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在威盛的推波助澜下,PC133结构的主机板逐渐成为市场主流,而英特尔BX芯片组的下一代,820芯片组现在也将要面市,到底这两个新时代芯片组有何差异,对未来主机板规格会有什么影响?请看以下的介绍。 相似文献
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《电子测试》2001,(5):78-79
目前已发布可支持DDR结构的芯片组分为两大类,一类是支持AMD Athlon、Duron系列微处理器,包括威盛Apollo KT266、ALi MAGiK 1与AMD 760.另一类是支持英特尔PⅢ系列微处理器,但芯片组只有一种,就是威盛Apollo Pro266.现在市面上可看到的DDR结构的主板,应该是使用AMD760、ALi MAGiK 1两种芯片组的产品,且为数不多,只有华硕、技嘉、微星、艾崴等几家厂商推出.但这次采用Apollo Pro266芯片组的主板,可以说是许多主板厂商大力推动的产品,有相当多的产品将在不久以后推出.在我们文章中虽然只报导了6款产品,但相信不久以后,读者就会看到更多的产品. 相似文献
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Intel820 芯片组是让PentiumⅡ 和PentiumⅡ 处理器运行在100/133MHz 下得到最佳性能的理想选择。它包含三个主要的部分内,存控制中心{Memory Con-troller Hub(MCH)},输入输出控制中心{I/O Control-ler Hub(ICH)}和固件中心{Firm ware Hub(FWH)}。Intel820 利用MCH 代替Intel810 的显示和存储控制中心{GMCH(Graphicsand Memory Controller Hub)},但也继续沿用ICH 作为其I /O 控制器,和FWH 配合来适应未来的适应安全和易管理性的PC 的基础平台。与Intel810 相比较,Intel820 去掉了集成的显示控制芯片,支持A G P2.… 相似文献
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近年来随着整合芯片组的持续升温,各大芯片厂家纷纷加紧研制自己的整合芯片组,最近威盛电子(VIA)与著名的显示芯片生产商S3合作,开发出了Slotl架构的SavageNB芯片组。SavageNB芯片组是以威盛电子原有的Slotl架构的ApolloPro芯片组为核心,将S3最新推出的显示芯片Savage4和帧缓冲器集成在ApolloPro芯 相似文献
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4月26日,英特尔发布了首款专门针对低价电脑市场的整合型芯片组810。英特尔副总裁RonSmith宣称,810芯片组整合了非常逼真的“软音效”和“软Modem”以及3D图形显示功能,并可支持DVD播放功能,非常适于与赛扬处理器搭配。这种整合型的产品,使产品推出和设计方面都更加简单容易。在过去的一年里,英特尔发布了众多的系统核心逻辑芯片组,如用于占领低端市场的440LX、440EX、MOZX以及用于主流桌面市场的MOBX等。虽然它们无论从名字还是性能上都存在着或多或少的差别,但是它们都使用了AGP总线来改善PC机在视频、图形方面的表现,… 相似文献
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杭州国芯科技有限公司 《中国集成电路》2007,16(7):30-31
杭州国芯科技有限公司创立于2001年,专业从事数字电视及音视频电子产品的集成电路设计、应用方案开发和芯片销售,为数字电视及相关的整机和关键部件生产厂商提供具有市场竞争力的核心芯片。 相似文献
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Inte1820芯片组是让PentiumⅡ和PentiumⅢ处理器运行在100/1 33MHz下得到最佳性能的理想选择.它包含三个主要的部分,内存控制中心{Memory Con-troller Hub(MCH)},输入输出控制中心{I/O Control-ler Hub(ICH)}和固件中心{Firm ware Hub(FWH)}.Inte1820利用MCH代替Inte1810的显示和存储控制中心{GMCH(Graphicsand Memory Controller Hub)},但也继续沿用ICH作为其I/O控制器,和FWH配合来适应未来的适应安全和易管理性的PC的基础平台.与Inte1810相比较,Inte1820去掉了集成的显示控制芯片,支持AGP2.0规范,并且特别发展了对RDRAM(Rambus DRAM)存储器的支持.RDRAM是一种内存新技术的名称,它能运行在比S D R A M(Synchronous DRAM)更高的令人注目的频率上. 相似文献
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多芯片组件测试方法 总被引:1,自引:0,他引:1
董志凌 《电子工业专用设备》1994,23(4):50-57
由于每个组件的独特设计,多芯片组件(MCM)的测试不仅涉及到MCM硬件测试,而且还涉及到每个设计的电、热性能的分析评估。在制做MCM之前,评估其预定性能需进行综合分析。MCM测试方法包括一个原理简图、组件模拟、结构设计的CAD接口系统和一个既能提供专门功能AC测试能力,又能对各个设计的电、热性能进行分析的测试程序。MCM界所面临的最大问题之一是使用外购芯片。当使用外来芯片或代理商提供的芯片时,会带来芯片测试精度及预测组件合格率等诸多问题。一旦高级的MCMs采用现代工艺开发成功,那么必须建立起分选高级芯片的各种测试方法。本文讨论了对现存的MCM测试进行确定和检验的测试装置并,有助于解决未来MCMs测试所需的方法。 相似文献