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对生产实践中釉面产生棕眼和釉泡的原因进行了分析,找出了产生棕眼和釉泡的原因—— S O24 的高温分解,并找出了解决的办法。提高了产品的合格率,创造了一定的经济效益 相似文献
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实践中陶瓷的缺陷除了开裂和变形之外,其余几乎都发生在釉面上。釉面常见缺陷有釉泡、开裂等。形成釉缺陷的主要原因在于釉形成的全部过程中,即在原料、调制、施釉、整修以及烧成等工序中均有可能。从物理方面看,与细度、混合状态、熔化、分解、化学反应、粘度、表面张力等均有关系。 一、釉面缺陷的原因 1.釉泡产生的原因。 在烧成过程中,坯体氧化不充分引起釉泡。在釉熔化前,坯体中有机物燃烧、分解,还有碱土金属碳酸盐和金属碳木酸盐、硝酸盐、硫化物、氢氧化物、硫酸盐、氟化物及某种金属氧化物等的分解,都产生气体… 相似文献
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通过分析灰釉产品伞边缘和主体釉泡产生的原因,从釉料配方、成型、上釉等方面提出了解决的方法。通过调整釉料配方,降低釉的高温粘度,确定合适的淋釉机转速(29~33r/min),确定合适的比重(1.73±0.01 g/cm3),最终消除了产品起泡的现象。 相似文献
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绝缘子产品的可靠性(续二) 总被引:1,自引:0,他引:1
绝缘子产品的可靠性(续二)丘志贤(西安电瓷研究所西安710077)(上接《电瓷避雷器》1995年第2期第21页)3交流系统用瓷或玻璃绝缘子失效原因分析影响绝缘子寿命的原因来自设计、制造、运输、贮存、安装、运行和维护等各个方面。图3示出了绝缘子的主要老... 相似文献
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对线路柱式绝缘子窑后出现断裂、桔釉和色不均缺陷的原因进行了探讨,提出解决这三大缺陷的办法,从而提高了该产品的瓷检合格率。 相似文献
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釉面缺陷主要有缺釉、釉薄、釉粘、釉脏、釉磕、滚釉、釉炸、釉缕、桔釉、釉泡、剥釉、蹭釉、划釉、釉面无光等缺陷,共计21种。这些缺陷中又以缺釉、釉薄、滚釉、釉缕、釉泡、釉炸较常见。因篇幅所限,只简要地介绍这6种常见缺陷造成的原因和克服方法。一、缺釉。这种缺陷主要表现在釉面局部缺釉,使坯体露出,影响产品外观质量。造成这种缺陷的主要原因有:1.釉浆太细,釉浆 相似文献
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本文介绍一种瞬态热模型,它可以预测六片半导体绝缘子串的时间温度曲线。模型的输入信息由电压和釉的电阻温度系数及绝缘子的外形尺寸组成。热传递过程的分离模型均考虑到了釉对单个绝缘子电容的影响、沿绝缘子串的电压分布以及由于传导、对流和辐射产生的热流。为了预告绝缘子的温度与时间的函数关系,对由此产生的复杂微分方程组采用通常的解法。 相似文献
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国外半导体釉绝缘子发展概况 总被引:1,自引:0,他引:1
为了更好地发展我国的半导体釉绝缘子,我们遵照毛主席关于“洋为中用”的教导,将所能收集到的一些国外资料作一综合报道。由于阅读资料有限,水平很低,错误之处,请予指正。一、引言普通釉(绝缘釉)高压绝缘子在运行中存在着两个缺点:一是绝缘子在污秽且潮湿的条件下(雾、露、毛毛雨、溶雪),常产生局部 相似文献
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绝缘子产品的可靠性(续四)丘志贤(西安电瓷研究所西安710077)(上接《电瓷避雷器》1995年第4期第28页)5实验室加速寿命试验绝缘子实验室加速寿命试验方法比较少,下面仅举出国外一些加速寿命试验的例子。5.1法国早先的线路绝缘子加速寿命试验根据法... 相似文献
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这是一篇综述。它较详细地介绍了国内外使用半导体釉绝缘子的情况及半导体釉绝缘子的污秽耐受、电压分布和无线电干扰等特性优于普通釉绝缘子的情况,论述了三种类型半导体釉的特点。作者根据国内外经验,认为锑锡型半导体釉比较好。 相似文献
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绝缘子产品的可靠性(续五)丘志贤(西安电瓷研究所西安710077)(上接《电瓷避雷器》1995年第5期第34页)7.3直流线路盘形悬式瓷或玻璃绝缘子失效机理直流线路上盘形悬式瓷或玻璃绝缘子失效的机理很多,下面举出几个被有关实验室证实过的失效机理。7.... 相似文献
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<正> 半导体釉绝缘子的试运行(有时称为稳定绝缘子),不仅能够确定对釉的理化性能要求,而且可以确定对绝缘子的结构,以及对其制造工艺的要求。实践证明,输电线路绝缘子的运行可靠性和稳定性既决定于半导体釉的性能,也决定于绝缘部件(瓷件)的结构形状,绝缘子串每片绝缘子的电阻与规定值的偏差,施釉厚度以及釉与绝缘子的金具(钢帽和钢脚)之间电接触的可靠性等。 相似文献
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绝缘子产品的可靠性(续一)丘志贤(西安电瓷研究所西安710077)(上接《电瓷避雷器》1995年第1期第32页)2.4我国盘形悬式和棒形支柱绝缘子失效调查本节数据来自作者几年前的调查资料[3,4]。数据中失效判据为:(1)对盘形绝缘子元件为体积电阻<... 相似文献
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为了解决输电线路用绝缘子表面因湿润而引起的闪络问题,研制了半导体釉绝缘子。这里着重介绍目前较为广泛应用的氧化锡系半导体釉。这种半导体釉具有一定的化学稳定性,可防止绝缘子表面附着水分,及其表面放电而引起的劣化现象。 相似文献