刷电路板的设备企业。     

适于电路板制造的Multitest脉冲电镀工艺赢得客户赞誉

面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最终测试分包商,设计和制造最终测试分选机、测试插座和负载板的领先厂商Multitest公司,日前欣然宣布其脉冲电镀工艺在制造成本和生产周期方面具有显著优势。Multitest的脉冲电镀工艺已付诸所有主要     

某搜索雷达天线座专用检测设备设计

雷达天线座作为雷达系统重要组成部分之一，对保障雷达系统正常工作起着关键作用。为了保证雷达天线座出现故障时能够进行快速维修，本文针对某搜索雷达天线座设计了一款专用检测设备。首先通过提出该检测设备主要功能的需求，然后设计了力矩测试装置和编码测试装置等组成部件，最后进行了试验，验证了这款专用检测设备的可靠性，能够有效提高该雷达天线座的维修效率。     

薄膜晶体管液晶显示器阵列工艺最终关键尺寸测试方法研究

最终关键尺寸是评价薄膜晶体管液晶显示器产品性能的一项重要参数。本文研究了在光源照度变化的条件下得到准确的最终关键尺寸的方法。通过大量的实验测试、数据分析,并配合扫描电子显微镜(SEM)图片,确定最终关键尺寸合适的测试条件和方法。基于上述分析,选取测量值稳定的光照强度区间中心点的光照强度作为标准样品参照值,选取此时样品测试图片作为标准图片。测试结果与SEM结果进行对比,得到不同膜层测量值和真实值之间的补偿值。并通过不同尺寸产品的数据收集和分析来验证补偿值的可靠性。通过上述方法,可以极大地缩短最终关键尺寸测量的校正周期,并为今后新产品开发提供可靠的测试标准。     

CMMB完成十城市测试 收视成功率80％以上

在日前召开的2008CMMB高峰论坛上，国家广电总局电视规划院院长姜文波对CMMB测试情况进行了介绍。目前，CMMB移动多媒体广播完成了37座城市的信号覆盖，并且已经完成了10座城市的测试。“在这10座城市中，有3个城市的收视成功率在77％以上，3个城市的收视成功率在九成以上，另外4座城市的成功率在80％以上。     

LoadRunner在数据集成交换系统测试项目中的应用

为了测试Web应用系统能否达到设计的性能指标,发现系统存在的问题,使用Load Runner工具对Web应用系统进行测试,通过案例介绍了Load Runner的测试流程,通过对最终测试结果的分析,为系统质量的保障和调优提供依据,最终能够有效地诊断和解决系统性能存在的问题,从而提高系统性能的目的。