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Virtex-5系列芯片没有官方提供的专用软错误缓解(Soft Error Mitigation,SEM)IP核,需自行设计故障注入系统.本文选用XC5VFX130T型现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)芯片利用单帧部分重构功能达到等同于SEM IP故障注入效果,实现对FPGA电路系统的抗单粒子翻转能力评估测试.利用逐位注入故障模式对XC5VFX130T型FPGA的配置位逐个注入故障,获得待评估电路的敏感配置位信息;对待测电路进行三模冗余防护加固,利用累积故障注入模式连续随机注入模拟单粒子辐照试验环境,得到待评估电路的功能中断截面,进而实现对基于XC5VFX130T型FPGA系统的抗单粒子翻转加固效果的评估.研究表明,基准电路(移位寄存器链等)评估得到的功能中断截面与实际辐照试验中的功能中断截面曲线变化一致,为机载电子的单粒子效应适航评估提供了支持. 相似文献
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基于库替换技术的单粒子效应故障注入仿真 总被引:3,自引:2,他引:1
提出了一种新的故障注入仿真方法,研发了故障单元库替换仿真工艺库技术,与以往方法相比,该技术可以方便快速地在目标电路的所有节点上注入故障来模拟SEE,因而更贴近实际物理过程,仿真结果可以得到所有节点的敏感度信息并评价电路总体抗SEE性能,供初期芯片设计人员参考改进.同时利用C#程序和FPGA硬件加速仿真,使得故障注入更加便捷高效,注入速度达到了8.03 μs/fault. 相似文献
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雷达检测平台故障注入系统研究与设计 总被引:1,自引:1,他引:0
应用故障注入方法对系统进行检测是提高系统可靠性的有效途径。针对某型雷达检测系统的特点,通过对故障注入技术的研究,设计出相应的故障注入系统,给出一套完整的故障注入系统框架和软件总体的功能设计,基于集成度高、体积小的单片机系统,可对雷达检测装备系统的容错能力进行考查和验证。该系统可成功注入故障,具有操作简单、实时注入、性价比高、机动性好等突出优点。 相似文献
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在装备测试性验证过程中,故障注入是一项关键技术。针对于装甲装备测试性设计不足的情况,利用已有实验条件,通过对电路中故障进行分类,设计实现了对应的模拟故障板,对某型坦克炮控系统中的电路板进行了故障注入,用故障检测设备检测到故障的存在,通过分析测试性验证数据,为装备BIT研究以及测试性设计的提高提供了依据。 相似文献
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基于静态随机存储器的现场可编程逻辑门阵列应用于航天电子系统时,易受到单粒子翻转效应的影响,存储数据会发生损坏。为评估器件和电路在单粒子翻转效应下的可靠性,提出一种基于TCL脚本控制的故障注入系统,可在配置码流层面模拟单粒子翻转效应。介绍了该故障注入系统的实现机制和控制算法,并将该软件控制方法与传统硬件控制方法进行对比分析。设计了一种关键位故障模型,从设计网表中提取关键位的位置信息,缩小了故障注入的码流范围。在Virtex-5开发板XUPV5-LX110T上的故障注入实验表明,该故障注入系统能有效模拟单粒子翻转效应,与传统随机位故障注入相比,关键位故障注入的故障率提高了近5倍。 相似文献
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研究了一种利用EDA软件来进行电路故障注入仿真分析的方法,对故障检测率进行了估算.以某型导弹的舵机控制电路为例,进行了验证.结果表明,该方法对提高系统的测试性有一定的实用价值. 相似文献