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引言一般说来,集成电路的可靠性问题是指用户通常不可能肯定某种器件在装备之前在使用环境中具有所要求的平均故障时间。根据失效物理学原理,保证集成电路可靠性有两种方法,这两种方法可以预料与识别在环境应力之下缺陷和失效机理,并有两种结果:其一,能选择装配前的应力,当把这应力加到器件上时,将会显示出缺陷和失效机 相似文献
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介绍了一种电子元器件失效分析方法,给出了失效器件失效的统计要素,并对失效要素进行分析、研究失效模式与失效机理,找出失效原因,找到生产过程中的薄弱环节,制定相应措施,及时有效预防器件的再次失效,提高电子元器件的使用可靠性,进而提高整机可靠性,以较小的质量成本获取较高的经济效益,避免产品出现重复性问题,最终达到控制质量成本的目的。 相似文献
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以FOO7模拟集成电路作为实例,运用资料[1,2,3]中介绍的曲线轨迹失效分析方法,对不合格品的失效原因进行分析,以便反馈给生产线改进工艺,提高产品合格率和可靠性. 相似文献
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GaAs微波单片集成电路的主要失效模式及机理 总被引:6,自引:1,他引:6
黄云 《电子产品可靠性与环境试验》2002,(3):9-14
从可靠性物理角角度,深入分析了引起砷化镓微波单片机集成电路(GaAs MMIC)退化或失效的主要失效模式及其失效机理,明确了GaAs MMIC的可靠性问题主要表现为有源器件、无源器件和环境因素等引入损伤退化,主要的失效部位是MMIC的有源器件。 相似文献
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在电视机电路中,行输出晶体管容易发生突然失效,它直接影响整机的可靠性.弄清这个问题,对于改进器件和线路的可靠性设计是十分必要的.本文介绍了行输出晶体管的失效现状,对失效机理和对策方面作了初步的研究,以提供给整机和器件制造者作参考. 相似文献
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基于失效机理的半导体器件寿命模型研究 总被引:1,自引:0,他引:1
微电子技术的发展使得集成电路的可靠性愈来愈重要,为了在较短的时间内得到产品可靠性数据,使用加速寿命试验是十分有效的方法.而使用加速寿命试验进行可靠性分析,关键是能够得到合适的寿命模型.不同的失效机理对器件寿命的影响是不同的.详细考虑了半导体器件的3个主要失效机理:电迁移、腐蚀和热载流子注入的影响因素,介绍了相应的寿命模型,并且通过具体的数据计算所得到的加速因子,对半导体器件在不同状态下的寿命情况进行了比较. 相似文献
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寿命试验常被用来评估集成电路等半导体器件的可靠性,为了节约试验时间,常采用加速寿命试验方法去评估集成电路产品的工作寿命。采用基于可靠性手册中器件失效率历史数据和基于失效物理模型两种方法对接口混合集成电路的长期工作寿命进行了预计及验证。首先,通过接口混合集成电路产品多批次寿命可靠性试验的历史数据计算出了电路工作寿命;然后,基于可靠性手册中器件失效率的历史数据、模型及其使用特性要素计算出产品的工作寿命。结果表明,两者较为接近;从而证明该类混合集成电路在加速寿命试验数据不够的情况下,采用基于可靠性手册中器件失效率数据对其进行寿命预测是可行的,为接口混合集成电路长期工作寿命评估提供了一定的参考。 相似文献
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随着微电子业的飞速发展,失效分析广泛应用于宇航、工业、军品和民用产品中。失效分析是对失效器件进行分析检查,找出失效发生的原因,从而为改进、提高器件可靠性指明方向,在可靠性工程中具有重要的作用。 相似文献
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本文在介绍了大规模集成电路可靠性重要意义的基础上,阐明影响其可靠性的若干因素。并着重研究和分析了大规模集成电路尤其是超大规模集成电路的失效机理。 相似文献
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Wang Changhe 《微纳电子技术》1995,(3)
本文扼要介绍了近5年来我国在微电子器件(半导体分立器件及集成电路)可靠性研究方面所取得的进展与成果及存在的问题。预计今后5~10年内,我国微电子器件可靠性研究工作将在5个方面展开,器件可靠性水平将提高1~2个数量级。 相似文献
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ESD现象产生的原因主要是两个物体发生直接接触或者静电场感应,由于它们的静电势不同,从而引起静电荷的传输。ESD的失效模式主要有突发性完全失效和潜在性失效。家用影音设备中ESD现象将导致器件的使用可靠性和抗静电能力下降。家用影音设备集成电路ESD防护设计的重点包括选择合适的ESD防护器件、精简和紧凑的设计、低电容优化和提升响应速度。 相似文献
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微电子器件可靠性研究与展望 总被引:1,自引:0,他引:1
本文扼要介绍了近5年来我国在微电子器件(半导体分立器件及集成电路)可靠性研究方面所取得的进展与成果及存在的问题。预计今后5 ̄10年内,我国微电子器件可靠性研究工作将在5个方面展开,器件可靠性水平将提高1 ̄2个数量级。 相似文献
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王博 《电子产品可靠性与环境试验》2007,25(3):15-17
通过研究真空电子器件可靠性的国内外动态,发现国产真空电子器件的可靠性与国际先进水平相比还存在较大的差距.为了寻找改进的切入点,从器件结构和使用环境两方面讨论了国产真空电子器件的常见失效模式及其失效原因,为进一步地开展国产真空电子器件的可靠性研究进行有益的探索. 相似文献
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