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为进一步提高激光测长机的测量范围、测量精度及可靠性,满足装备制造产业等向大型化、高精度和可互换性方向迅速发展中对超长尺寸的计量要求,研制了一台超大量程激光万能测长机。采用花岗岩导轨做基座,激光干涉仪为标尺,设计符合阿贝原则的测轴,由气浮滑块支撑,并应用温度实时补偿技术,提高准确度和长期稳定性。对影响激光测长机测量准确度的误差进行了不确定度分析。实验结果表明,该激光测长机的测量范围达 26 m ,测量准确度达到0.3 μm+0.2×10 -6 L,k =2。 相似文献
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文章根据现有螺纹千分尺校对杆的测量方法,提出了利用自行设计的针规和针规夹具在测长机上利用激光干涉仪进行测量的设计方案,并搭建和调试校准装置,测量了螺纹千分尺校对杆的尺寸参数,采用本装置实验数据与立式光学计配量块测得的数据进行对比,两个装置测量结果误差不超过0.5 μm实验结果表明:测量装置是可行的. 相似文献
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投影式测长机分米刻度尺示值误差的校准与修理 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了投影式测长机示值误差的曲种校准方法,重点介绍了激光干涉仪校准法,以及校准过程中激光干涉仪的安装设置、光束调整的操作办法;针对校准过程中分米刻度尺乐值误差超差的问题,介绍了具体的修复方法。通过对仪器的校准与修复,有效的提高了仪器的测量准确度。 相似文献
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基准尺作为摄影测量长度基准,其精度直接影响测量结果的准确性,为了保证基准尺长度的测量精度,设计了由气体静压导轨、激光干涉仪、CCD成像系统组成的测量系统。分析了影响测量精度的因素,并对组成基准尺的标志圆成像位置、CCD相机光轴、激光干涉仪、基准尺和CCD成像系统绕自身光轴旋转的调节误差进行了计算分析,用于指导CCD成像系统、激光干涉仪和基准尺的调节。最后应用该系统对基准尺进行多次测量,结果表明基准尺长度测量的标准差可达到1 μm,满足工业摄影测量的要求。 相似文献
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分别从理论上和实验上对移动桥式三坐标测量机Z轴运动的动态误差进行了分析,对Z轴进行了力的分析。用激光干涉仪对Z轴运动时的主要动态误差进行了测量,指出了此时影响动态误差的因素。提出了改进移动桥式三坐标测量机设计的措施,为移动桥式三坐标测量机实现高速测量状态下的高精度提供了依据。 相似文献
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半导体激光端点测长干涉仪实验系统 总被引:2,自引:1,他引:1
半导体激光端点干涉测长法是利用半导体激光频率调制特性的一种在长度的两个端点干涉测量长度的新方法。本文介绍基于这种测长方法研制的半导体激光端点测长干涉仪实验的基本原理,构成,定标方法和测量结果。 相似文献
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激光干涉仪具有测量分辨力高、测量结果可溯源等优点,在纳米测量中的应用日益广泛。介绍纳米测量机和低膨胀材料线膨胀系数测量装置中应用的迈克尔逊型激光干涉仪以及在高准确度位移测量装置中应用的法布里-珀罗型激光干涉仪,并结合这些实例对激光干涉仪光学系统设计、测量环境控制、迈克尔逊干涉仪非线性误差补偿以及法布里-珀罗干涉仪量程扩展等方面的关键问题进行分析和总结。所述原则和方法对实现纳米级测量准确度具有重要意义,可为高准确度激光干涉仪的研制及其在纳米测量中的更广泛应用提供技术参考。 相似文献
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描述了一台能够对长度达1m的线纹尺和长度达2m的光栅尺(线位移传感器)进行测量的激光干涉仪,干涉仪设计成了双干涉光路系统,以消除光栅尺安装引入的阿贝误差,这台测量仪采用干涉条纹计量原理,对光栅尺和线纹尺的线值精度进行检测,并能对光机信号的质量进行评价。测量过程中,对空气折射率实现了实时修正。 相似文献
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为实现激光棒透射波前的测量,改善一般泰曼型或斐索型干涉仪测量小口径激光棒透射波前时的边缘衍射效应,研究了一种变倾角移相马赫-曾德尔干涉仪。通过调整移相反射镜的倾斜姿态,改变入射到马赫-曾德尔干涉光路的光束倾角,参考光束与测试光束的光程差随之变化,从而在相干光之间引入相移,实现了相移干涉测量。利用该干涉仪测量一根口径为Ф6 mm、长度为60 mm激光棒(Nd:YAG)的透射波前,测量结果的峰谷值(PV)为0.391λ,均方根值(RMS)为0.056λ;使用ZYGO激光干涉仪测量同一根激光棒,其透射波前的峰谷值(PV)为0.370λ,均方根值(RMS)为0.064λ。对比结果表明该干涉仪能实现光学元件透射波前的高精度检测,测试结果的一致性验证了该方案的可行性。该变倾角移相方法具有较高的移相精度和较大的移相范围,且该变倾角干涉系统中光束仅一次透过待测激光棒,可有效抑制多光束干涉现象,改善小口径激光棒的边缘衍射效应。 相似文献