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中子能谱是中子辐射场的基本参数之一,也是确定中子比释动能和中子吸收剂量所必需的物理参量。本文介绍一种用步长加速法求解活化法测量的中子能谱的方法。该方法编程简单,可在各类微机上进行计算,使用486微机十几分钟就能获得结果。与SANDⅡ计算程序的计算结果相比,在实验误差范围内一致。 相似文献
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介绍了SPRR-300利用活化法测量堆芯相对中子注量率分布的方法,并给出了测量结果。 相似文献
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利用活化法对西安脉冲反应堆辐照腔进行了中子能谱测量。对活化片的测量数据进行了分析,发现其中一个反应道的反应率测量值不准确,并以此为切入点展开深入研究,总结出评定实验数据的定性分析方法:在有限次迭代后,通过对各反应道反应率计算值与实验值之比与1的偏离程度判断实验数据的置信度,进行实验数据取舍后再进行解谱。此外,分析了不同初始能谱对解谱结果的影响。结果表明:初始能谱与实际能谱偏差越大,共振区的截面数据对结果的影响越明显。为此,提出了一种判断初始能谱是否合适的方法。 相似文献
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由于238U裂变反应率在中国实验快堆(CEFR)中是一非常关键的指标参数,因此,在CEFR的首次物理启动工作中对其进行了实验测量。在实验过程中,利用高贫化的UO2(235U-0.002%)直接进行了238U裂变反应率的绝对测量;利用国产贫铀片(235U-0.335%)、高浓铀片(235U-90%)组合方式间接进行了238U裂变反应率的测量。给出两种方法与理论值的对比和轴向及径向的相对分布。本实验为238U裂变反应率测量提出一新的选择方案,并验证了其可靠性。 相似文献
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CFBR-Ⅱ堆中子注量测量 总被引:7,自引:0,他引:7
介绍了分别用^239Pu裂变电离室、S活化片和CR-39固体径迹探测器测量CFBR-Ⅱ堆稳定功率运行和脉冲工况运行时的中子注量的实验及结果,用S活化片测量脉冲堆裂变产额的方法和原理。 相似文献
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介绍了一种在144keV~2.5MeV具有较平坦的能量响应的银活化探测系统,它采用特殊慢化体结构.将该探测器初步应用到了12MeV LIA的中子测量中,给出了中子产额的初步结果,中子产额分布在2.6×10~9~3.7×10~9个/脉冲. 相似文献
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采用纯铜作为阈探测器检测声致核聚变产生的14 MeV中子。根据14 MeV中子与Cu的核反应,选择合适的放射性核素及其特征γ峰作为测量依据。中子辐照时间为50 min,经30 min和198 min冷却,NaI探测器分别测量了超声和非超声下活化铜片的511 keV特征γ峰计数,测量结果显示,采用短冷却时间可测得62Cu的511 keV γ特征峰,γ峰净面积计数增量ΔC均为正值,具有统计意义,在声空化条件下核反应液体中D-T反应产生的14 MeV中子发生率大于在非声空化条件下的;采用长冷却时间可测得64Cu的511 keV γ特征峰,ΔC均为正值,具有统计意义,在声空化条件下核反应液体中D-D反应产生的2.45 MeV中子发生率大于在非声空化条件下的。由此验证了声空化核效应(NEAC),并初步分析了中子成核声空化核效应的机制。 相似文献
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介绍了利用固体径迹探测器测量快裂变因子的原理、方法和实验结果。并将实验结果与理论计算结果进行了比较,两者在误差范围内相符合。 相似文献
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在中国实验快堆(CEFR)物理启动过程中,对CEFR压力反应性和流量反应性效应进行了测量研究,并进行初步的误差分析。实验中堆芯反应性测量分别使用周期法和逆动态法。实验结果表明:CEFR压力反应性为正反馈,主容器覆盖气体压力从5 kPa升高至50 kPa过程中引入约+20 pcm反应性,升、降压力过程测量结果的相对偏差小于10%;CEFR流量反应性为负反馈,一回路泵转速从150 r/min升高至989 r/min过程中引入约-49 pcm反应性,升、降流量过程测量结果的相对偏差小于10%。周期法和逆动态法的测量结果符合较好。初步误差分析的结果表明,实验结果的测量精度主要由冷却剂温度测量的精度决定。 相似文献
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为准确计算和研究中国先进研究堆(CARR)冷中子源装置氢系统的核发热和冷中子增益,建立了一整套计算方法。对参考堆的验证计算证明了该方法的正确性和有效性。对影响CARR冷中子源核发热和冷中子增益的各种因素(如慢化剂、冷包材料、冷包形状等)进行了计算和优化选择。结果表明:在核发热量较小的条件下获得了较好的冷中子增益。 相似文献
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压水堆核电厂启动过程中,次级中子源为堆外源量程探测器提供本底计数率,避免测量盲区,确保反应堆安全启动。但次级中子源的引入会为核电厂带来较大的经济和环境负担,同时也需承受次级中子源破损等带来的风险。为此,可使用受辐照燃料组件的自发裂变中子源进行替代,即无源启动方式。通过研究堆外源量程探测器计数率的理论计算方法,并基于运行电厂测量数据进行分析验证,为源量程探测器计数率的理论预估提供了较为完善的理论方法流程。本文结果可为无源启动源量程探测器计数率分析提供支持,同时也可用于次级中子源装载量或布置位置的优化分析等。 相似文献